[發明專利]顯示裝置、用于測試顯示裝置的設備和方法

在審

• 申請號: 201910379984.1
• 申請日: 2019-05-08
• 公開（公告）號: CN110459152A
• 公開（公告）日: 2019-11-15
• 發明（設計）人: 金孝中;金埈煥;樸鍾宇;崔大根;孫在植;崔榮太
• 申請（專利權）人: 三星顯示有限公司
• 主分類號: G09G3/00
• 分類號: G09G3/00
• 代理公司: 11286 北京銘碩知識產權代理有限公司
• 代理人: 程月;尹淑梅<國際申請>=<國際公布>=

1.一種顯示裝置，所述顯示裝置包括：

第一基底，具有限定在所述第一基底上的顯示區域和非顯示區域，所述非顯示區域設置在所述顯示區域的外側上；

多個測試墊，設置在所述非顯示區域中；以及

第一虛設薄膜晶體管，設置在所述非顯示區域中并且電連接到所述測試墊，

其中，所述第一虛設薄膜晶體管包括：虛設柵電極；以及虛設源電極和虛設漏電極，與所述虛設柵電極絕緣并且彼此間隔開，

其中，所述第一基底上限定有彎曲區域，所述彎曲區域至少部分地橫跨所述顯示區域和所述非顯示區域，并且

其中，所述第一虛設薄膜晶體管與所述彎曲區域疊置。

2.根據權利要求1所述的顯示裝置，所述顯示裝置還包括第二虛設薄膜晶體管，所述第二虛設薄膜晶體管與所述第一虛設薄膜晶體管相鄰設置。

3.根據權利要求2所述的顯示裝置，其中，所述第一虛設薄膜晶體管中限定有穿過所述虛設源電極和所述虛設漏電極的第一參考線，

其中，所述第二虛設薄膜晶體管中限定有第二參考線，并且

其中，所述第一參考線和所述第二參考線在不同的方向上延伸。

4.根據權利要求3所述的顯示裝置，其中，所述第一參考線垂直于所述第二參考線。

5.根據權利要求3所述的顯示裝置，其中，所述測試墊包括：

第一測試墊、第二測試墊和第三測試墊，連接到所述第一虛設薄膜晶體管，以及

第四測試墊、第五測試墊和第六測試墊，連接到所述第二虛設薄膜晶體管。

6.根據權利要求5所述的顯示裝置，其中，所述第一虛設薄膜晶體管和所述第二虛設薄膜晶體管設置在所述第一測試墊至所述第三測試墊與所述第四測試墊至所述第六測試墊之間，

其中，所述第一測試墊、所述第二測試墊和所述第三測試墊平行布置，并且

其中，所述第四測試墊、所述第五測試墊和所述第六測試墊平行布置。

7.根據權利要求3所述的顯示裝置，所述顯示裝置還包括：

第三虛設薄膜晶體管，在所述第三虛設薄膜晶體管中限定有第三參考線；以及

第四虛設薄膜晶體管，在所述第四虛設薄膜晶體管中限定有第四參考線，

其中，所述第一參考線、所述第二參考線、所述第三參考線和所述第四參考線在不同的方向上延伸。

8.根據權利要求1所述的顯示裝置，所述顯示裝置還包括柔性印刷電路板，所述柔性印刷電路板連接到所述第一基底的所述非顯示區域，

其中，所述第一虛設薄膜晶體管與所述柔性印刷電路板疊置。

9.根據權利要求1所述的顯示裝置，所述顯示裝置還包括虛設半導體圖案層，所述虛設半導體圖案層與所述虛設柵電極、所述虛設漏電極和所述虛設源電極疊置。

10.根據權利要求1所述的顯示裝置，其中，多個像素形成在所述顯示區域中，

其中，所述多個像素中的每個像素包括至少一個開關元件，并且

其中，所述至少一個開關元件具有與所述第一虛設薄膜晶體管的形狀相同的形狀。

11.一種用于測試顯示裝置的設備，所述設備包括：

測試電路膜，連接到第一基底，所述第一基底具有限定在所述第一基底上的顯示區域和非顯示區域，其中，所述非顯示區域設置在所述顯示區域的外側上，并且所述第一基底包括設置在所述非顯示區域中的第一虛設薄膜晶體管以及連接到所述第一虛設薄膜晶體管的多個測試墊；

連接墊，形成在所述測試電路膜的一側上并且分別電連接到所述測試墊；以及

測量儀，連接到所述測試電路膜，

其中，所述第一基底上限定有彎曲區域，所述彎曲區域至少部分地橫跨所述顯示區域和所述非顯示區域，

其中，所述第一虛設薄膜晶體管與所述彎曲區域疊置，并且

其中，所述測量儀檢查所述彎曲區域對所述第一虛設薄膜晶體管的影響。