[發明專利]測量間隙的配置方法及裝置有效
| 申請號: | 201910365877.3 | 申請日: | 2019-04-30 |
| 公開(公告)號: | CN111294853B | 公開(公告)日: | 2023-01-10 |
| 發明(設計)人: | 雷珍珠 | 申請(專利權)人: | 展訊半導體(南京)有限公司 |
| 主分類號: | H04W24/08 | 分類號: | H04W24/08 |
| 代理公司: | 北京集佳知識產權代理有限公司 11227 | 代理人: | 吳敏 |
| 地址: | 210000 江蘇省南京市高新*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 測量 間隙 配置 方法 裝置 | ||
1.一種測量間隙的配置方法,應用于基站側,所述基站側配置有至少一個測量間隙比例因子,其特征在于,包括:
發送高層信令,所述高層信令包括至少一個測量間隙比例因子,每個測量間隙比例因子用于確定測量間隙周期;
發送測量放松信號,所述測量放松信號用于指示UE放松RRM測量;
計算測量放松比值;
根據所述測量放松比值,在所述至少一個測量間隙比例因子中確定目標測量間隙比例因子;以及
根據所述目標測量間隙比例因子和原始測量間隙周期確定目標測量間隙周期。
2.根據權利要求1所述的配置方法,其特征在于,所述測量放松信號包括減少異頻測量的頻率數目的指示。
3.根據權利要求2所述的配置方法,其特征在于,所述測量放松比值根據如下公式計算獲得:S=M/N*(1-x%);
其中,M為異頻頻率數目,N為UE收到所述測量放松信號后需要測量的異頻頻率數目,x%為同頻測量占用的測量間隙比例。
4.根據權利要求1所述的配置方法,其特征在于,所述測量放松信號包括增大RRM測量周期的指示。
5.根據權利要求4所述的配置方法,其特征在于,所述測量放松比值根據如下公式計算獲得:S=H*(1-x%);
其中,H為RRM測量周期的增大倍數,x%為同頻測量占用的測量間隙比例。
6.根據權利要求1所述的配置方法,其特征在于,所述確定目標測量間隙比例因子包括:
在所述至少一個測量間隙比例因子中選擇最接近所述測量放松比值的一個作為目標測量間隙比例因子,若存在多個最接近所述測量放松比值的測量間隙比例因子,則選擇較小的一個作為目標測量間隙比例因子。
7.一種測量間隙的配置方法,應用于UE側,其特征在于,包括:
接收至少一個測量間隙比例因子,所述測量間隙比例因子用于確定測量間隙周期;
當接收到測量放松信號后,計算測量放松比值;
根據所述測量放松比值,在所述至少一個測量間隙比例因子中確定目標測量間隙比例因子;以及
根據所述目標測量間隙比例因子和原始測量間隙周期確定目標測量間隙周期。
8.根據權利要求7所述的配置方法,其特征在于,所述測量放松信號包括減少異頻測量的頻率數目的指示。
9.根據權利要求8所述的配置方法,其特征在于,所述測量放松比值根據如下公式計算獲得:S=M/N*(1-x%);
其中,M為異頻頻率數目,N為UE收到所述測量放松信號后需要測量的異頻頻率數目,x%為同頻測量占用的測量間隙比例。
10.根據權利要求7所述的配置方法,其特征在于,所述測量放松信號包括增大RRM測量周期的指示。
11.根據權利要求10所述的配置方法,其特征在于,所述測量放松比值根據如下公式計算獲得:S=H*(1-x%);
其中,H為RRM測量周期的增大倍數,x%為同頻測量占用的測量間隙比例。
12.根據權利要求7所述的配置方法,其特征在于,所述確定目標測量間隙比例因子包括:
在所述至少一個測量間隙比例因子中選擇最接近所述測量放松比值的一個作為目標測量間隙比例因子,若存在多個最接近所述測量放松比值的測量間隙比例因子,則選擇較小的一個作為目標測量間隙比例因子。
13.一種測量間隙的配置裝置,位于基站側,包括存儲器和處理器,所述存儲器上存儲有可在所述處理器上運行的計算機程序,其特征在于,所述處理器執行所述程序時實現如權利要求1至6中任一所述的配置方法中的步驟。
14.一種測量間隙的配置裝置,位于UE側,包括存儲器和處理器,所述存儲器上存儲有可在所述處理器上運行的計算機程序,其特征在于,所述處理器執行所述程序時實現如權利要求7至12中任一所述的配置方法中的步驟。
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