[發明專利]終端設備及其異物檢測結果評價方法、計算機存儲介質

有效

• 申請號: 201910406554.4
• 申請日: 2019-05-16
• 公開（公告）號: CN110174711B
• 公開（公告）日: 2022-02-25
• 發明（設計）人: 祁春超;董懷琴;馮智輝
• 申請（專利權）人: 深圳市重投華訊太赫茲科技有限公司
• 主分類號: G01V13/00
• 分類號: G01V13/00;G01V8/00;G01V8/10
• 代理公司: 深圳市威世博知識產權代理事務所(普通合伙) 44280
• 代理人: 李莉

1.一種異物檢測結果評價方法，其特征在于，所述異物檢測結果評價方法用于評價異物檢測模型，所述異物檢測結果評價方法包括：

獲取至少一個待識別的檢測圖像以及對應的實際異物參數，其中，所述檢測圖像包括毫米波/太赫茲安檢儀采集獲得的至少一個檢測圖像；

識別所述待識別的檢測圖像的異物，并獲取識別異物參數；

基于所述實際異物參數以及所述識別異物參數，計算得到所述待識別的檢測圖像的對比結果，所述對比結果包括檢出率和誤報率；

基于所述對比結果以及預設策略評價所述檢測結果的準確度，其包括：

基于檢出率和誤報率的對比結果以及預設策略計算異物檢測評價結果的得分，并根據得分評價檢測結果的準確度；

預設一臨界檢出率，并比較所述臨界檢出率和檢出率，預設一臨界誤報率，并比較所述臨界誤報率和誤報率，當檢出率小于臨界檢出率和/或誤報率大于臨界誤報率時，在原來的評價得分基礎上相應減少異物檢測結果的評價得分；

預設一懲罰參數，所述懲罰參數用于控制當所述檢出率小于所述臨界檢出率和/或所述誤報率大于所述臨界誤報率時，所述異物檢測結果評價得分的扣分程度，當所述懲罰參數為0時，不減少所述異物檢測結果的評價得分。

2.根據權利要求1所述的結果評價方法，其特征在于，當預設的所述臨界檢出率為0和/或所述臨界誤報率為1時，不減少所述異物檢測結果的評價得分。

3.根據權利要求2所述的結果評價方法，其特征在于，所述基于所述對比結果以及預設策略評價所述檢測結果的準確度的步驟，進一步包括：

預設一評價參數，所述評價參數用于調節所述檢出率和所述誤報率的重要程度；

當所述評價參數大于1時，所述誤報率對所述評價得分的影響大于所述檢出率對所述評價得分的影響；

當所述評價參數等于1時，所述誤報率對所述評價得分的影響等于所述檢出率對所述評價得分的影響；

當所述評價參數小于1時，所述誤報率對所述評價得分的影響小于所述檢出率對所述評價得分的影響。

4.根據權利要求3所述的結果評價方法，其特征在于，所述基于所述對比結果以及預設策略評價所述檢測結果的準確度的步驟，進一步包括：

基于所述檢出率和所述誤報率計算所述異物檢測結果的評價得分，計算公式如下：

其中，F為所述異物檢測結果的評價得分，α為所述評價參數，β為所述懲罰參數，a為所述臨界檢出率，b為所述臨界誤報率。

5.根據權利要求1所述的結果評價方法，其特征在于，所述實際異物參數包括實際異物數量及其位置，所述識別異物參數包括識別框數量及其位置；

所述基于所述實際異物參數以及所述識別異物參數，計算得到所述待識別的檢測圖像的對比結果的步驟，進一步包括：

比較所述實際異物數量及其位置和所述識別框數量及其位置；

若所述識別框在所述檢測圖像中的位置中包含所有的所述實際異物，則此次掃描結果為成功檢出；

若所述識別框在所述檢測圖像中的位置中至少有一個不存在所述實際異物，則此次掃描結果為誤報。

6.根據權利要求5所述的結果評價方法，其特征在于，所述計算得到所述待識別的檢測圖像的對比結果的步驟，進一步包括：

統計測試次數、成功檢出次數以及誤報次數，其中，所述測試次數包括空掃測試次數和非空掃測試次數；

根據所述誤報次數和所述測試次數的比值計算得到所述誤報率；

根據所述成功檢出次數和所述非空掃測試次數的比值計算得到所述檢出率。

7.一種終端設備，其特征在于，所述終端設備包括處理器以及與所述處理器耦接的存儲器；所述存儲器用于存儲程序數據，所述處理器用于執行所述程序數據以實現如權利要求1～6任一項所述的異物檢測結果評價方法。

8.一種計算機存儲介質，其特征在于，所述計算機存儲介質中存儲有程序數據，所述程序數據在被處理器執行時，用于實現如權利要求1～6任一項所述的異物檢測結果評價方法。