[發(fā)明專利]針對去斜線性調頻回波信號的低采樣率等效仿真方法及系統(tǒng)有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201910441645.1 | 申請日: | 2019-05-24 |
| 公開(公告)號: | CN110045344B | 公開(公告)日: | 2021-04-27 |
| 發(fā)明(設計)人: | 陳旭陽;沈方芳;白博文;劉彥明;李小平 | 申請(專利權)人: | 西安電子科技大學 |
| 主分類號: | G01S7/40 | 分類號: | G01S7/40 |
| 代理公司: | 西安知誠思邁知識產權代理事務所(普通合伙) 61237 | 代理人: | 閔媛媛 |
| 地址: | 710126 陜西省*** | 國省代碼: | 陜西;61 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 針對 斜線 調頻 回波 信號 采樣率 等效 仿真 方法 系統(tǒng) | ||
1.一種針對去斜線性調頻回波信號的低采樣率等效仿真方法,其特征在于,具體按照以下步驟進行:
S1,將低采樣率去斜等效回波仿真信號初始化為零,根據待仿真雷達信號帶寬和去斜后帶寬設計出具有去斜后帶寬的低采樣率發(fā)射信號,記為見式(1);
其中,Au(t)為發(fā)射信號的幅度包絡信號,f0為載波頻率,ΔB=B-B',B表示待仿真信號帶寬,B'表示去斜帶寬,ΔB表示去斜后帶寬,T為發(fā)射信號脈寬,t為時間變量,j為虛數(shù)單位,exp()為指數(shù)函數(shù);
S2,結合低采樣率雷達發(fā)射信號,根據待仿真回波中每個散射點的時延、幅度及多普勒頻率信息得到該散射點對應的低采樣率回波分量;
S3,利用去斜修正公式得到該散射點的去斜修正項,將該去斜修正項與低采樣率回波分量相乘得到該回波分量的去斜線性調頻等效信號;
S4,遍歷低采樣率發(fā)射信號對應的待仿真回波中所有散射點,將所有回波分量的去斜線性調頻等效信號相疊加得到最終的低采樣率去斜線性調頻等效回波信號;
所述步驟S2中,所得到的第i個散射點所對應的低采樣率回波分量標記為rs(i)(t),見式(2);
Ai為第i個散射點所對應回波分量的幅度值,τi為第i個散射點所對應回波分量的時延值,i=1,2,...,N,N為散射點個數(shù),exp()為指數(shù)函數(shù),fd(i)為第i個散射點對應的多普勒頻率,t為時間變量;
所述步驟S3中,去斜修正項,見式(3):
其中,rc(i)(t)表示針對第i個散射點對應回波分量的去斜修正項,B'表示去斜帶寬,ΔB表示去斜后帶寬,τb為去斜基準參考時延,t為時間變量,j為虛數(shù)單位。
2.根據權利要求1所述的一種針對去斜線性調頻回波信號的低采樣率等效仿真方法,其特征在于,所述步驟S4中,最終的低采樣率去斜線性調頻等效回波信號表示為:其中,N為散射點個數(shù)。
3.根據權利要求2所述的一種針對去斜線性調頻回波信號的低采樣率等效仿真方法,其特征在于,所述步驟S4中,最終的低采樣率去斜線性調頻等效回波信號的離散信號形式表示為:其中,m=0,1,2,...為離散采樣序號,fs為采樣率,fs>ΔB,ΔB表示去斜后帶寬。
4.一種針對去斜線性調頻回波信號的低采樣率等效仿真系統(tǒng),其特征在于,采用如權利要求1-3任一項所述針對去斜線性調頻回波信號的低采樣率等效仿真方法,包括:
低采樣發(fā)射信號獲取模塊,用于根據待仿真雷達信號帶寬和去斜后帶寬仿真出具有去斜后帶寬的低采樣率雷達發(fā)射信號;
低采樣率回波分量獲取模塊,用于結合仿真的低采樣率雷達發(fā)射信號,根據待仿真回波中每個散射點的時延、幅度及多普勒頻率信息獲得該散射點對應的低采樣率回波分量;
去斜線性調頻等效信號獲取模塊,用于根據去斜修正公式得到該散射點的去斜修正項,將該去斜修正項與低采樣率回波分量相乘得到該回波分量的去斜線性調頻等效信號;
低采樣率去斜線性調頻等效回波信號獲取模塊,用于遍歷仿真的低采樣率發(fā)射信號對應的待仿真回波中所有散射點,將所有回波分量的去斜線性調頻等效信號相疊加得到最終的低采樣率去斜線性調頻等效回波信號。
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