[發(fā)明專利]裸露式觸點(diǎn)插頭的多線程探針接觸式檢測(cè)裝置

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201910405203.1
• 申請(qǐng)日: 2019-05-16
• 公開（公告）號(hào): CN110133429B
• 公開（公告）日: 2021-03-12
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 李發(fā)勝;呂啟濤;曹洪濤;楊柯;劉亮;平華兵;王高芬;江軍華;高云峰
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 大族激光科技產(chǎn)業(yè)集團(tuán)股份有限公司
• 主分類號(hào): G01R31/66
• 分類號(hào): G01R31/66;G01R31/28
• 代理公司: 深圳眾鼎專利商標(biāo)代理事務(wù)所(普通合伙) 44325
• 代理人: 陽開亮

本申請(qǐng)?zhí)岢隽艘环N裸露式觸點(diǎn)插頭的多線程探針接觸式檢測(cè)裝置，包括底座模塊、氣缸模塊、繼電器模塊、大探針模塊、小探針模塊、控制模塊，通過在升降氣缸上設(shè)置繼電器模塊和大探針模塊，使升降氣缸帶動(dòng)繼電器模塊和大探針模塊向下運(yùn)動(dòng)，通過大探針模塊中的大探針模塊中PCB金屬板上的金屬觸點(diǎn)連接，再使小探針模塊中的小探針與待測(cè)插頭連接，由于大探針與金屬觸點(diǎn)接觸，避免了大探針刮傷檢測(cè)插頭外觀，并且在底座模塊中采用仿形治具，仿形治具可以一次性裝載多個(gè)待測(cè)插頭，通過多個(gè)小探針與多個(gè)待測(cè)插頭連接，從而實(shí)現(xiàn)一次性檢測(cè)多個(gè)產(chǎn)品。

技術(shù)領(lǐng)域

本申請(qǐng)涉及插頭檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種裸露式觸點(diǎn)插頭的多線程探針接觸式檢測(cè)裝置。

背景技術(shù)

在生產(chǎn)裸露式插頭的過程中，必須對(duì)裸露式插頭進(jìn)行檢測(cè)，才能保證出廠時(shí)產(chǎn)品處于合格狀態(tài)。對(duì)于裸露式觸點(diǎn)插頭的檢測(cè)，常用的檢測(cè)方法是將被檢測(cè)的插頭內(nèi)插入到特定的外包裹檢測(cè)治具中，檢測(cè)治具內(nèi)的彈簧觸點(diǎn)與被檢測(cè)插頭的觸點(diǎn)接觸形成導(dǎo)通，檢測(cè)治具再通過導(dǎo)線或其他形式連接到最終的測(cè)試設(shè)備。這種做法有兩個(gè)比較明顯的缺陷，第一，將被檢測(cè)的插頭內(nèi)插入到外包裹的檢測(cè)治具中時(shí)，被檢測(cè)的插頭與外包裹的檢測(cè)治具間的配合間隙很難控制，間隙過小，則可能劃傷被檢測(cè)插頭，間隙過大，則可能造成觸點(diǎn)對(duì)不準(zhǔn)接觸不良，檢測(cè)無法進(jìn)行。第二，這種方法每次裝載只能檢測(cè)一個(gè)插頭，檢測(cè)效率較低。

發(fā)明內(nèi)容

本申請(qǐng)的目的在于提供一種裸露式觸點(diǎn)插頭的多線程探針接觸式檢測(cè)裝置，以解決現(xiàn)有技術(shù)中存在對(duì)裸露式插頭檢測(cè)不準(zhǔn)確以及檢測(cè)效率低的問題，以及解決現(xiàn)有技術(shù)中采用兩個(gè)或多個(gè)PFC模塊并聯(lián)導(dǎo)致的需要兩套采樣和控制系統(tǒng)的問題。

本申請(qǐng)是這樣實(shí)現(xiàn)的，本申請(qǐng)第一方面提供一種裸露式觸點(diǎn)插頭的多線程探針接觸式檢測(cè)裝置，所述檢測(cè)裝置包括：

底座模塊，所述底座模塊用于固定仿形治具模塊，所述仿形治具模塊用于裝載待測(cè)插頭；

氣缸模塊，所述氣缸模塊與所述底座模塊固定連接；

繼電器模塊，所述繼電器模塊安裝在所述氣缸模塊上，所述繼電器模塊與測(cè)試設(shè)備連接；

大探針模塊，所述大探針模塊固定安裝在所述繼電器模塊上；

小探針模塊，所述小探針模塊固定在所述底座模塊上，并與所述仿形治具模塊相對(duì)設(shè)置，所述小探針模塊位于所述大探針模塊的下方；

控制模塊，所述控制模塊安裝在所述繼電器模塊上，用于控制氣缸模塊帶動(dòng)所述大探針模塊向下運(yùn)動(dòng)，使所述大探針模塊中的大探針接觸所述小探針模塊的PCB板的金屬觸點(diǎn)，并使所述小探針模塊中的小探針接觸所述待測(cè)插頭的金屬觸點(diǎn)，并通過控制繼電器模塊使所述測(cè)試設(shè)備對(duì)所述待測(cè)插頭進(jìn)行檢測(cè)。

本申請(qǐng)?zhí)岢隽艘环N裸露式觸點(diǎn)插頭的多線程探針接觸式檢測(cè)裝置，通過在升降氣缸上設(shè)置繼電器模塊和大探針模塊，使升降氣缸帶動(dòng)繼電器模塊和大探針模塊向下運(yùn)動(dòng)，通過大探針模塊中的大探針模塊中PCB金屬板上的金屬觸點(diǎn)連接，再使小探針模塊中的小探針與待測(cè)插頭連接，由于大探針與金屬觸點(diǎn)接觸，避免了大探針刮傷檢測(cè)插頭外觀，并且在底座模塊中采用仿形治具，仿形治具可以一次性裝載多個(gè)待測(cè)插頭，通過多個(gè)小探針與多個(gè)待測(cè)插頭連接，從而實(shí)現(xiàn)一次性檢測(cè)多個(gè)產(chǎn)品。

附圖說明

為了更清楚地說明本申請(qǐng)實(shí)施例中的技術(shù)方案，下面將對(duì)實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡(jiǎn)單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本申請(qǐng)的一些實(shí)施例，對(duì)于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)性的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。

圖1是本申請(qǐng)實(shí)施例提供的一種裸露式觸點(diǎn)插頭的多線程探針接觸式檢測(cè)裝置的結(jié)構(gòu)圖；

圖2是本申請(qǐng)實(shí)施例提供的一種裸露式觸點(diǎn)插頭的多線程探針接觸式檢測(cè)裝置中的待測(cè)插頭的結(jié)構(gòu)圖；