[發(fā)明專(zhuān)利]一種用于微弱熒光信號(hào)檢測(cè)的光路結(jié)構(gòu)、光學(xué)分析裝置在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201910429022.2 | 申請(qǐng)日: | 2019-05-22 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN110044821A | 公開(kāi)(公告)日: | 2019-07-23 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 唐勇;廖政;潘穎 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 四川樸瀾醫(yī)療科技有限公司 |
| 主分類(lèi)號(hào): | G01N21/01 | 分類(lèi)號(hào): | G01N21/01;G01N21/64 |
| 代理公司: | 成都科海專(zhuān)利事務(wù)有限責(zé)任公司 51202 | 代理人: | 郭萍 |
| 地址: | 611137 四川省成都市溫江區(qū)成都*** | 國(guó)省代碼: | 四川;51 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 單色光 熒光 光學(xué)分析裝置 光路結(jié)構(gòu) 激發(fā)光束 微弱熒光 信號(hào)檢測(cè) 二色鏡 檢測(cè)光 反射 激發(fā) 凸透鏡 被測(cè)物體表面 光學(xué)檢測(cè)器件 被檢測(cè)物體 檢測(cè)靈敏度 光源提供 激發(fā)光源 檢測(cè)區(qū)域 平行光 射入 預(yù)設(shè) 轉(zhuǎn)化 傳輸 | ||
1.一種用于微弱熒光信號(hào)檢測(cè)的光路結(jié)構(gòu),其特征在于,包括:
激發(fā)光源,用于提供激發(fā)光束;
激發(fā)光光路系統(tǒng),用于將所述光源提供的激發(fā)光束轉(zhuǎn)化為單色光,并在二色鏡的反射下,使得單色光按照預(yù)設(shè)角度射入到被檢測(cè)物體表面;
二色鏡,用于反射單色光、透過(guò)激發(fā)產(chǎn)生的熒光;
檢測(cè)光路系統(tǒng),用于收集被測(cè)物體表面激發(fā)的熒光,并轉(zhuǎn)化為平行光,傳輸給外界的光學(xué)檢測(cè)器件。
2.如權(quán)利要求1所述的一種用于微弱熒光信號(hào)檢測(cè)的光路結(jié)構(gòu),其特征在于,所述激發(fā)光光路系統(tǒng)包括第一濾波片、第一凸透鏡、第二凸透鏡、第三凸透鏡;
所述第一濾波片設(shè)置于激發(fā)光源前方,用于對(duì)激發(fā)光進(jìn)行濾波后形成單色光出射到第一凸透鏡;
所述第一凸透鏡凸面朝向第一濾波片設(shè)置,用于將單色光進(jìn)行匯聚處理后出射到二色鏡;所述二色鏡設(shè)置于被測(cè)物體上方,且朝單色光入射方向傾斜;
所述第二凸透鏡和第三凸透鏡重疊設(shè)置于被測(cè)物體與二色鏡之間,且凸面朝向二色鏡,用于聚焦二色鏡反射的單色光并入射到被測(cè)物體表面;第二凸透鏡和第三凸透鏡為激發(fā)光光路系統(tǒng)與檢測(cè)光路系統(tǒng)所共用。
3.如權(quán)利要求1所述的一種用于微弱熒光信號(hào)檢測(cè)的光路結(jié)構(gòu),其特征在于,所述檢測(cè)光路系統(tǒng)包括第二濾光片、第四凸透鏡、第五凸透鏡、第二凸透鏡、第三凸透鏡;
所述第二濾光片設(shè)置于二色鏡上方,用于過(guò)濾被測(cè)物體表面激發(fā)出來(lái)的熒光后出射到第四凸透鏡和第五凸透鏡;
所述第四凸透鏡設(shè)置于第二濾光片上方,且凸面朝向第二濾光片,用于聚焦反射光到光學(xué)檢測(cè)器件上;
第三凸透鏡與第二凸透鏡用于收集被測(cè)物體表面激發(fā)出來(lái)的熒光,并將其轉(zhuǎn)化為平行光照射到二色鏡。
4.如權(quán)利要求3所述的一種用于微弱熒光信號(hào)檢測(cè)的光路結(jié)構(gòu),其特征在于,所述檢測(cè)光路系統(tǒng)包括第五凸透鏡;
所述第四凸透鏡和第五凸透鏡重疊設(shè)置于第二濾光片上方,且凸面朝向第二濾光片,用于聚焦反射光到光學(xué)檢測(cè)器件上。
5.如權(quán)利要求1所述的一種光路結(jié)構(gòu),其特征在于,所述二色鏡與激發(fā)光入射光線的水平入射方向呈45度。
6.如權(quán)利要求1~5任一項(xiàng)所述的一種光路結(jié)構(gòu),其特征在于,被檢測(cè)物體與所述第二凸透鏡和第三凸透鏡組成的透鏡組的距離等于該透鏡組的焦距。
7.一種光學(xué)分析裝置,其特征在于,包括殼體、封裝于殼體內(nèi)的如權(quán)利要求1~6任一項(xiàng)所述的光路結(jié)構(gòu)、光學(xué)檢測(cè)器件、控制分析電路。
8.如權(quán)利要求7所述的光學(xué)分析裝置,其特征在于,所述控制分析電路包括LED驅(qū)動(dòng)電路、電流/電壓轉(zhuǎn)換電路、運(yùn)算放大器、A/D轉(zhuǎn)換電路、微處理器;所述微處理器連接LED驅(qū)動(dòng)電路輸入端及A/D轉(zhuǎn)換電路輸出端,電流/電壓轉(zhuǎn)換電路輸出端連接兩個(gè)運(yùn)算放大電路的輸入端,A/D轉(zhuǎn)換電路的輸入端則連接兩個(gè)運(yùn)算放大電路的輸出端。
9.如權(quán)利要求7所述的光學(xué)分析裝置,其特征在于,所述殼體為黑色。
10.如權(quán)利要求7或8或9所述的光學(xué)分析裝置,其特征在于,在光學(xué)檢測(cè)器件與控制分析電路之間設(shè)置有放大電路。
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G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見(jiàn)光或紫外光來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測(cè)試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測(cè)試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測(cè)試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長(zhǎng)發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測(cè)試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專(zhuān)用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)





