[發明專利]夯土建筑土料及評價夯土建筑土料的方法

有效

• 申請號: 201910369550.3
• 申請日: 2019-05-06
• 公開（公告）號: CN109987894B
• 公開（公告）日: 2021-04-09
• 發明（設計）人: 穆鈞;周鐵鋼;蔣蔚;梁增飛;顧倩倩;崔大鵬;楊雪紅;詹林鑫
• 申請（專利權）人: 土上（北京）建筑設計咨詢有限公司
• 主分類號: C04B28/00
• 分類號: C04B28/00;C04B20/00;G01N5/04
• 代理公司: 北京超凡宏宇專利代理事務所(特殊普通合伙) 11463
• 代理人: 肖麗

1.一種評價夯土建筑土料的方法，其特征在于，包括以下步驟：

根據夯土建筑土料獲得理論理想級配上限曲線、理論理想級配下限曲線、理論極限級配浮動上限曲線和理論極限級配浮動下限曲線；所述夯土建筑土料按質量百分比計，包括：礫石0-56.9%、砂粒32.04-65.95%、粉粒3.98-13.01%和黏粒7.08-21.04%；所述理論理想級配上限曲線所對應的配比為：礫石10.4%、砂粒59.92%、粉粒10.46%、黏粒19.22%；所述理論理想級配下限曲線對應的配比為：礫石50%、砂粒36.75%、粉粒4.36%、黏粒8.89%；所述理論極限級配浮動上限曲線對應的配比為：礫石0%、砂粒65.95%、粉粒13.01%、黏粒21.04%；所述理論極限級配浮動下限曲線對應的配比為：礫石56.9%、砂粒32.04%、粉粒3.98%、黏粒7.08%；粒徑大于2mm 的土粒被稱為礫石，粒徑在2mm 與0.02mm 之間的土粒稱為砂粒，粒徑在0.02mm 與0.002mm 之間的土粒稱為粉粒，小于0.002mm 的土粒稱為黏粒；

根據所述理論理想級配上限曲線和所述理論理想級配下限曲線獲得最優級配區間，根據所述理論極限級配浮動上限曲線和所述理論極限級配浮動下限曲線獲得極限最優級配區間；

使用篩分法和沉降法測定被測土樣的粒徑分布，獲得被測土樣級配曲線；

將所述被測土樣級配曲線與所述最優級配區間、所述極限最優級配區間比較，得出評估結果；

所述評估的過程包括：當所述被測土樣級配曲線落入所述最優級配區間，判定為優秀；當所述被測土料土樣級配曲線落入所述最優級配區間與所述極限最優級配區間之間，判定為合格；當所述被測土料土樣級配曲線在所述極限最優級配區間之外，判定為不合格。

2.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述夯土建筑土料按質量百分比計，包括：礫石10.4-50%、砂粒36.75-59.92%、粉粒4.36-10.46%和黏粒8.89-19.22%。

3.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述夯土建筑土料按質量百分比計，包括：

第一礫石0-34.14%、第二礫石0-22.76%、細砂12.64-24.95%、粗砂19.4-41%、粉粒3.98-13.01%和黏粒7.08-21.04%；

所述第一礫石為粒徑2-16mm的礫石，所述第二礫石為粒徑大于16mm、小于等于32mm的礫石；所述細砂為粒徑0.02-0.2mm的砂粒，所述粗砂為粒徑大于0.2mm、小于2mm的砂。

4.如權利要求3所述的方法，其特征在于，所述夯土建筑土料按質量百分比計，包括：

所述第一礫石10.4-30%、所述第二礫石0-20%、所述細砂14.45-22.72%、所述粗砂22.3-37.2%、所述粉粒4.36-10.46%和所述黏粒8.89-19.22%。

5.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述篩分法用于檢測被測土樣中粒徑大于0.08mm的不同粒徑的顆粒的質量百分比，所述沉降法用于檢測被測土樣中粒徑小于等于0.08mm的顆粒的質量百分比。

6.如權利要求5所述的方法，其特征在于，所述篩分法包括以下步驟：

按照由上至下孔徑依次變小的順序疊放多層篩盤，將所述被測土樣干燥至恒重后使用所述篩盤進行篩分；

將篩分后的每個所述篩盤逐一用水浸沒并清洗小顆粒，相鄰上一層篩盤的清洗物合并至下一層篩盤中；

將未過篩的顆粒和粒徑小于等于0.08mm的顆粒分別干燥至恒重，計算得到所述被測土樣中粒徑大于0.08mm的不同粒徑的顆粒的質量百分比。