[發明專利]功耗測量的方法及系統

在審

• 申請號: 201910403653.7
• 申請日: 2019-05-15
• 公開（公告）號: CN110118894A
• 公開（公告）日: 2019-08-13
• 發明（設計）人: 曹林林;張坤
• 申請（專利權）人: 晶晨半導體（上海）股份有限公司
• 主分類號: G01R21/02
• 分類號: G01R21/02
• 代理公司: 上海申新律師事務所 31272
• 代理人: 俞滌炯

本發明公開了功耗測量的方法及系統，屬于測試領域。本發明功耗測量的方法通過采用機械臂夾持溫控裝置對待測元件的溫度進行調節，對待測元件的測試溫度進行監測，以保證可在測試溫度一致的情況下采集待測元件的目標電流值，從而計算功耗值，以達到精準測試量待測元件功耗值的目的。

技術領域

本發明涉及測試領域，尤其涉及功耗測量的方法及系統。

背景技術

隨著消費類產品越來越小型化，產品對整個系統的功耗要求越來越高，所以不斷降低功耗是產品的一個重要指標，而測量的準確性是衡量和降低功耗的一個重要依據。由于在不同溫度下面芯片特性有所不同，特別是高溫和低溫的環境下，芯片的漏電流和電壓特性會變得更加復雜，如何準確測量和對比芯片在不同溫度的功耗成為業界的難題。

目前測量芯片在不同溫度的功耗的方式主要是，將整個樣機或載有芯片的主板放到高低溫箱中，通過設置高低溫箱的溫度，來調節芯片的內部溫度，當溫度達到預設值之后再進行功耗測試；但是芯片溫度本身也有功率在消耗，因此芯片的溫度與周圍的環境溫度存在差異，很難準確測量芯片的功耗。

發明內容

針對上述問題，現提供一種旨在可精準測量待測元件功耗的功耗測量的方法及系統。

本發明提出了一種功耗測量的方法，包括下述步驟：

S1.采用機械臂夾持溫控裝置，對待測元件的溫度進行調節；

S2.監測所述待測元件的測試溫度；

S3.當所述測試溫度達到預設閾值時，采集所述待測元件的目標電流值；

S4.根據所述目標電流值計算所述待測元件的功耗值，并記錄所述功耗值。

優選的，所述溫控裝置采用加熱裝置，或冷凝裝置。

優選的，所述待測元件為包括印制電路板以及設置于所述印制電路板上的芯片；

步驟S2監測所述待測元件的測試溫度的步驟包括：

監測所述印制電路板上的芯片的測試溫度。

優選的，所述目標電流值為一目標電阻的電流，所述目標電阻連接所述印制電路板的電源。

優選的，還包括：

S5.判斷記錄的所述功耗值的次數是否小于次數閾值，若是，返回，執行步驟S1；若否，執行步驟S6；

S6.對記錄所有功耗值計算平均功耗值。

本發明還提供了一種功耗測量的系統，包括：

溫控單元，用于采用機械臂夾持溫控裝置，對待測元件的溫度進行調節；

監測單元，用于監測所述待測元件的測試溫度；

采集單元，當所述測試溫度達到預設閾值時，用于采集所述待測元件的目標電流值；

計算單元，用于根據所述目標電流值計算所述待測元件的功耗值，并記錄所述功耗值。

優選的，所述溫控裝置采用加熱裝置，或冷凝裝置。

優選的，所述待測元件為包括印制電路板以及設置于所述印制電路板上的芯片；

所述監測單元用于監測所述印制電路板上的芯片的測試溫度。

優選的，所述目標電流值為一目標電阻的電流，所述目標電阻連接所述印制電路板的電源。

優選的，還包括：

判斷單元，用于判斷記錄的所述功耗值的次數是否小于次數閾值，若是，控制所述溫控單元對待測元件的溫度進行調節；若否，對記錄所有功耗值計算平均功耗值。