[發明專利]一種測量爆轟驅動下飛片姿態的階梯支架型探針元件及其測試方法

有效

• 申請號: 201910373412.2
• 申請日: 2019-05-07
• 公開（公告）號: CN110057659B
• 公開（公告）日: 2021-08-10
• 發明（設計）人: 李曉杰;李科斌;閆鴻浩;王小紅;王宇新;孫明;曾翔宇;陳翔;王健
• 申請（專利權）人: 大連理工大學
• 主分類號: G01N3/02
• 分類號: G01N3/02;G01N3/313
• 代理公司: 大連理工大學專利中心 21200
• 代理人: 溫福雪;侯明遠

1.一種測量爆轟驅動下飛片姿態的階梯支架型探針元件(10)，其特征在于，所述的階梯支架型探針元件(10)的主體結構為階梯形支架(4)，包括上臺階面、傾斜面和下臺階面，上臺階面和下臺階面之間由傾斜面過渡 連接為一體；階梯形支架(4)的上臺階面、傾斜面和下臺階面的表面從外到內依次敷設屏蔽層(3)和齒狀結構層(2)；

對折的漆包電阻絲(1)沿齒狀結構層(2)鋪設，從上臺階面延伸至下臺階面，并從下臺階面末端引至側面形成兩個輸出端(5)；利用導電薄膜作為屏蔽層(3)，將漆包電阻絲(1)包覆固定；

齒狀結構層(2)為上部為齒狀的導電結構。

2.根據權利要求1所述的階梯支架型探針元件(10)，其特征在于，所述的齒狀結構層(2)的齒距為0.05～0.2mm，齒高與漆包電阻絲(1)外部的漆包層厚度比為5～20；齒狀結構層(2)采用金屬絲網、碳化鎢顆粒或具有一定粗糙度的顆粒狀導電涂層。

3.根據權利要求1或2所述的階梯支架型探針元件(10)，其特征在于，所述的階梯形支架(4)的厚度為1～20mm；所述的傾斜面與水平面的夾角在10°～80°之間；所述的上臺階面和下臺階面的階梯高度差為0.5～1.5倍裝藥厚度。

4.根據權利要求1或2所述的階梯支架型探針元件(10)，其特征在于，所述的階梯形支架(4)的材料選自金屬和硬質有機物。

5.一種用階梯支架型探針元件(10)測量爆轟驅動下飛片姿態的方法，其特征在于，步驟如下：

步驟1：將階梯支架型探針元件(10)沿爆轟波前進方向粘貼固定于待測飛片的外表面，其上臺階一側朝向起爆端，利用同軸電纜(12)使階梯支架型探針元件(10)的輸出端(5)與信號采集儀(13)相連，接口處使用屏蔽層(3) 包覆；

步驟2：在待測飛片上鋪設或填充炸藥(7)，起爆端插入雷管(6)；

步驟3：開啟信號采集儀(13)并設置試驗參數后起爆炸藥，通過信號采集儀(13)記錄階梯支架型探針元件(10)的電阻值變化引起的電壓或電流信號曲線；

步驟4：將電信號換算為電阻絲導通的時程曲線，利用階梯支架型探針元件(10)上臺階面電阻絲的數據獲得炸藥的爆速，利用傾斜面電阻絲的數據計算飛片的飛行軌跡，利用下臺階面電阻絲的數據獲得炸藥的對比爆速。