[發(fā)明專利]一種測(cè)試方法、裝置及設(shè)備

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201910400012.6
• 申請(qǐng)日: 2019-05-14
• 公開（公告）號(hào): CN111949505A
• 公開（公告）日: 2020-11-17
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 姚靈靈;葉成旭;葉辰超
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 阿里巴巴集團(tuán)控股有限公司
• 主分類號(hào): G06F11/36
• 分類號(hào): G06F11/36
• 代理公司: 北京博思佳知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11415
• 代理人: 林祥

本申請(qǐng)?zhí)峁┮环N測(cè)試方法、裝置及設(shè)備，該方法包括：根據(jù)第一數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)和測(cè)試數(shù)量，確定目標(biāo)層次數(shù)量，目標(biāo)層次數(shù)量小于或等于第一數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)的層次數(shù)量；根據(jù)第一數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)和目標(biāo)層次數(shù)量獲取第二數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)；根據(jù)第二數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)獲取所述測(cè)試數(shù)量個(gè)待測(cè)試路徑；根據(jù)所述待測(cè)試路徑進(jìn)行測(cè)試。通過(guò)本申請(qǐng)的技術(shù)方案，控制隨機(jī)測(cè)試的覆蓋率，解決隨機(jī)測(cè)試的覆蓋率不可控問題。

技術(shù)領(lǐng)域

本申請(qǐng)涉及互聯(lián)網(wǎng)技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種測(cè)試方法、裝置及設(shè)備。

背景技術(shù)

軟件測(cè)試是為了發(fā)現(xiàn)軟件程序中的錯(cuò)誤而執(zhí)行程序的過(guò)程，主要測(cè)試對(duì)象是源程序。軟件測(cè)試的主要工作是驗(yàn)證和確認(rèn)，驗(yàn)證是保證軟件執(zhí)行了指定事件，而確認(rèn)是證實(shí)軟件邏輯的正確性，保證軟件以正確方式執(zhí)行了指定事件。

在軟件測(cè)試過(guò)程中，可以根據(jù)測(cè)試用例和測(cè)試說(shuō)明書來(lái)進(jìn)行測(cè)試，而除了根據(jù)測(cè)試用例和測(cè)試說(shuō)明書進(jìn)行測(cè)試，還需要進(jìn)行隨機(jī)測(cè)試。隨機(jī)測(cè)試用于對(duì)軟件進(jìn)行功能抽查和性能抽查，是保證測(cè)試覆蓋完整性的有效方式和過(guò)程。

但是，傳統(tǒng)的隨機(jī)測(cè)試存在如下缺陷；不能達(dá)到一定的覆蓋率，許多隨機(jī)測(cè)試是冗余的。尤其是針對(duì)數(shù)據(jù)庫(kù)的隨機(jī)測(cè)試，無(wú)法控制隨機(jī)測(cè)試的覆蓋率。

發(fā)明內(nèi)容

本申請(qǐng)?zhí)峁┮环N測(cè)試方法，所述方法包括：

根據(jù)第一數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)和測(cè)試數(shù)量，確定目標(biāo)層次數(shù)量；其中，所述目標(biāo)層次數(shù)量小于或者等于所述第一數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)的層次數(shù)量；

根據(jù)所述第一數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)和所述目標(biāo)層次數(shù)量獲取第二數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)；

根據(jù)所述第二數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)獲取所述測(cè)試數(shù)量個(gè)待測(cè)試路徑；

根據(jù)所述測(cè)試數(shù)量個(gè)待測(cè)試路徑進(jìn)行測(cè)試。

本申請(qǐng)?zhí)峁┮环N測(cè)試方法，所述方法包括：

根據(jù)待測(cè)試的數(shù)據(jù)庫(kù)支持的語(yǔ)法規(guī)范獲取語(yǔ)法圖；

根據(jù)所述語(yǔ)法圖和測(cè)試數(shù)量，確定語(yǔ)法樹的目標(biāo)層次數(shù)量，所述目標(biāo)層次數(shù)量小于或者等于所述語(yǔ)法圖的層次數(shù)量；

根據(jù)所述語(yǔ)法圖和所述目標(biāo)層次數(shù)量獲取語(yǔ)法樹；

根據(jù)所述語(yǔ)法樹獲取所述測(cè)試數(shù)量個(gè)待測(cè)試路徑；

根據(jù)所述測(cè)試數(shù)量個(gè)待測(cè)試路徑進(jìn)行測(cè)試。

本申請(qǐng)?zhí)峁┮环N測(cè)試方法，所述方法包括：

根據(jù)第一數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)獲取第二數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)；其中，所述第二數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)的目標(biāo)層次數(shù)量小于或者等于所述第一數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)的層次數(shù)量；

根據(jù)所述第二數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)獲取多個(gè)待測(cè)試路徑；

根據(jù)所述多個(gè)待測(cè)試路徑進(jìn)行測(cè)試。

本申請(qǐng)?zhí)峁┮环N測(cè)試方法，所述方法包括：

根據(jù)第一數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)和測(cè)試數(shù)量，獲取第二數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)；

根據(jù)所述第二數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)獲取所述測(cè)試數(shù)量個(gè)待測(cè)試路徑；

根據(jù)所述測(cè)試數(shù)量個(gè)待測(cè)試路徑進(jìn)行測(cè)試。

本申請(qǐng)?zhí)峁┮环N測(cè)試裝置，所述裝置包括：

確定模塊，用于根據(jù)第一數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)和測(cè)試數(shù)量，確定目標(biāo)層次數(shù)量；其中，所述目標(biāo)層次數(shù)量小于或者等于所述第一數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)的層次數(shù)量；

獲取模塊，用于根據(jù)所述第一數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)和所述目標(biāo)層次數(shù)量獲取第二數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)；根據(jù)所述第二數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)獲取所述測(cè)試數(shù)量個(gè)待測(cè)試路徑；

測(cè)試模塊，用于根據(jù)所述測(cè)試數(shù)量個(gè)待測(cè)試路徑進(jìn)行測(cè)試。

本申請(qǐng)?zhí)峁┮环N測(cè)試設(shè)備，所述測(cè)試設(shè)備包括：