[發明專利]一種自適應光學模擬動態波前校正裝置及其校正方法有效
| 申請號: | 201910356787.8 | 申請日: | 2019-04-29 |
| 公開(公告)號: | CN109932817B | 公開(公告)日: | 2021-07-20 |
| 發明(設計)人: | 柯熙政;張丹玉 | 申請(專利權)人: | 西安理工大學 |
| 主分類號: | G02B27/00 | 分類號: | G02B27/00;G02F1/01;G01J9/00 |
| 代理公司: | 西安弘理專利事務所 61214 | 代理人: | 燕肇琪 |
| 地址: | 710048 陜*** | 國省代碼: | 陜西;61 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 自適應 光學 模擬 動態 校正 裝置 及其 方法 | ||
1.一種自適應光學模擬動態波前的校正方法,其特征在于,基于一種自適應光學模擬動態波前校正裝置進行校正,其特征在于,包括接收天線(3),所述接收天線(3)沿光路依次設置有準直鏡(4)、擴束系統(5)和分光棱鏡(6),所述分光棱鏡(6)沿反射光路設置有波前校正器(7),所述分光棱鏡(6)沿折射光路依次設置有縮束系統(8)和波前傳感器(9),所述波前校正器(7)連接有計算機;
所述擴束系統(5)包括平凸透鏡L1和凸平透鏡L2,所述 平凸述透鏡L1和凸平透鏡L2同軸設置,所述平凸透鏡L1的直徑尺寸小于凸平透鏡L2,所述平凸透鏡L1位于靠近接受天線(3)處;
所述縮束系統(8)包括平凸透鏡L3和凸平透鏡L4,所述平凸透鏡L3和凸平透鏡L4同軸設置,所述平凸透鏡L3的直徑尺寸大于凸平透鏡L4,所述平凸透鏡L3位于靠近分光棱鏡(6)處;
所述波前校正器(7)由變形鏡和變形鏡控制箱組成;
具體按照以下步驟實施:
步驟1、接收天線(3)接收動態畸變波前后,輸出動態畸變波前,接收天線輸出的動態畸變波前依次穿過準直鏡(4)、擴束系統(5)和分光棱鏡(6)后,分光棱鏡(6)反射動態畸變波穿過前波前校正器(7)輸入至計算機中;分光棱鏡(6)折射的動態畸變波穿過縮束系統(8)傳至波前傳感器(9);
步驟2、通過計算機采用ACE軟件進行波前傳感器和波前校正器的標定,利用波前傳感器(9)采集的數據,建立控制電壓和測量波前澤尼克(Zernike)系數的影響函數矩陣;
隨機設定波前的一組參考Zernike系數值,指定優化參數值以及波前校正器(7)的初始電壓值;
步驟3、利用步驟2得到的控制電壓和測量波前澤尼克(Zernike)系數的影響函數矩陣、參考Zernike系數值、優化參數值、波前校正器(7)的初始電壓值和當前波前傳感器(9)采集的數據,通過迭代算法更新波前校正器的控制電壓;
步驟4、將更新后的控制電壓信號加載到變形鏡的各個驅動上;
步驟5、將更新后的控制電壓作為初始電壓,重復步驟3至步驟4,觀察計算機ACE軟件的波前峰谷值和波前均方根值,進行動態模擬波前的實時校正,直至被測波面相對與參考波面偏差的峰值與谷值之差小于1.02λ,被測波面相對與參考波面的各點偏差的均方根值小于0.28λ時,停止操作,完成動態模擬波前的實時校正;
所述步驟3的具體按照以下步驟實施:
步驟3.1,設定參考Zernike系數值,并指定初始驅動電壓值為0;
步驟3.2,指定優化參數α,β的大小,將α和β代入公式計算參數Q和L,其中Q=(MTM+αI+βI)-1(MTM+βI),L=(MTM+βI)-1MT,M為zernike影響函數矩陣,I為單位矩陣;
步驟3.3,通過波前傳感器采集當前波前Zernike系數值;
步驟3.4,通過將參考Zernike系數值和通過波前傳感器采集到的當前波前Zernike系數值做差獲得Zernike系數誤差ek;
步驟3.5,將步驟2當中測得的Zernike影響函數矩陣以及步驟3.1,步驟3.3,步驟3.4當中所獲值代入迭代公式,計算需要施加到驅動器上的控制電壓Uk+1=Q(Uk+Lek),UK為此時刻電壓值;
步驟3.6,記錄此時的控制電壓,作為下一次驅動電壓計算時的上一次電壓值Uk=Uk+1。
2.根據權利要求1所述的一種自適應光學模擬動態波前的 校正方法,其特征在于,所述步驟2中建立控制電壓和測量波前澤尼克(Zernike)系數的影響函數矩陣的具體步驟如下:
步驟2.1,指定推拉總次數m,采集次數n以及有效驅動電壓大小,驅動器序列數初始為1;
步驟2.2,針對第一個驅動器發送正單位有效驅動電壓,其余驅動器均發送0單位的驅動電壓;
步驟2.3,通過波前傳感器采集n組此時的Zernike系數值,求和再取平均,獲得第一個驅動器一次正推拉所對應的Zernike系數值;
步驟2.4,針對第一個驅動器發送負單位有效驅動電壓,其余驅動器均發送0單位的驅動電壓;
步驟2.5,通過波前傳感器采集n組此時的Zernike系數值,求和再取平均,獲得第一個驅動器一次負推拉所對應的Zernike系數值;
步驟2.6,根據步驟2.3、2.5所獲的Zernike系數值進行做差,再除以2倍的有效驅動電壓值,即可獲得第一個驅動器與Zernike系數值之間的影響函數;
步驟2.7,將第一個驅動器的Zernike影響函數存入Zernike影響函數矩陣的對應列當中;
步驟2.8,按照驅動器排序,依次替換步驟3.2和步驟3.4當中的第一個驅動器,每更換一次驅動器,重復步驟3.2至步驟3.7獲得該驅動器與Zernike系數值之間的影響函數;
步驟2.9,將各個驅動器與Zernike系數值之間的影響函數按照對應順序排列,構成Zernike影響函數矩陣。
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