[發明專利]一種基于透射式結構光照明的玻璃瑕疵檢測方法在審
| 申請號： | 201910368959.3 | 申請日： | 2019-05-05 |
| 公開（公告）號： | CN110031483A | 公開（公告）日： | 2019-07-19 |
| 發明（設計）人： | 駱聰;袁春輝;楊鵬 | 申請（專利權）人： | 蘇州天準科技股份有限公司 |
| 主分類號： | G01N21/958 | 分類號： | G01N21/958 |
| 代理公司： | 蘇州國誠專利代理有限公司 32293 | 代理人： | 王麗 |
| 地址： | 215163 *** | 國省代碼： | 江蘇;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 透射式結構 相位分布圖 玻璃樣品 玻璃瑕疵 調制度 分布圖 條紋 檢測 光照 結構光光源 面陣相機 驗證試驗 瑕疵檢測 打光 面陣 瑕疵 調制 成像 探測 圖像 玻璃 配置 | ||
1.一種基于透射式結構光照明的玻璃瑕疵檢測方法，其特征在于：其包括如下步驟：
S1、面陣相機設置于待檢玻璃樣品上方，調整所述面陣相機與待檢玻璃樣品之間的距離，以使得所述面陣相機對所述待檢玻璃樣品清晰成像；
S2、結構光光源設置于所述待檢玻璃樣品的正下方，所述結構光光源上的光強呈條紋分布；
S3、所述結構光光源的結構光條紋沿法向平移，平移距離為所述結構光光源周期的1/N，N＝3,4,5……；
S4、所述面陣相機對所述待檢玻璃樣品成像，所得圖像中的待檢玻璃樣品被所述結構光光源調制，使得待檢玻璃樣品圖像上出現明顯的條紋結構；
S5、重復N次所述步驟S3和S4，獲得N幅調制后的待檢玻璃樣品圖像，記圖像為Ij(j＝1,2,3，…N)；隨后根據獲得的N幅圖像通過N步相移算法計算出每個像素的條紋調制度和調制相位，獲得條紋調制度分布圖和相位分布圖，通過條紋調制度分布圖和相位分布圖實現了玻璃瑕疵的檢測。
2.根據權利要求1所述的一種基于透射式結構光照明的玻璃瑕疵檢測方法，其特征在于：所述結構光光源的光強呈正弦型、矩形、鋸齒形或者其他形式的周期條紋分布。
3.根據權利要求1所述的一種基于透射式結構光照明的玻璃瑕疵檢測方法，其特征在于：所述條紋的平移次數大于3次，所述條紋為等間距或變間距平移。
4.根據權利要求1所述的一種基于透射式結構光照明的玻璃瑕疵檢測方法，其特征在于：所述結構光光源通過液晶顯示器產生，所述液晶顯示器放置于所述待檢玻璃樣品下方一定離焦距離處，并滿足由所述面陣相機和結構光光源構成的成像系統對此位置的空間分辨率低于所述結構光光源周期的1/2。
5.根據權利要求1所述的一種基于透射式結構光照明的玻璃瑕疵檢測方法，其特征在于：所述結構光光源通過投影儀投影至毛玻璃上產生，所述毛玻璃放置于所述待檢玻璃樣品下方一定離焦距離處，并滿足由所述面陣相機和結構光光源構成的成像系統對此位置的空間分辨率低于所述結構光光源周期的1/2，所述投影儀位于所述毛玻璃下方；所述毛玻璃表面的微結構尺寸不大于所述面陣相機在所述毛玻璃表面的分辨率。
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