[發(fā)明專利]一種分析ppb量級氙同位素豐度比的四極質(zhì)譜測量裝置在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201910403956.9 | 申請日: | 2019-05-16 |
| 公開(公告)號: | CN110031537A | 公開(公告)日: | 2019-07-19 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 楊天麗;劉雪梅;龍開明;羅立力;王海龍;孫明良;楊鳳杰;歐陽群益 | 申請(專利權(quán))人: | 中國工程物理研究院核物理與化學(xué)研究所 |
| 主分類號: | G01N27/62 | 分類號: | G01N27/62 |
| 代理公司: | 中國工程物理研究院專利中心 51210 | 代理人: | 翟長明;韓志英 |
| 地址: | 621999 四*** | 國省代碼: | 四川;51 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 氙同位素 豐度 測量裝置 四極質(zhì)譜 大氣樣品 四極 分析 測量 四極質(zhì)譜儀 同位素豐度 質(zhì)量分析器 測量單元 低溫提取 進(jìn)樣單元 可拆卸的 離子探測 重量輕 標(biāo)稱 | ||
本發(fā)明公開了一種分析ppb量級氙同位素豐度比的四極質(zhì)譜測量裝置。該裝置包括進(jìn)樣單元、一級純化單元、二級純化單元、低溫提取單元和四極測量單元。該裝置在四極質(zhì)量分析器的前端增加了簡單純化單元,利用多離子探測模式,形成一個能夠?qū)崿F(xiàn)同位素豐度比測量功能的靜態(tài)四極質(zhì)譜儀。針對大氣樣品,該裝置僅需要不超過1mL標(biāo)準(zhǔn)體積的氣體,采用一定的處理技術(shù),對氙同位素豐度比在10?3范圍的測量值與標(biāo)稱值相對偏差小于2.0%。本發(fā)明的分析ppb量級氙同位素豐度比的四極質(zhì)譜測量裝置具有部件重量輕、占地少、可拆卸的特點(diǎn),能夠滿足現(xiàn)場大氣樣品中氙同位素豐度比的準(zhǔn)確分析。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明屬于氣體同位素質(zhì)譜分析領(lǐng)域,具體涉及一種分析ppb量級氙同位素豐度比的四極質(zhì)譜測量裝置。
背景技術(shù)
武器用钚材料通過乏燃料后處理提取方式生產(chǎn)獲得。為防止核材料非法擴(kuò)散、提高核安全保障監(jiān)督體系的有效性,國際原子能機(jī)構(gòu)(IAEA)在“93+2”計劃中指出環(huán)境取樣可作為一種核查手段。面對保障框架下眾多民用的大規(guī)模后處理廠,獲取煙囪附近環(huán)境氣體,監(jiān)測重稀有氣體氪、氙的同位素組分(特別是穩(wěn)定氙同位素),可推導(dǎo)正在處理的乏燃料的相關(guān)信息:燃料的燃耗、燃耗的高低、生產(chǎn)該燃料的反應(yīng)堆類型、240Pu/239Pu、燃料中Pu的濃度,是核查人員探測未申報核材料或秘密核活動的重要技術(shù)依據(jù)。
常規(guī)環(huán)境取樣分析是核查人員現(xiàn)場取樣后將其分發(fā)至IAEA的網(wǎng)絡(luò)實驗室進(jìn)行分析,周期長、樣品輸運(yùn)過程中容易發(fā)生意外,有必要推薦現(xiàn)場取樣分析方式以滿足分析速度快、樣品真實性高的要求。四極質(zhì)譜儀具有體積小、重量輕、速度快等特點(diǎn)是現(xiàn)場取樣分析最佳設(shè)備,然而商用四極質(zhì)譜儀均為連續(xù)流進(jìn)樣分析,其探測下限只能達(dá)到5ppb,對應(yīng)分析精度超過20%以上,現(xiàn)有的商用四極質(zhì)譜儀無法實現(xiàn)氙同位素豐度比的測量。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題是提供一種分析ppb量級氙同位素豐度比的四極質(zhì)譜測量裝置。
本發(fā)明的分析ppb量級氙同位素豐度比的四極質(zhì)譜測量裝置,其特點(diǎn)是,所述的四極質(zhì)譜測量裝置包括進(jìn)樣單元、一級純化單元、二級純化單元、低溫提取單元和四極測量單元;
進(jìn)樣單元包括通道、全金屬微漏閥、樣品室、薄膜壓力計、隔離閥Ⅰ、隔離閥Ⅱ和金屬三通接頭;金屬三通接頭的進(jìn)氣端通過通道與樣品瓶連通,金屬三通接頭的一個出氣端通過通道與隔離閥Ⅰ、全金屬微漏閥和樣品室順序連通,金屬三通接頭的另一個出氣端通過通道與隔離閥Ⅱ和渦旋干泵順序連通;薄膜壓力計測量樣品室的壓力;氣體樣品進(jìn)入通道,通過全金屬微漏閥控制樣品進(jìn)樣速度,利用壓力計監(jiān)控壓力變化,將被分析的大氣樣品準(zhǔn)確定量引入樣品室。
一級純化單元包括高溫去氣爐和全金屬角閥Ⅰ,所述的高溫去氣爐通過全金屬角閥Ⅰ與樣品室連通,高溫去氣爐中裝填有吸附材料Ⅰ;進(jìn)入樣品室的氣體擴(kuò)散至高溫去氣爐,在高溫下吸附大量活性組分,得到較純的稀有氣體組分Ⅰ,被吸附的大量活性組分至少包括N2、O2、CO2、CH4、CO等;
二級純化單元包括樣品通道、去氣爐和真空規(guī);所述的樣品室通過樣品通道與全金屬隔離閥Ⅱ、全金屬角閥Ⅵ、全金屬隔離閥Ⅲ、全金屬角閥Ⅴ、全金屬角閥Ⅲ和去氣爐順序連通,全金屬角閥Ⅵ上還順序安裝有渦輪分子泵和渦旋干泵,全金屬角閥Ⅴ上還安裝有離子濺射泵,全金屬角閥Ⅴ、全金屬角閥Ⅲ之間的樣品通道上安裝有真空規(guī);去氣爐中裝填有吸附材料Ⅱ;氣體組分Ⅰ進(jìn)入二級純化單元的去氣爐中,在一定的溫度下吸附剩余的活性組分,得到更為純凈的稀有氣體組分Ⅱ。氣體組分Ⅰ中被吸附的活性組分至少包括N2、O2、CO2、CH4、CO以及大量的氫;
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