[發明專利]電路裝置、電光裝置、電子設備和移動體

有效

• 申請號: 201910445366.2
• 申請日: 2019-05-27
• 公開（公告）號: CN110543378B
• 公開（公告）日: 2023-07-11
• 發明（設計）人: 石川淳
• 申請（專利權）人: 精工愛普生株式會社
• 主分類號: G06F11/10
• 分類號: G06F11/10;G06F11/30
• 代理公司: 北京三友知識產權代理有限公司 11127
• 代理人: 李慶澤;鄧毅

電路裝置、電光裝置、電子設備和移動體。能夠在電路裝置內生成用于檢測非易失性存儲器所存儲的數據的錯誤的錯誤檢測用數據。電路裝置(100)包含：接口電路(120)，其接收設定數據；以及控制電路(110)，其根據設定數據控制電路裝置(100)的動作，并且控制對非易失性存儲器(10)的訪問。控制電路(110)根據接口電路(120)接收到的設定數據生成錯誤檢測用數據，將設定數據與錯誤檢測用數據寫入非易失性存儲器(10)。

技術領域

本發明涉及電路裝置、電光裝置、電子設備和移動體等。

背景技術

作為檢查數據的錯誤的方法，例如，已知有CRC(Cyclic?Redundancy?Check)或校驗和等方法。在這些方法中，通過對根據原始數據而運算出的檢查碼的期望值與根據錯誤檢測對象的數據而運算出的檢查碼進行比較，判定二者是否一致。

專利文獻1公開了將這樣的錯誤檢測方法應用于非易失性存儲器的現有技術。在專利文獻1中，在液晶顯示裝置的外部設置有ROM，該ROM中存儲有控制數據和檢查碼的期望值。液晶顯示裝置具有控制裝置，該控制裝置將設定數據從ROM加載到設定寄存器中。控制裝置根據設定寄存器所存儲的設定數據運算檢查碼。然后，在設定寄存器的電源用電壓進行了脫離規定的允許條件的變動的情況下，控制裝置對通過運算而求出的檢查碼與從ROM讀出的檢查碼的期望值進行比較，由此，進行錯誤檢測。

專利文獻1：日本特開2011-164708號公報

在檢測非易失性存儲器所存儲的數據的錯誤時，如上所述，預先使非易失性存儲器存儲檢查碼。但是，在專利文獻1中，沒有公開如何準備了要存儲到非易失性存儲器中的檢查碼。在專利文獻1中，未采用控制裝置將數據寫入非易失性存儲器的結構，因此，可認為在控制裝置的外部運算檢查碼，將該檢查碼與設定數據一起寫入非易失性存儲器。這樣，在專利文獻1中，在將設定數據寫入非易失性存儲器時，需要在控制裝置的外部運算檢查碼，過程變得復雜。

發明內容

本發明的一個方式涉及電路裝置，其包含；接口電路，其接收設定數據；以及控制電路，其根據所述設定數據控制所述電路裝置的動作，并且控制對非易失性存儲器的訪問，所述控制電路根據所述接口電路接收到的所述設定數據生成錯誤檢測用數據，將所述設定數據和所述錯誤檢測用數據寫入所述非易失性存儲器。

此外，在本發明的一個方式中，也可以是，所述控制電路包含運算部，所述運算部根據所述接口電路接收到的所述設定數據生成所述錯誤檢測用數據。

此外，在本發明的一個方式中，也可以是，所述電路裝置包含寄存器，所述接口電路將接收到的所述設定數據寫入所述寄存器，所述控制電路根據寫入所述寄存器的所述設定數據，生成所述錯誤檢測用數據。

此外，在本發明的一個方式中，也可以是，所述控制電路從所述非易失性存儲器讀出所述設定數據和所述錯誤檢測用數據，根據從所述非易失性存儲器讀出的所述設定數據，生成用于與所述錯誤檢測用數據進行比較的比較用數據。

此外，在本發明的一個方式中，也可以是，所述控制電路進行所述錯誤檢測用數據與所述比較用數據的比較。

此外，在本發明的一個方式中，也可以是，所述控制電路包含比較部，所述比較部進行所述錯誤檢測用數據與所述比較用數據的比較。

此外，在本發明的一個方式中，也可以是，所述控制電路根據所述比較的結果輸出錯誤檢測信號。

此外，在本發明的一個方式中，也可以是，所述控制電路對所述比較的結果不一致的次數進行計數，在計數值為n時，輸出錯誤檢測信號，其中，n為1以上的整數。

此外，在本發明的一個方式中，也可以是，電路裝置包含所述非易失性存儲器。

此外，在本發明的一個方式中，也可以是，電路裝置包含驅動電路，該驅動電路對電光面板進行驅動，所述設定數據是設定驅動電路使用的電壓的數據。