[發(fā)明專利]一種主動(dòng)偏振光逆反射體探測(cè)方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201910376220.7
• 申請(qǐng)日: 2019-05-07
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN110260975B
• 公開(kāi)（公告）日: 2021-04-16
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 楊星;朱東濤;胡以華;趙楠翔;邵慧;鄭超
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 中國(guó)人民解放軍國(guó)防科技大學(xué)
• 主分類號(hào): G01J4/00
• 分類號(hào): G01J4/00
• 代理公司: 北京和信華成知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11390
• 代理人: 胡劍輝

1.一種主動(dòng)偏振光逆反射體探測(cè)方法，其特征在于，該方法包括下述步驟：

步驟一：在激光器的出射光先后通過(guò)λ/4玻片和起偏器，λ/4波片內(nèi)有β角，起偏器內(nèi)有α角；首先僅調(diào)整起偏器并旋轉(zhuǎn)α分別為0°,45°，90°，135°，產(chǎn)生四種角度線偏振光；其次再調(diào)整α為0°時(shí)加入λ/4玻片，旋轉(zhuǎn)λ/4玻片使β角分別為+45°和-45°,產(chǎn)生左旋和右旋兩種圓偏振光，獲取Stokes矢量；

步驟二：將四種角度線偏振光和兩種圓偏振光分別照射逆反射體上，利用Mueller矩陣和逆反射特性分析反射光偏振態(tài)和強(qiáng)度；

步驟三：將不同的偏振光經(jīng)過(guò)逆反射體反射回來(lái)的光，通過(guò)對(duì)應(yīng)角度的檢偏器分別進(jìn)行成像探測(cè)；

步驟四：由于不同材料逆反射體偏振不同，將所采集的不同主動(dòng)偏振光下圖像，進(jìn)行圖像對(duì)比度比較，選擇出對(duì)比度真大的圖像，對(duì)圖像篩選出灰度值高于平均值的區(qū)域，采用局部灰度模板匹配法進(jìn)行逆反射體檢測(cè)；所述局部灰度模板匹配法為根據(jù)逆反射體區(qū)域灰度值大于背景區(qū)域灰度值兩倍以上建立的局部灰度模板，再根據(jù)歐式距離，小于設(shè)定的距離閾值確定為逆反射體，檢測(cè)出逆反射體。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種主動(dòng)偏振光逆反射體探測(cè)方法，其特征在于，所述背景為視場(chǎng)中除逆反射體之外的區(qū)域背景。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種主動(dòng)偏振光逆反射體探測(cè)方法，其特征在于，所述逆反射體包括采用逆反射材料制成的交通標(biāo)識(shí)、車牌及服飾。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種主動(dòng)偏振光逆反射體探測(cè)方法，其特征在于，所述逆反射體的偏振屬性受其結(jié)構(gòu)材料影響，不同結(jié)構(gòu)材料的偏振屬性不同。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種主動(dòng)偏振光逆反射體探測(cè)方法，其特征在于，b角為l/4玻片的快軸與參考軸所成角度；a角為起偏器的透光軸與參考軸成角。