[發(fā)明專利]一種基于微鑷的粘附力測試方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201910409056.5 | 申請日: | 2019-05-11 |
| 公開(公告)號: | CN110108625A | 公開(公告)日: | 2019-08-09 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 索奕雙;郭強(qiáng);張向平 | 申請(專利權(quán))人: | 金華職業(yè)技術(shù)學(xué)院 |
| 主分類號: | G01N15/10 | 分類號: | G01N15/10;G01N19/04;G01Q60/28 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 321017 浙江*** | 國省代碼: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 粘附 測量 懸臂 位移臺 原子力顯微鏡 微機(jī)電系統(tǒng) 力測試 微顆粒 環(huán)氧樹脂 光學(xué)顯微鏡 激光位移計(jì) 力測試裝置 準(zhǔn)確度 驅(qū)動 顆粒樣品 力學(xué)測量 實(shí)驗(yàn)過程 致動器 襯底 鑷夾 研發(fā) 支架 照相機(jī) 電纜 計(jì)算機(jī) | ||
1.一種基于微鑷的粘附力測試方法,基于微鑷的粘附力測試裝置包括基座(1)、位移臺I(2)、力學(xué)測量單元(3)、激光位移計(jì)(4)、懸臂(5)、相機(jī)架(6)、照相機(jī)(7)、位移臺II(8)、襯底(9)、顆粒樣品(10)、微鑷(11)、致動器(12)、位移臺III(13)、支架(14)、光學(xué)顯微鏡(15)、計(jì)算機(jī)和電纜,xyz為三維坐標(biāo)系,位移臺I(2)、相機(jī)架(6)、位移臺II(8)和支架(14)依次連接于基座(1)上面,位移臺I(2)、相機(jī)架(6)、微鑷(11)、致動器(12)和位移臺III(13)分別電纜連接計(jì)算機(jī),力學(xué)測量單元(3)安裝于位移臺I(2)上面,通過計(jì)算機(jī)控制位移臺I(2),能夠使得力學(xué)測量單元(3)分別在xyz三個方向直線移動,懸臂(5)是具有固定端和活動端的金屬片,固定端固定于力學(xué)測量單元(3)的上面,在不受外力的情況下,固定端與活動端位于同一水平面,激光位移計(jì)(4)連接于力學(xué)測量單元(3)的側(cè)面,并且激光位移計(jì)(4)位于懸臂(5)的活動端下方的20毫米處,用于監(jiān)測懸臂(5)的活動端在y方向的位移;照相機(jī)(7)安裝于相機(jī)架(6)上,用于監(jiān)測懸臂(5)的形變,通過計(jì)算機(jī)控制相機(jī)架(6)能夠使得照相機(jī)(7)分別在xyz三個方向直線移動;襯底(9)位于位移臺II(8)上,襯底(9)上面吸附有顆粒樣品(10);位移臺III(13)和光學(xué)顯微鏡(15)自下而上安裝于支架(14)上,位移臺III(13)和光學(xué)顯微鏡(15)的位置均能夠通過支架(14)進(jìn)行調(diào)節(jié),致動器(12)安裝于位移臺III(13)的下面,通過計(jì)算機(jī)控制位移臺III(13)能夠使得致動器(12)分別在xyz三個方向直線移動,通過計(jì)算機(jī)對致動器(12)施以不同電壓,能夠使得致動器(12)在y方向伸縮,微鑷(11)固定于致動器(12)的下面,微鑷(11)的前端具有兩個操縱指,通過計(jì)算機(jī)控制微鑷(11)能夠使操縱指開啟或閉合,操縱指能夠抓取顆粒樣品(10),被抓取測試的顆粒樣品(10)