[發(fā)明專利]一種光模塊測試方法、裝置、系統(tǒng)及計(jì)算機(jī)存儲介質(zhì)

在審

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• 申請日: 2019-04-29
• 公開（公告）號: CN110061773A
• 公開（公告）日: 2019-07-26
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 龔正;張博;陳宏剛;胡蕾蕾;李鳳;丁蘭
• 申請（專利權(quán)）人: 武漢光迅科技股份有限公司
• 主分類號: H04B10/07
• 分類號: H04B10/07;H04W4/80
• 代理公司: 北京派特恩知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11270
• 代理人: 王軍紅;張穎玲

本發(fā)明實(shí)施例公開了一種光模塊測試方法、裝置、系統(tǒng)及計(jì)算機(jī)存儲介質(zhì)，方法包括：通過ZigBee網(wǎng)絡(luò)接收測試請求，所述測試請求包括測試板標(biāo)識；根據(jù)測試儀器的優(yōu)先級，依次確定所述測試儀器是否被使用，得到第一判斷結(jié)果；根據(jù)所述第一判斷結(jié)果確定所述測試儀器未被使用，根據(jù)所述測試儀器標(biāo)識以及所述測試板標(biāo)識，獲得對應(yīng)的開關(guān)通道標(biāo)識；根據(jù)所述開關(guān)通道標(biāo)識開啟對應(yīng)的開關(guān)通道，以使所述測試儀器、所述測試板通過所述開關(guān)通道測試光模塊。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及通信領(lǐng)域，尤其涉及一種光模塊測試方法、裝置及計(jì)算機(jī)存儲介質(zhì)。

背景技術(shù)

現(xiàn)有的光模塊測試系統(tǒng)，往往是多個(gè)光模塊共同使用一套測試儀器進(jìn)行測試。但是，在測試中的過程中，無法合理地分配測試儀器，測試儀器的利用率大大地降低，從而影響光模塊的測試效率。

因此，目前光模塊測試系統(tǒng)面臨的難題主要是如何合理地分配測試儀器。如何協(xié)調(diào)測試儀器是光模塊測試系統(tǒng)亟待解決的問題。

發(fā)明內(nèi)容

有鑒于此，本發(fā)明實(shí)施例為解決現(xiàn)有技術(shù)中存在的至少一個(gè)問題而提供一種光模塊測試方法、裝置、系統(tǒng)及計(jì)算機(jī)存儲介質(zhì)，合理協(xié)調(diào)測試儀器，提高測試儀器的使用效率，提高光模塊的測試效率。

為達(dá)到上述目的，本發(fā)明實(shí)施例的技術(shù)方案是這樣實(shí)現(xiàn)的：

第一方面，本發(fā)明實(shí)施例提供一種光模塊測試方法，所述方法包括：

通過ZigBee網(wǎng)絡(luò)接收測試請求，所述測試請求包括測試板標(biāo)識；

根據(jù)測試儀器的優(yōu)先級，依次確定所述測試儀器是否被使用，得到第一判斷結(jié)果；

根據(jù)所述第一判斷結(jié)果確定所述測試儀器未被使用，根據(jù)所述測試儀器標(biāo)識以及所述測試板標(biāo)識，獲得對應(yīng)的開關(guān)通道標(biāo)識；

根據(jù)所述開關(guān)通道標(biāo)識開啟對應(yīng)的開關(guān)通道，以使所述測試儀器、所述測試板通過所述開關(guān)通道測試光模塊。

上述技術(shù)方案中，所述根據(jù)測試儀器的優(yōu)先級，依次確定所述測試儀器是否被使用，得到第一判斷結(jié)果之后，還包括：

根據(jù)所述第一判斷結(jié)果確定所述測試儀器被使用，根據(jù)所述測試儀器的優(yōu)先級，依次確定所述測試儀器的等待隊(duì)列長度是否大于設(shè)定閾值，得到第二判斷結(jié)果；

根據(jù)所述第二判斷結(jié)果確定所述測試儀器的等待隊(duì)列長度小于或等于設(shè)定閾值，根據(jù)所述測試板標(biāo)識向所述測試板發(fā)送等待消息，所述等待消息用于指示所述測試板加入所述測試儀器的等待隊(duì)列中。

上述技術(shù)方案中，所述根據(jù)所述第一判斷結(jié)果確定所述測試儀器未被使用，根據(jù)所述測試儀器標(biāo)識以及所述測試板標(biāo)識，獲得對應(yīng)的開關(guān)通道標(biāo)識，包括：

根據(jù)所述第一判斷結(jié)果確定所述測試儀器未被使用，獲取所述測試儀器、所述測試板以及開關(guān)通道的對應(yīng)關(guān)系；

根據(jù)所述對應(yīng)關(guān)系、所述測試儀器標(biāo)識以及所述測試板標(biāo)識，獲得對應(yīng)的開關(guān)通道標(biāo)識。

上述技術(shù)方案中，所述根據(jù)測試儀器的優(yōu)先級，依次確定所述測試儀器是否被使用，包括：

根據(jù)測試儀器的優(yōu)先級，依次獲得所述測試儀器標(biāo)識；

根據(jù)所述測試儀器標(biāo)識獲得所述測試儀器的使用狀態(tài)標(biāo)識，根據(jù)所述測試儀器的使用狀態(tài)標(biāo)識確定所述測試儀器是否被使用。

上述技術(shù)方案中，所述根據(jù)測試儀器的優(yōu)先級，依次確定所述測試儀器是否被使用，包括：

根據(jù)測試儀器的優(yōu)先級，依次獲得所述測試儀器標(biāo)識；

根據(jù)所述測試儀器標(biāo)識獲得所述測試儀器的等待隊(duì)列，根據(jù)所述測試儀器的等待隊(duì)列長度確定所述測試儀器是否被使用。

上述技術(shù)方案中，所述方法還包括：