[發(fā)明專利]老化測(cè)試方法、可穿戴設(shè)備及計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)

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• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201910428045.1
• 申請(qǐng)日: 2019-05-21
• 公開（公告）號(hào): CN110188010A
• 公開（公告）日: 2019-08-30
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 李坤寧
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 努比亞技術(shù)有限公司
• 主分類號(hào): G06F11/22
• 分類號(hào): G06F11/22;G06F11/26
• 代理公司: 深圳市世紀(jì)恒程知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所 44287
• 代理人: 胡海國(guó)

1.一種老化測(cè)試方法，其特征在于，所述方法應(yīng)用于可穿戴設(shè)備，所述方法包括以下步驟：

在檢測(cè)到老化測(cè)試指令時(shí)，確定各個(gè)測(cè)試項(xiàng)；

獲取每個(gè)測(cè)試項(xiàng)對(duì)應(yīng)的測(cè)試參數(shù)；

根據(jù)每個(gè)測(cè)試項(xiàng)的所述測(cè)試參數(shù)，對(duì)每個(gè)測(cè)試項(xiàng)進(jìn)行老化測(cè)試，得到每個(gè)測(cè)試項(xiàng)對(duì)應(yīng)的測(cè)試數(shù)據(jù)；

對(duì)每個(gè)測(cè)試項(xiàng)的所述測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行分析，得到每個(gè)測(cè)試項(xiàng)對(duì)應(yīng)的測(cè)試結(jié)果。

2.如權(quán)利要求1所述的老化測(cè)試方法，其特征在于，所述在檢測(cè)到老化測(cè)試指令時(shí)，確定各個(gè)測(cè)試項(xiàng)的步驟包括：

在檢測(cè)到老化測(cè)試指令時(shí)，加載測(cè)試項(xiàng)配置界面，并在所述測(cè)試項(xiàng)配置界面加載測(cè)試選擇項(xiàng)；

接收基于所述測(cè)試選擇項(xiàng)的選擇指令，根據(jù)所述選擇指令確定測(cè)試項(xiàng)。

3.如權(quán)利要求2所述的老化測(cè)試方法，其特征在于，所述測(cè)試參數(shù)至少包括測(cè)試輪數(shù)或測(cè)試時(shí)長(zhǎng)。

4.如權(quán)利要求3所述的老化測(cè)試方法，其特征在于，所述根據(jù)每個(gè)測(cè)試項(xiàng)的所述測(cè)試參數(shù)，對(duì)每個(gè)測(cè)試項(xiàng)進(jìn)行老化測(cè)試，得到每個(gè)測(cè)試項(xiàng)對(duì)應(yīng)的測(cè)試數(shù)據(jù)的步驟包括：

對(duì)各個(gè)測(cè)試項(xiàng)進(jìn)行分類，得到老化測(cè)試對(duì)應(yīng)功能屬性的第一測(cè)試項(xiàng)集合和老化測(cè)試對(duì)應(yīng)性能屬性的第二測(cè)試項(xiàng)集合；

按照第一測(cè)試項(xiàng)集合中每個(gè)測(cè)試項(xiàng)對(duì)應(yīng)的測(cè)試參數(shù)，對(duì)第一測(cè)試項(xiàng)集合中每個(gè)測(cè)試項(xiàng)對(duì)應(yīng)的接口進(jìn)行調(diào)用測(cè)試，得到第一測(cè)試項(xiàng)集合中每個(gè)測(cè)試項(xiàng)對(duì)應(yīng)的測(cè)試數(shù)據(jù)；

按照第二測(cè)試項(xiàng)集合中每個(gè)測(cè)試項(xiàng)對(duì)應(yīng)的測(cè)試參數(shù)，對(duì)第二測(cè)試項(xiàng)集合中每個(gè)測(cè)試項(xiàng)進(jìn)行性能測(cè)試，得到第二測(cè)試項(xiàng)集合中每個(gè)測(cè)試項(xiàng)對(duì)應(yīng)的測(cè)試數(shù)據(jù)。

5.如權(quán)利要求1所述的老化測(cè)試方法，其特征在于，所述對(duì)每個(gè)測(cè)試項(xiàng)的所述測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行分析，得到每個(gè)測(cè)試項(xiàng)對(duì)應(yīng)的測(cè)試結(jié)果的步驟包括：

將每個(gè)測(cè)試項(xiàng)的所述測(cè)試數(shù)據(jù)與相應(yīng)的預(yù)設(shè)標(biāo)準(zhǔn)閾值進(jìn)行比較，得到比較結(jié)果；

根據(jù)每個(gè)測(cè)試項(xiàng)的所述比較結(jié)果，得到每個(gè)測(cè)試項(xiàng)對(duì)應(yīng)的測(cè)試結(jié)果。

6.如權(quán)利要求5所述的老化測(cè)試方法，其特征在于，所述對(duì)每個(gè)測(cè)試項(xiàng)的所述測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行分析，得到每個(gè)測(cè)試項(xiàng)對(duì)應(yīng)的測(cè)試結(jié)果的步驟之后，包括：

根據(jù)每個(gè)測(cè)試項(xiàng)的所述測(cè)試結(jié)果，生成測(cè)試報(bào)告。

7.如權(quán)利要求6所述的老化測(cè)試方法，其特征在于，所述根據(jù)每個(gè)測(cè)試項(xiàng)的所述測(cè)試結(jié)果，生成測(cè)試報(bào)告的步驟包括：

統(tǒng)計(jì)測(cè)試結(jié)果為未老化的測(cè)試項(xiàng)；

統(tǒng)計(jì)測(cè)試結(jié)果為老化的測(cè)試項(xiàng)，并確定所述老化的測(cè)試項(xiàng)的老化程度；

根據(jù)所述未老化的測(cè)試項(xiàng)，以及，所述老化的測(cè)試項(xiàng)及其老化程度生成測(cè)試報(bào)告。

8.如權(quán)利要求7所述的老化測(cè)試方法，其特征在于，所述確定所述老化的測(cè)試項(xiàng)的老化程度的步驟包括：

根據(jù)所述老化的測(cè)試項(xiàng)的測(cè)試數(shù)據(jù)與相應(yīng)的預(yù)設(shè)標(biāo)準(zhǔn)閾值的差值，確定所述老化的測(cè)試項(xiàng)的老化程度。

9.一種可穿戴設(shè)備，其特征在于，所述可穿戴設(shè)備包括：存儲(chǔ)器、處理器及存儲(chǔ)在所述存儲(chǔ)器上并可在所述處理器上運(yùn)行的老化測(cè)試程序，所述老化測(cè)試程序被所述處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)如權(quán)利要求1至8中任一項(xiàng)所述的老化測(cè)試方法的步驟。

10.一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，其特征在于，所述計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)上存儲(chǔ)有老化測(cè)試程序，所述老化測(cè)試程序被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)如權(quán)利要求1至8中任一項(xiàng)所述的老化測(cè)試方法的步驟。