[發明專利]一種驅動晶體管的閾值電壓偵測方法及裝置、顯示裝置

有效

• 申請號: 201910434098.4
• 申請日: 2019-05-23
• 公開（公告）號: CN110164342B
• 公開（公告）日: 2022-07-12
• 發明（設計）人: 楊波;梁鵬飛
• 申請（專利權）人: 深圳市華星光電半導體顯示技術有限公司
• 主分類號: G09G3/00
• 分類號: G09G3/00;G09G3/3208
• 代理公司: 深圳翼盛智成知識產權事務所(普通合伙) 44300
• 代理人: 黃威

本申請公開了一種驅動晶體管的閾值電壓偵測方法及裝置、顯示裝置，所述方法包括：依次獲取驅動晶體管組件在不同驅動數據驅動下的初始閾值電壓集；每獲取一次初始閾值電壓集，則根據對應的驅動數據對本次初始閾值電壓集中的初始閾值電壓進行篩選；將篩選后的所有初始閾值電壓集進行合并，獲得M個初始閾值電壓；將同一顯示裝置或同一顯示裝置中同一區域中的驅動晶體管分多次偵測獲取初始閾值電壓集，相鄰兩次驅動中，后一次驅動數據大于前一次驅動數據，相當于增大了閾值電壓的偵測范圍，將每次獲取的初始閾值電壓集通過篩選和合并后作為最終的偵測結果輸出，從而提高了偵測的準確度，減少超出偵測范圍的閾值電壓，進而能有效的進行閾值電壓補償。

技術領域

本申請涉及顯示面板技術領域，尤其涉及一種驅動晶體管的閾值電壓偵測方法及裝置、顯示裝置。

背景技術

隨著顯示技術的發展，目前，對于同一顯示裝置而言，在外部補償的Vth/K偵測中，會設置統一的ADC偵測范圍(即ADC的VREF電壓在偵測前已固定)。然而，由于DTFT的自身缺陷或是其他外界因素的影響，會造成整個面板Vth的范圍超出ADC設置的采樣范圍(采樣點電壓過高或過低均為超范圍)，此時超范圍的電壓就造成數據溢出，ADC將輸出錯誤的采樣電壓值，影響補償效果，造成顯示畫面不均勻。

發明內容

本申請實施例提供一種驅動晶體管的閾值電壓偵測方法及裝置、顯示裝置，以解決ADC偵測范圍固定(驅動數據固定)造成的數據溢出、補償效果不佳的問題。

本申請實施例一方面提供了一種驅動晶體管的閾值電壓偵測方法，包括：

依次獲取驅動晶體管組件在不同驅動數據驅動下的初始閾值電壓集；相鄰兩次驅動中，后一次驅動數據大于前一次驅動數據，所述驅動晶體管組件包括M個驅動晶體管，所述初始閾值電壓集包括所述驅動晶體管組件中各驅動晶體管的初始閾值電壓；M≥1；

每獲取一次初始閾值電壓集，則根據對應的驅動數據對本次初始閾值電壓集中的初始閾值電壓進行篩選；

將篩選后的所有初始閾值電壓集進行合并，獲得M個初始閾值電壓，并將所述M個初始閾值電壓一一對應地設置為M個驅動晶體管的閾值電壓。

根據本發明一優選實施例，所述依次獲取驅動晶體管組件在不同驅動數據驅動下的初始閾值電壓集包括：

根據初始閾值電壓集的獲取次數n，獲取所述驅動晶體管組件的第n次驅動數據，以在第n次驅動數據的驅動下，第n次獲取驅動晶體管組件的初始閾值電壓集；其中：1≤n≤N，N為獲取所述驅動晶體管組件的初始閾值電壓集的總次數，N≥2。

根據本發明一優選實施例，所述根據初始閾值電壓集的獲取次數n，獲取所述驅動晶體管組件的第n次驅動數據包括：

設置閾值基準電壓v和調節步距電壓s；

求取所述閾值基準電壓v與n-1倍的所述調節步距電壓s之和，以得到所述驅動晶體管組件的第n次驅動數據；其中：s＞0。

根據本發明一優選實施例，所述每獲取一次初始閾值電壓集，則根據對應的驅動數據對本次初始閾值電壓集中的初始閾值電壓進行篩選包括：

每獲取一次初始閾值電壓集，則保留本次初始閾值電壓集中小于或等于本次驅動數據的初始閾值電壓。

根據本發明一優選實施例，所述將篩選后的所有初始閾值電壓集進行合并，獲得M個初始閾值電壓包括：

求取篩選后的所有初始閾值電壓集的并集，獲得M個初始閾值電壓。

根據本發明一優選實施例，所述驅動晶體管組件為顯示裝置中的所有驅動晶體管或部分驅動晶體管。

根據本發明的上述目的，還提供一種驅動晶體管的閾值電壓偵測裝置，包括：