[發(fā)明專利]一種繼電保護(hù)通用測(cè)試用例框架體系的建立方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201910376090.7 | 申請(qǐng)日: | 2019-05-07 |
| 公開(公告)號(hào): | CN110174609B | 公開(公告)日: | 2022-03-18 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 王偉;賀春;李志勇;趙華云;李蕾;張又珺;傅潤煒;劉洛陽;賈德峰;楊可標(biāo);張彥兵;范艷峰;劉園偉;李梁;孫迅雷 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 許昌開普檢測(cè)研究院股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01R31/327 | 分類號(hào): | G01R31/327 |
| 代理公司: | 北京科億知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11350 | 代理人: | 趙蕊紅 |
| 地址: | 461000 河南*** | 國省代碼: | 河南;41 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 保護(hù) 通用 測(cè)試 框架 體系 建立 方法 | ||
一種繼電保護(hù)通用測(cè)試用例框架體系的建立方法以現(xiàn)有的各種類型的保護(hù)裝置,參考相關(guān)設(shè)計(jì)規(guī)范進(jìn)行最大化定值清單編制,并以定制清單中的變量為基礎(chǔ)結(jié)合基礎(chǔ)操作建立基礎(chǔ)功能庫,按照定制清單中的定值互相關(guān)聯(lián)快速建立全部保護(hù)產(chǎn)品類型模板庫,根據(jù)測(cè)試產(chǎn)品的實(shí)際情況填寫定值清單,并聯(lián)合已建立好的產(chǎn)品類型模板庫快速生成測(cè)試實(shí)例,并參照已建立好的定值清單庫中的數(shù)據(jù)自動(dòng)進(jìn)行測(cè)試、數(shù)據(jù)記錄和誤差判定。本發(fā)明的繼電保護(hù)通用測(cè)試用例框架體系的建立方法還適用于多臺(tái)同類型裝置的測(cè)試,提高了檢測(cè)的效率。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及繼電保護(hù)功能測(cè)試領(lǐng)域,特別是涉及一種繼電保護(hù)通用測(cè)試用例框架體系的建立方法。
背景技術(shù)
目前,繼電保護(hù)功能測(cè)試可完成現(xiàn)場(chǎng)大多數(shù)實(shí)驗(yàn)檢定工作,可對(duì)各種繼電器及微機(jī)保護(hù)進(jìn)行檢定,例如電流、電壓、反時(shí)限、功率方向、阻抗、差動(dòng)、低周、同期、頻率、直流、中間以及時(shí)間等,并且可以模仿單相至三相的瞬時(shí)性、永久性和裝換性故障進(jìn)行整組實(shí)驗(yàn)。繼電保護(hù)功能測(cè)試的測(cè)試對(duì)象為繼電保護(hù)裝置,電壓等級(jí)的差異以及所保護(hù)的元器件的不同都造成了不同種類的繼電保護(hù)裝置,各種保護(hù)類產(chǎn)品所包含的保護(hù)功能也不盡相同。例如各等級(jí)變壓器保護(hù)裝置、光纖差動(dòng)保護(hù)裝置、線路距離保護(hù)裝置、母線保護(hù)裝置、母聯(lián)保護(hù)裝置、備自投保護(hù)裝置以及電容器保護(hù)裝置等。不同的繼電保護(hù)裝置所需要的測(cè)試用例也不同。現(xiàn)有的繼電保護(hù)功能測(cè)試用例編制方式不足以滿足大部分的繼電保護(hù)裝置的自動(dòng)測(cè)試需求,如要測(cè)試還需要對(duì)測(cè)試用例進(jìn)行修改,用戶體驗(yàn)不好。
繼電保護(hù)功能測(cè)試的定值范圍以及誤差要求相差很大,根據(jù)相關(guān)檢測(cè)規(guī)程的規(guī)定,檢測(cè)機(jī)構(gòu)需要對(duì)繼電保護(hù)裝置保護(hù)功能的全范圍進(jìn)行檢測(cè)并根據(jù)誤差要求進(jìn)行判定。例如需要檢測(cè)繼電保護(hù)裝置的最大值和最小值,并抽測(cè)一個(gè)中間定值,根據(jù)被測(cè)的定值和誤差要求進(jìn)行判定。但定值范圍也會(huì)因不同的裝置而改變,對(duì)檢測(cè)工作造成不必要的麻煩。例如當(dāng)電流額定值不同時(shí),同一裝置的同一保護(hù)功能的定值范圍不同;不同的保護(hù)廠家的同一類型的保護(hù)裝置的定制范圍不相同;各廠家的同一保護(hù)或同一廠家的不同保護(hù)誤差要求不同。