稱為待測微粒,微鑷(11)具有微機(jī)電力傳感器,微機(jī)電力傳感器能夠?qū)y得的微鑷(11)受到的力的信息傳輸入計(jì)算機(jī);懸臂(5)為原子力顯微鏡的懸臂,懸臂(5)的長度為250微米、寬度為30微米、厚度為0.9微米,懸臂(5)的彈性系數(shù)為0.09牛/米,顆粒樣品(10)的尺寸范圍為0.5微米到5微米,微鑷(11)由硅材料微加工制成,微鑷(11)前端的兩個操縱指之間最大間隙為8微米,兩個操縱指之間能夠施加的最大力為400微牛,致動器(12)由壓電陶瓷制成,致動器(12)在y方向的最小伸縮步進(jìn)為50納米,
其特征是:所述的一種基于微鑷的粘附力測試方法的步驟為:
步驟一,通過支架(14)調(diào)節(jié)光學(xué)顯微鏡(15)的位置,使光學(xué)顯微鏡(15)位于襯底(9)的正上方,用于觀測襯底(9)表面的情況及微鑷(11)的移動情況,通過支架(14)調(diào)節(jié)位移臺III(13)的位置,使位移臺III(13)位于襯底(9)的側(cè)上方,通過計(jì)算機(jī)控制位移臺III(13)及致動器(12),使得微鑷(11)移動至襯底(9)的正上方200微米處;
步驟二,通過計(jì)算機(jī)控制,使致動器(12)在y方向伸長,并使得微鑷(11)的前端移動至與襯底(9)表面相接觸,然后,通過計(jì)算機(jī)控制,使致動器(12)在y方向收縮,并使得微鑷(11)的前端向上移動1微米;
步驟三,通過計(jì)算機(jī)控制位移臺III(13),使得微鑷(11)在水平面內(nèi)移動,并使得微鑷(11)前端的兩個操縱指位于一個待測微粒的兩側(cè),通過計(jì)算機(jī)控制微鑷(11)前端的操縱指進(jìn)行閉合操作,使得兩個操縱指將待測微粒夾住;
步驟四,通過支架(14)調(diào)節(jié)光學(xué)顯微鏡(15)的位置,使得光學(xué)顯微鏡(15)位于懸臂(5)正上方,用于觀測懸臂(5)的形變情況及微鑷(11)的移動情況,通過支架(14)調(diào)節(jié)位移臺III(13)的位置,使位移臺III(13)位于懸臂(5)的側(cè)上方,通過計(jì)算機(jī)控制位移臺III(13),使得致動器(12)及微鑷(11)移動至懸臂(5)的正上方200微米處;
步驟五,通過計(jì)算機(jī)控制,使致動器(12)在y方向伸長,并使得微鑷(11)前端的待測微粒自上而下以2微米/秒速度移動,直到與懸臂(5)活動端的上表面接觸,同時,微鑷(11)中的微機(jī)電力傳感器測得微鑷(11)的受力發(fā)生變化,或者激光位移計(jì)(4)測得懸臂(5)活動端產(chǎn)生了沿y負(fù)方向的移動,則說明待測微粒與懸臂(5)接觸;
步驟六,通過計(jì)算機(jī)控制,使致動器(12)在y方向伸長,并使得微鑷(11)前端的待測微粒繼續(xù)自上而下以0.5微米/秒速度移動,直到激光位移計(jì)(4)測得的懸臂(5)的活動端向下偏離初始位置為1微米;
步驟七,通過計(jì)算機(jī)控制位移臺I(2),使得力學(xué)測量單元(3)帶動懸臂(5)的固定端沿y負(fù)方向以0.5微米/秒速度移動,直到待測微粒與懸臂(5)分離;
步驟八,通過激光位移計(jì)(4)記錄懸臂(5)的活動端在y方向的位移,并得到懸臂(5)的活動端與待測微粒分離的時刻在y方向的位置y1,計(jì)算得到懸臂(5)的活動端的偏向距離Δy=y(tǒng)1-y0,其中y0為懸臂(5)的活動端在不受外力時在y方向的初始位置;
步驟九,通過懸臂(5)的彈性系數(shù)和懸臂(5)的活動端與待測微粒分離時刻的偏向距離Δy的乘積,從而得到待測微粒在懸臂(5)表面的粘附力。
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