[發明專利]核磁共振勻場方法、裝置、計算設備及核磁共振成像系統有效
| 申請號： | 201910361092.9 | 申請日： | 2019-04-30 |
| 公開（公告）號： | CN110074786B | 公開（公告）日： | 2022-12-06 |
| 發明（設計）人： | 徐威;蔣先旺;姜廣煜;方一 | 申請（專利權）人： | 上海東軟醫療科技有限公司;東軟醫療系統股份有限公司 |
| 主分類號： | A61B5/055 | 分類號： | A61B5/055 |
| 代理公司： | 北京博思佳知識產權代理有限公司 11415 | 代理人： | 林祥 |
| 地址： | 200241 上海市閔*** | 國省代碼： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 核磁共振 方法 裝置 計算 設備 核磁共振成像 系統 | ||
1.一種核磁共振勻場方法，其特征在于，包括：
獲得設定組織部位的成像體積內的磁場非均勻度數據；
利用針對所述設定組織部位預先獲得的感興趣組織區域選擇掩模，從所述磁場非均勻度數據中獲得感興趣組織區域的非均勻度數據，包括：將所述感興趣組織區域選擇掩模的數據與所述成像體積內的磁場非均勻度數據相乘，獲得感興趣組織區域的非均勻度數據；
基于所述感興趣組織區域的非均勻度數據計算勻場補償系數；
在對所述設定組織部位進行核磁共振成像時，基于所述勻場補償系數對感興趣組織區域內的磁場進行均勻度補償。
2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，通過以下方式獲得所述感興趣組織區域選擇掩模：
獲得所述設定組織部位的樣本圖像數據，所述樣本圖像數據包括感興趣組織區域的輪廓數據；
基于所述樣本圖像數據訓練神經網絡，以使所述神經網絡能夠得到所述感興趣組織區域的分割參數；
基于所述感興趣組織區域的分割參數和所述設定組織部位的圖像數據，得到感興趣組織區域選擇掩模。
3.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，通過以下方式獲得所述感興趣組織區域選擇掩模：
獲得所述設定組織部位的樣本圖像數據，所述樣本圖像數據包括感興趣組織區域的輪廓數據；
基于所述樣本圖像的數據訓練神經網絡，以使所述神經網絡能夠得到針對感興趣組織區域勾勒的輪廓；
基于針對所述設定組織部位的圖像數據所勾勒的輪廓得到感興趣組織區域選擇掩模。
4.一種核磁共振勻場裝置，其特征在于，包括：
采集單元，用于獲得設定組織部位的成像體積內的磁場非均勻度數據；
獲得單元，用于利用針對所述設定組織部位預先獲得的感興趣組織區域選擇掩模，從所述磁場非均勻度數據中獲得感興趣組織區域的非均勻度數據；
計算單元，用于基于所述感興趣組織區域的非均勻度數據計算勻場補償系數；
補償單元，用于在對所述設定組織部位進行核磁共振成像時，基于所述勻場補償系數對感興趣組織區域內的磁場進行均勻度補償；
其中，所述獲得單元具體用于：將所述感興趣組織區域選擇掩模的數據與所述成像體積內的磁場非均勻度數據相乘，獲得感興趣組織區域的非均勻度數據。
5.根據權利要求4所述的裝置，其特征在于，所述獲得單元所利用的感興趣組織區域選擇掩模通過以下方式獲得：
獲得所述設定組織部位的樣本圖像，所述樣本圖像包括感興趣組織區域的輪廓；
基于所述樣本圖像的數據訓練神經網絡，以使所述神經網絡能夠得到所述感興趣組織區域的分割參數；
基于所述感興趣組織區域的分割參數得到感興趣組織區域選擇掩模。
6.根據權利要求4所述的裝置，其特征在于，所述獲得單元所利用的感興趣組織區域選擇掩模通過以下方式獲得：
獲得所述設定組織部位的樣本圖像，所述樣本圖像包括感興趣組織區域的輪廓；
基于所述樣本圖像的數據訓練神經網絡，以使所述神經網絡能夠得到針對感興趣組織區域勾勒的輪廓；
基于所勾勒的輪廓得到感興趣組織區域選擇掩模。
7.一種計算設備，其特征在于，所述設備用于計算核磁共振成像系統對設定組織部位成像時感興趣組織區域內的磁場的勻場補償系數，所述設備包括：內部總線，以及通過內部總線連接的存儲器、處理器和外部接口；其中，
所述外部接口，用于從所述核磁共振成像系統獲取設定組織部位的成像體積內的磁場非均勻度數據，以及用于將勻場補償系數傳輸至所述核磁共振成像系統；
所述存儲器，用于存儲核磁共振勻場對應的機器可讀指令；
所述處理器，用于讀取所述存儲器上的所述機器可讀指令，并執行所述指令實現如下操作：
利用針對所述設定組織部位預先獲得的感興趣組織區域選擇掩模，從所述磁場非均勻度數據中獲得感興趣組織區域的非均勻度數據，包括：將所述感興趣組織區域選擇掩模的數據與所述成像體積內的磁場非均勻度數據相乘，獲得感興趣組織區域的非均勻度數據；
基于所述感興趣組織區域的非均勻度數據計算勻場補償系數。
8.一種核磁共振成像系統，其特征在于，包括計算設備、磁場發生器、信號探測器、掃描床和成像設備，其中，
所述計算設備，用于計算勻場補償系數，具體用于獲得設定組織部位的成像體積內的磁場非均勻度數據，利用針對所述設定組織部位預先獲得的感興趣組織區域選擇掩模，從所述磁場非均勻度數據中獲得感興趣組織區域的非均勻度數據，基于所述感興趣組織區域的非均勻度數據計算勻場補償系數，其中，利用針對所述設定組織部位預先獲得的感興趣組織區域選擇掩模包括：將所述感興趣組織區域選擇掩模的數據與所述成像體積內的磁場非均勻度數據相乘，獲得感興趣組織區域的非均勻度數據；
所述磁場發生器，用于對設定組織部位成像時，基于所述勻場補償系數在感興趣組織區域內產生均勻磁場；
所述信號探測器，用于向探測區域發送信號和從所述探測區域接收信號并成生成像數據；
所述掃描床，用于承載待檢測對象；
所述成像設備，用于獲取所述探測器的成像數據以生成圖像。
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