當(dāng)產(chǎn)品、定值、誤差要求等變化和多臺(tái)測(cè)試需求出現(xiàn)時(shí),現(xiàn)有的繼電保護(hù)裝置需要重新修改測(cè)試用例以及其中的設(shè)置,甚至重新編制對(duì)應(yīng)的測(cè)試用例,還需要手動(dòng)進(jìn)行測(cè)試數(shù)據(jù)的記錄和人工判定。若要編制特定的測(cè)試用例去進(jìn)行測(cè)試則會(huì)產(chǎn)生巨大的工作量,且現(xiàn)有的繼電保護(hù)裝置測(cè)試用例編制方式不通用,費(fèi)時(shí)費(fèi)力,用戶體驗(yàn)不好。
因此,針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)不足,提供一種繼電保護(hù)通用測(cè)試用例框架體系的建立方法以克服現(xiàn)有技術(shù)不足甚為必要。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于避免現(xiàn)有技術(shù)的不足之處而提供一種繼電保護(hù)通用測(cè)試用例框架體系的建立方法,能夠快速適應(yīng)各種類型產(chǎn)品、不同保護(hù)功能、不同定制范圍、不同誤差要求的繼電保護(hù)裝置以及快速適應(yīng)多臺(tái)測(cè)試需求,方便測(cè)試的特點(diǎn)。
本發(fā)明的目的通過以下技術(shù)措施實(shí)現(xiàn)。
提供一種繼電保護(hù)通用測(cè)試用例框架體系的建立方法,通過如下步驟進(jìn)行:
步驟一、建立定值清單庫;
步驟二、建立基礎(chǔ)操作;
步驟三、建立基礎(chǔ)功能庫;
步驟四、綜合性建立產(chǎn)品類型模板庫;
步驟五、根據(jù)目標(biāo)產(chǎn)品特性生成實(shí)際測(cè)試用例,并記錄數(shù)據(jù)和進(jìn)行對(duì)測(cè)試對(duì)象的判定。
優(yōu)選的,上述的繼電保護(hù)通用測(cè)試用例框架體系的建立方法,還包括步驟六、為多臺(tái)同類型裝置分別生成與步驟五實(shí)際測(cè)試用例相同的測(cè)試用例。
優(yōu)選的,上述的繼電保護(hù)通用測(cè)試用例框架體系的建立方法,步驟一具體是對(duì)每種類型的保護(hù)裝置,根據(jù)設(shè)計(jì)規(guī)范,窮舉其對(duì)應(yīng)的最大化定值清單。
優(yōu)選的,上述的繼電保護(hù)通用測(cè)試用例框架體系的建立方法,定值清單的模板設(shè)置有清單庫定值名稱、裝置定值名稱、最小值、最大值、中間值、誤差1、誤差2和單位。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于許昌開普檢測(cè)研究院股份有限公司,未經(jīng)許昌開普檢測(cè)研究院股份有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201910376090.7/2.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過端—不過端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試
- 軟件測(cè)試系統(tǒng)及測(cè)試方法
- 自動(dòng)化測(cè)試方法和裝置
- 一種應(yīng)用于視頻點(diǎn)播系統(tǒng)的測(cè)試裝置及測(cè)試方法
- Android設(shè)備的測(cè)試方法及系統(tǒng)
- 一種工廠測(cè)試方法、系統(tǒng)、測(cè)試終端及被測(cè)試終端
- 一種軟件測(cè)試的方法、裝置及電子設(shè)備
- 測(cè)試方法、測(cè)試裝置、測(cè)試設(shè)備及計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)
- 測(cè)試裝置及測(cè)試系統(tǒng)
- 測(cè)試方法及測(cè)試系統(tǒng)
- 一種數(shù)控切削指令運(yùn)行軟件測(cè)試系統(tǒng)及方法





