[發(fā)明專利]一種主板上電前短路檢測(cè)方法及系統(tǒng)有效
申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201910363916.6 | 申請(qǐng)日: | 2019-04-30 |
公開(kāi)(公告)號(hào): | CN111948567B | 公開(kāi)(公告)日: | 2023-04-25 |
發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 文海舟;高華朋 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 烽火通信科技股份有限公司;烽火超微信息科技有限公司 |
主分類(lèi)號(hào): | G01R31/52 | 分類(lèi)號(hào): | G01R31/52 |
代理公司: | 武漢智權(quán)專利代理事務(wù)所(特殊普通合伙) 42225 | 代理人: | 沈林華 |
地址: | 430000 湖北省武*** | 國(guó)省代碼: | 湖北;42 |
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摘要: | |||
搜索關(guān)鍵詞: | 一種 主板 上電前 短路 檢測(cè) 方法 系統(tǒng) | ||
本發(fā)明公開(kāi)了一種主板上電前短路檢測(cè)方法及系統(tǒng),涉及計(jì)算機(jī)通信技術(shù)領(lǐng)域,本發(fā)明通過(guò)將其中任意一個(gè)被測(cè)模塊作為當(dāng)前被測(cè)模塊,將當(dāng)前被測(cè)模塊通過(guò)串聯(lián)電阻與電源模塊連通;檢測(cè)當(dāng)前被測(cè)模塊上的電壓值,若符合預(yù)設(shè)電壓值范圍,判定該被測(cè)模塊無(wú)對(duì)地短路,否則判定為異常;檢測(cè)其他被測(cè)模塊上的電壓值,若符合預(yù)設(shè)低電平范圍,判定當(dāng)前被測(cè)模塊與其他被測(cè)模塊之間無(wú)短路,否則判定為異常。該檢測(cè)方法能方便、準(zhǔn)確的檢測(cè)被測(cè)模塊是否對(duì)地短路,還能檢測(cè)被測(cè)模塊之間是否短路。同時(shí),只需要給被測(cè)模塊施加小于0.7v的檢測(cè)電壓,不影響檢測(cè)前后的主板上MOS管、寄存器的狀態(tài)。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及計(jì)算機(jī)通信技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種主板上電前短路檢測(cè)方法及系統(tǒng)。
背景技術(shù)
電腦機(jī)箱主板,又叫主機(jī)板(mainboard)、系統(tǒng)板(systemboard)或母板(motherboard);它分為商用主板和工業(yè)主板兩種。它安裝在機(jī)箱內(nèi),是微機(jī)最基本的也是最重要的部件之一。主板一般為矩形電路板,上面安裝了組成計(jì)算機(jī)的主要電路系統(tǒng),一般有BIOS芯片、I/O控制芯片、鍵和面板控制開(kāi)關(guān)接口、指示燈插接件、擴(kuò)充插槽、主板及插卡的直流電源供電接插件等元件。
在設(shè)計(jì)一款新的主板產(chǎn)品時(shí),或者主板產(chǎn)品出現(xiàn)故障之后的維修和反查的時(shí)候,檢測(cè)短路和開(kāi)路是一項(xiàng)必然需要進(jìn)行的過(guò)程。其中短路的檢查經(jīng)常是比較繁瑣并且費(fèi)事的一項(xiàng)工程。對(duì)主板產(chǎn)品做短路檢測(cè),通常的做法是使用萬(wàn)用表一個(gè)個(gè)量測(cè)主板的各個(gè)引腳以判斷是否有短路的發(fā)生,這種方法效率很低且不智能。
同時(shí),主板上很多MOS管、寄存器,現(xiàn)有短路檢測(cè)方法沒(méi)有針對(duì)主板工作的寄存器或者M(jìn)OS管開(kāi)關(guān)狀態(tài)等進(jìn)行專門(mén)保護(hù),在測(cè)試時(shí)給被測(cè)模塊施加電壓會(huì)影響主板所有寄存器以及開(kāi)關(guān)的狀態(tài),不能做到檢測(cè)前后主板狀態(tài)的一致。
發(fā)明內(nèi)容
針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)中存在的缺陷,本發(fā)明的目的在于提供一種主板上電前短路檢測(cè)方法及系統(tǒng),方便、準(zhǔn)確的檢測(cè)被測(cè)模塊是否對(duì)地短路,以及檢測(cè)被測(cè)模塊之間是否短路。
為達(dá)到以上目的,本發(fā)明采取的技術(shù)方案是:一種主板上電前短路檢測(cè)方法,其用于兩個(gè)或兩個(gè)以上被測(cè)模塊的短路檢測(cè),包括以下步驟:
將其中任意一個(gè)被測(cè)模塊作為當(dāng)前被測(cè)模塊,將當(dāng)前被測(cè)模塊通過(guò)串聯(lián)電阻與電源模塊連通,其他被測(cè)模塊均不連接電源模塊;
檢測(cè)當(dāng)前被測(cè)模塊上的電壓值,若符合預(yù)設(shè)電壓值范圍,判定當(dāng)前被測(cè)模塊無(wú)對(duì)地短路,否則判定為異常;
檢測(cè)其他被測(cè)模塊上的電壓值,若符合預(yù)設(shè)低電平范圍,判定當(dāng)前被測(cè)模塊與其他被測(cè)模塊之間無(wú)短路,否則判定為異常。
在上述方案的基礎(chǔ)上,所述方法還包括以下步驟:將當(dāng)前被測(cè)模塊通過(guò)串聯(lián)電阻與電源模塊連通之前,計(jì)算所述串聯(lián)電阻的最優(yōu)阻值,作為串聯(lián)電阻的阻值;
計(jì)算所述串聯(lián)電阻的最優(yōu)阻值的計(jì)算公式為:
最優(yōu)阻值R=RL/(2U-1)=R0*a/(U-a)*(2U-1),其中,RL為被測(cè)模塊對(duì)地等效電阻,U為電源模塊電源電壓,R0為先上檢測(cè)電阻的標(biāo)準(zhǔn)電阻,被測(cè)模塊的電壓值為a。
在上述方案的基礎(chǔ)上,所述預(yù)設(shè)電壓值范圍為0.4v至0.7v。
在上述方案的基礎(chǔ)上,所述預(yù)設(shè)低電平范圍為小于0.2v。
本發(fā)明還提供一種主板上電前短路檢測(cè)系統(tǒng),其用于兩個(gè)或兩個(gè)以上被測(cè)模塊的短路檢測(cè),包括:
電源模塊,用于提供電源;
串聯(lián)電阻,用于將其中任意一個(gè)被測(cè)模塊作為當(dāng)前被測(cè)模塊時(shí),將當(dāng)前被測(cè)模塊與電源模塊連通;
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- 同類(lèi)專利
- 專利分類(lèi)
G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過(guò)端—不過(guò)端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過(guò)測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法和檢測(cè)組件
- 檢測(cè)方法、檢測(cè)裝置和檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法以及記錄介質(zhì)
- 檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)設(shè)備及檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)組件、檢測(cè)裝置以及檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法及檢測(cè)程序
- 檢測(cè)電路、檢測(cè)裝置及檢測(cè)系統(tǒng)