[發(fā)明專利]一種削減光罩層數(shù)的半導(dǎo)體功率器件及其制備方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201910376363.8 | 申請(qǐng)日: | 2019-05-07 |
| 公開(公告)號(hào): | CN110047934A | 公開(公告)日: | 2019-07-23 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 丁磊;侯宏偉 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 張家港凱思半導(dǎo)體有限公司;江蘇協(xié)昌電子科技股份有限公司;張家港凱誠(chéng)軟件科技有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01L29/78 | 分類號(hào): | H01L29/78;H01L21/336 |
| 代理公司: | 南京天華專利代理有限責(zé)任公司 32218 | 代理人: | 夏平 |
| 地址: | 215612 江蘇省蘇州市張*** | 國(guó)省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 外圍 光罩層 半導(dǎo)體功率器件 第一導(dǎo)電類型 絕緣介質(zhì)層 溝槽內(nèi)壁 硬掩膜層 注入層 制備 半導(dǎo)體基板 導(dǎo)電多晶硅 導(dǎo)電類型 第一表面 柵氧化層 制造成本 削減 金屬層 上表面 外延層 填滿 覆蓋 保證 | ||
本發(fā)明提出一種削減光罩層數(shù)的半導(dǎo)體功率器件及其制備方法,其在半導(dǎo)體基板的第一導(dǎo)電類型外延層上表面開設(shè)第一溝槽和第二溝槽,第一溝槽和第二溝槽之間、第二溝槽相互之間的第一表面上均設(shè)置有硬掩膜層;第一溝槽內(nèi)壁及其外圍、第二溝槽內(nèi)壁及其外圍設(shè)有柵氧化層,第一溝槽內(nèi)、第二溝槽內(nèi)填滿導(dǎo)電多晶硅,第一溝槽及其外圍、第二溝槽及其外圍、硬掩膜層上方均覆蓋有絕緣介質(zhì)層;第一溝槽之間及其外圍、第二溝槽外圍均從上至下設(shè)有第一導(dǎo)電類型注入層和第二導(dǎo)電類型注入層;第一溝槽及其外圍上方的絕緣介質(zhì)層上覆蓋有金屬層。本發(fā)明在保證器件的性能和可靠性的基礎(chǔ)上,光罩層數(shù)減少至3層,有效降低制造成本。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明屬于半導(dǎo)體技術(shù)領(lǐng)域,尤其是一種削減光罩層數(shù)的半導(dǎo)體功率器件及其制備方法。
背景技術(shù)
高電壓、大功率的溝槽型MOS器件產(chǎn)品依然在使用六層光刻甚至八層光刻的制造技術(shù),其成本高、制造周期長(zhǎng)、競(jìng)爭(zhēng)力低。
現(xiàn)有中國(guó)專利ZL 201010003953.5中公開了《溝槽型大功率MOS器件及其制造方法》,涉及了一種利用6次光刻技術(shù)制造的溝槽型MOS器件;其基本工藝步驟包括:
(1)、場(chǎng)氧化層生長(zhǎng)
(2)、有源區(qū)刻蝕(光刻層次1)
(3)、保護(hù)環(huán)區(qū)域刻蝕、離子注入,熱處理形成終端保護(hù)結(jié)構(gòu)(光刻層次2)
(4)、硬掩膜生長(zhǎng)及選擇性刻蝕,定義溝槽刻蝕的區(qū)域(光刻層次3)
(5)、利用硬掩膜選擇性地進(jìn)行溝槽刻蝕
(6)、生長(zhǎng)柵氧化層,淀積導(dǎo)電多晶硅
(7)、刻蝕導(dǎo)電多晶硅
(8)、注入第二類型雜質(zhì)離子,熱處理形成第二類型阱層
(9)、光刻形成第一類型雜質(zhì)離子注入?yún)^(qū)域,注入第一類型雜質(zhì)離子,熱處理形成第一類型注入?yún)^(qū)(光刻層次4)
(10)、淀積絕緣介質(zhì)層
(11)、光刻定義引線孔區(qū),刻蝕形成引線孔(光刻層次5)
(12)、淀積金屬層,光刻形成金屬電極(光刻層次6)
專利ZL 201010003953.5中發(fā)明的溝槽型MOS器件,采用六次光刻的制造技術(shù),其制造成本高、生產(chǎn)周期長(zhǎng)、競(jìng)爭(zhēng)力低。
現(xiàn)有中國(guó)專利ZL 200710302461.4中公開了《一種深溝槽大功率MOS器件及其制造方法》,涉及了一種利用四次光刻技術(shù)制造的溝槽型功率MOS器件;其發(fā)明結(jié)構(gòu)如所述專利ZL 200710302461.4中圖4所示,其發(fā)明的基本思想為:一種溝槽型MOS器件,在俯視平面上,包含中心區(qū)的有源區(qū)和外圍的終端保護(hù)結(jié)構(gòu);所述終端保護(hù)結(jié)構(gòu)由溝槽型的保護(hù)環(huán)及一個(gè)溝槽型的截止環(huán)組成;所述保護(hù)環(huán)的溝槽位于輕摻雜的第二導(dǎo)電類型注入層,深度深入第二導(dǎo)電類型注入層下方的第一導(dǎo)電類型注入層。
隨著溝槽型MOS器件設(shè)計(jì)和工藝的不斷成熟,其市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)日益激烈,降低器件的制造成本,提高器件的性能及可靠性日趨重要。在不影響器件性能的前提下,減少器件制造工藝中的光刻次數(shù)是降低器件成本的重要手段之一。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明所解決的技術(shù)問題在于:提供一種削減光罩層數(shù)的半導(dǎo)體功率器件,及該半導(dǎo)體功率器件的制備方法,制造工藝簡(jiǎn)單,有效降低了制造成本。
實(shí)現(xiàn)本發(fā)明目的的技術(shù)解決方案為:
一種削減光罩層數(shù)的半導(dǎo)體功率器件,包括半導(dǎo)體基板,所述半導(dǎo)體基板包括重?fù)诫s的第一導(dǎo)電類型襯底和輕摻雜的第一導(dǎo)電類型外延層,第一表面為第一導(dǎo)電類型外延層的上表面;
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- 專利分類
H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L29-00 專門適用于整流、放大、振蕩或切換,并具有至少一個(gè)電位躍變勢(shì)壘或表面勢(shì)壘的半導(dǎo)體器件;具有至少一個(gè)電位躍變勢(shì)壘或表面勢(shì)壘,例如PN結(jié)耗盡層或載流子集結(jié)層的電容器或電阻器;半導(dǎo)體本體或其電極的零部件
H01L29-02 .按其半導(dǎo)體本體的特征區(qū)分的
H01L29-40 .按其電極特征區(qū)分的
H01L29-66 .按半導(dǎo)體器件的類型區(qū)分的
H01L29-68 ..只能通過對(duì)一個(gè)不通有待整流、放大或切換的電流的電極供給電流或施加電位方可進(jìn)行控制的
H01L29-82 ..通過施加于器件的磁場(chǎng)變化可控的





