[發(fā)明專利]一種非易失存儲器讀處理方法及裝置在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201910399741.4 | 申請日: | 2019-05-14 |
| 公開(公告)號: | CN111949556A | 公開(公告)日: | 2020-11-17 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 張曉偉;卜婧婧 | 申請(專利權(quán))人: | 北京兆易創(chuàng)新科技股份有限公司;西安格易安創(chuàng)集成電路有限公司 |
| 主分類號: | G06F12/02 | 分類號: | G06F12/02 |
| 代理公司: | 北京潤澤恒知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11319 | 代理人: | 莎日娜 |
| 地址: | 100083 北京市海淀*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 非易失 存儲器 處理 方法 裝置 | ||
本發(fā)明實施例提供了一種非易失存儲器讀處理方法及裝置,該方法包括:在對所述非易失存儲器執(zhí)行讀處理的情況下,驗證第一存儲頁的電平狀態(tài);在所述第一存儲頁的電平狀態(tài)為低電平的情況下,從所述第一存儲頁中讀取數(shù)據(jù),且,根據(jù)第一預(yù)設(shè)跳變值跳變到第二存儲頁,以驗證所述第二存儲頁的電平狀態(tài);其中,所述第二存儲頁的第二存儲地址為:所述第一存儲頁的第一存儲地址與所述第一預(yù)設(shè)跳變值的和;所述第一預(yù)設(shè)跳變值為自然數(shù)。本發(fā)明實施例因為第一預(yù)設(shè)跳變值可以是任意的自然數(shù),因此,使得本發(fā)明實施例的讀處理方法中,可以靈活適應(yīng)不同的讀取方式,因此不會造成無效驗證,能夠有效提升讀處理的效率。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及存儲器處理技術(shù)領(lǐng)域,特別是涉及一種非易失存儲器讀處理方法及裝置。
背景技術(shù)
隨著各種電子裝置及嵌入式系統(tǒng)等的發(fā)展,非易失性存儲器件得到較多發(fā)展。示例的,以非易失性存儲器NAND閃存(NAND Flash Memory)為例,NAND閃存通過對Memorycell(存儲單元)進行讀寫擦操作來存儲數(shù)據(jù),具有改寫速度快,存儲容量大等優(yōu)點,被廣泛使用到電子產(chǎn)品中。在非易失存儲器進行讀操作時,通常是以存儲頁(page)為單位進行讀取,讀操作可以包括兩個階段,第一個階段驗證page的電平狀態(tài),在確定page為低電平狀態(tài)后,進入第二階段,第二階段為從該page中讀取數(shù)據(jù)的階段。
現(xiàn)有技術(shù)中,為了提升讀處理的效率,通常采用cache read(高速緩存存儲器讀處理)的方式進行,示例的,如圖1所示,在cache read模式中,在第一階段當(dāng)驗證出其中一個page電平為低電平后,在第二階段從該page中讀取數(shù)據(jù)的同時,并行執(zhí)行驗證與該page相鄰的下一個page的電平狀態(tài)的操作,以上述的其中一個page的地址為m為例,如圖1所示,在驗證出該其中一個page的電平為低電平后,并行執(zhí)行從該其中一個page讀取數(shù)據(jù),以及,跳到地址為m+1的下一個page進行電平驗證的過程,依次類推,每次跳變只是在上一個page地址的基礎(chǔ)上加1進行。
然而,發(fā)明人在研究上述技術(shù)方案的過程中發(fā)現(xiàn),上述技術(shù)方案存在如下缺陷:用戶在向page中寫數(shù)據(jù)時,不一定是在連續(xù)地址中寫入,示例的,用戶可能在寫入時,只是在偶數(shù)地址的page寫入,則根據(jù)現(xiàn)有技術(shù)中的每次跳變只是在上一個page地址的基礎(chǔ)上加1進行的方式,則每次在偶數(shù)地址讀數(shù)據(jù)時,會跳變到奇數(shù)地址的page中,而該奇數(shù)地址的page中并沒有寫入數(shù)據(jù),也無法讀取數(shù)據(jù),即該跳變?yōu)闊o效跳變,不能起到提升讀處理的效率的作用。
發(fā)明內(nèi)容
鑒于上述問題,提出了本發(fā)明實施例的一種非易失存儲器讀處理方法及裝置,以提升讀處理的效率。
根據(jù)本發(fā)明的第一方面,提供了一種非易失存儲器讀處理方法,所述方法包括:
在對所述非易失存儲器執(zhí)行讀處理的情況下,驗證第一存儲頁的電平狀態(tài);
在所述第一存儲頁的電平狀態(tài)為低電平的情況下,從所述第一存儲頁中讀取數(shù)據(jù),且,根據(jù)第一預(yù)設(shè)跳變值跳變到第二存儲頁,以驗證所述第二存儲頁的電平狀態(tài);其中,所述第二存儲頁的第二存儲地址為:所述第一存儲頁的第一存儲地址與所述第一預(yù)設(shè)跳變值的和;所述第一預(yù)設(shè)跳變值為自然數(shù)。
可選的,所述在所述第一存儲頁為低電平的情況下,從所述第一存儲頁中讀取數(shù)據(jù),且,根據(jù)第一預(yù)設(shè)跳變值跳變到第二存儲頁,以驗證所述第二存儲頁的電平狀態(tài)之前,還包括:
接收第一跳變指令;其中,所述第一跳變指令包括:所述第一預(yù)設(shè)跳變值。
可選的,所述在所述第一存儲頁為低電平的情況下,從所述第一存儲頁中讀取數(shù)據(jù),且,根據(jù)第一預(yù)設(shè)跳變值跳變到第二存儲頁,以驗證所述第二存儲頁的電平狀態(tài)之后,還包括:
在所述第二存儲頁的電平狀態(tài)為低電平的情況下,從所述第二存儲頁中讀取數(shù)據(jù),且,根據(jù)第一預(yù)設(shè)跳變值跳變到第三存儲頁,以驗證所述第三存儲頁的電平狀態(tài);其中,所述第三存儲頁的第三存儲地址為:所述第二存儲地址與所述第一預(yù)設(shè)跳變值的和。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于北京兆易創(chuàng)新科技股份有限公司;西安格易安創(chuàng)集成電路有限公司,未經(jīng)北京兆易創(chuàng)新科技股份有限公司;西安格易安創(chuàng)集成電路有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
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