[發明專利]一種控制方法和控制裝置及其系統在審
| 申請號: | 201910411496.4 | 申請日: | 2019-05-17 |
| 公開(公告)號: | CN111953262A | 公開(公告)日: | 2020-11-17 |
| 發明(設計)人: | 不公告發明人 | 申請(專利權)人: | 杭州三花研究院有限公司 |
| 主分類號: | H02P23/26 | 分類號: | H02P23/26 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 310018 浙江省杭州*** | 國省代碼: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 控制 方法 裝置 及其 系統 | ||
1.一種控制方法,能夠用于帶電機與控制裝置的系統,所述控制裝置存儲有所述電機的運行參數與電機的相位校正值的對應關系或者所述控制裝置存儲有電機的運行參數與電機的相位校正值的相關量之間的對應關系;根據所述電機每組的運行參數,能夠得到與每組運行參數相對應的相位校正值或相位校正值的相關量,所述控制裝置能夠根據得到的與每組運行參數相對應的相位校正值或相位校正值的相關量,控制所述電機運行;
為得到所述電機的運行參數與所述電機的相位校正值的對應關系或者所述電機的運行參數與電機的相位校正值的相關量之間的對應關系,包括以下步驟:
b):所述電機在某一組運行參數運行時,在最小相位校正值至最大相位校正值范圍細分為多組或者將最小相位校正值的相關量至最大相位校正值的相關量范圍細分為多組;
c):控制所述電機按多組的其中一組相位校正值校正后運行;
d):對所述電機的電流或輸入功率或相位差進行檢測;
e):控制所述電機按所有的各組相位校正值運行并檢測后,從多組相位校正值中找出與電機的運行參數對應的相位校正值或相位校正值的相關量,并存儲。
2.一種控制方法,能夠用于帶電機與控制裝置的系統,所述控制裝置存儲有電機的運行參數與電機的相位校正值的對應關系或者所述控制裝置存儲有電機的運行參數與電機的相位校正值的相關量之間的對應關系;根據所述電機每組的運行參數,能夠得到與每組運行參數相對應的相位校正值或相位校正值的相關量,所述控制裝置能夠根據得到的與每組運行參數相對應的相位校正值或相位校正值的相關量,控制所述電機運行;
為得到所述電機的運行參數與所述電機的相位校正值的對應關系或者所述電機的運行參數與電機的相位校正值的相關量之間的對應關系,包括以下步驟:
a):所述電機的運行參數預設為N組,N為整數,定義n為電機的運行參數的計數組數,n從1到N,賦予n為1到N之間的一整數值;
b):控制述電機按第n組運行參數運行,在最小相位校正值至最大相位校正值范圍細分為(K+1)組或者將最小相位校正值的相關量至最大相位校正值的相關量范圍細分為(K+1)組,K為整數,K≥3,定義k為相位校正值的計數組數,k從0到K或從1到(K+1);
c):控制所述電機按第k組相位校正值校正后運行;
d):對所述電機的電流或輸入功率或相位差進行檢測;
e):控制所述電機按所有的各組相位校正值運行并檢測后,從(K+1)組相位校正值中找出與電機的運行參數對應的相位校正值或相位校正值的相關量,并存儲;
f):判斷是否N組運行參數都已運行,如果不是,賦予n為尚未運行過的1到N之間的另一整數值,控制所述電機按n組運行參數運行,并返回上述步驟b),以找出與所述該組電機的運行參數對應的相位校正值或相位校正值的相關量。
3.一種控制方法,能夠用于帶電機與控制裝置的系統,所在的系統包括控制裝置,所述控制裝置存儲有電機的運行參數與電機的相位校正值的對應關系或者所述控制裝置存儲有電機的運行參數與電機的相位校正值的相關量之間的對應關系;根據所述電機每組的運行參數,能夠得到與每組運行參數相對應的相位校正值或相位校正值的相關量,所述控制裝置能夠根據得到的與每組運行參數相對應的相位校正值或相位校正值的相關量,控制所述電機運行。
4.根據權利要求1-3任一所述的控制方法,其特征在于,所述運行參數為所述電機的轉速,將所述相位校正值或其相關量細分為(K+1)組,K為整數,K≥3,定義k為相位校正值的計數組數,第k組的相位校正值為(θmax-θmin)/K*k+θmin,定義θmin為最小相位校正值,θmax為最大相位校正值;所述控制裝置存儲有所述電機每組的轉速及與每組轉速相對應的相位校正值或k或換相時間規律;所述步驟d)是對所述電機的電流進行檢測,所述步驟e)是從(K+1)組相位校正值中找出電流最小時對應的相位校正值或相位校正值的相關量。
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