[發明專利]在線自檢及實時校正系統、方法及光波元件分析儀

在審

• 申請號: 201910355327.3
• 申請日: 2019-04-29
• 公開（公告）號: CN110068784A
• 公開（公告）日: 2019-07-30
• 發明（設計）人: 張愛國;韓順利;金輝;鞠軍委;曲天陽;張志輝
• 申請（專利權）人: 中國電子科技集團公司第四十一研究所
• 主分類號: G01R35/00
• 分類號: G01R35/00;G01M11/00
• 代理公司: 濟南圣達知識產權代理有限公司 37221
• 代理人: 張慶騫

1.一種在線自檢及實時校正系統，其特征在于，包括：控制器、第一光開關、第二光開關和標準光器件；

所述控制器，被配置為：

控制第一光開關和第二光開關均連接至標準光器件，形成光波元件分析儀內部光發射機、第一光開關、標準光器、第二光開關和光波元件分析儀內部光接收機依次相連的直通校準電路，實現光波元件分析儀的自檢；

當自檢完成后，控制第一光開關和第二光開關均與標準光器件斷開，切換連接至被測件，形成外部測試通路，實現光波元件分析儀的自檢與外部測試的在線無插拔自動切換。

2.如權利要求1所述的一種在線自檢及實時校正系統，其特征在于，所述控制器，還被配置為：

在光波元件分析儀的自檢過程中，比對自檢獲取的某一網絡參數曲線與內部存儲固化的相應網絡參數曲線，根據這兩個曲線的誤差大小，判斷相應網絡參數是否需要重新校準。

3.如權利要求2所述的一種在線自檢及實時校正系統，其特征在于，所述控制器，還被配置為：

當自檢獲取的某一網絡參數曲線與內部存儲固化的相應網絡參數曲線的誤差大于預設閾值時，將自檢獲取的某一網絡參數曲線與預存的標準光器件的相應網絡參數曲線進行比對，求得的誤差作為當前外部被測件的誤差修正因子，以提高被測件的網絡參數測試精度。

4.如權利要求2所述的一種在線自檢及實時校正系統，其特征在于，所述控制器，還被配置為：

當自檢獲取的某一網絡參數曲線與內部存儲固化的相應網絡參數曲線的誤差小于或等于預設閾值時，光波元件分析儀的相應網絡參數不需要重新校準。

5.一種如權利要求1所述的在線自檢及實時校正系統的工作方法，其特征在于，包括：

第一光開關和第二光開關均連接至標準光器件，形成光波元件分析儀內部光發射機、第一光開關、標準光器、第二光開關和光波元件分析儀內部光接收機依次相連的直通校準電路，實現光波元件分析儀的自檢；

當自檢完成后，第一光開關和第二光開關均與標準光器件斷開，切換連接至被測件，形成外部測試通路，實現光波元件分析儀的自檢與外部測試的在線無插拔自動切換。

6.如權利要求5所述的在線自檢及實時校正系統的工作方法，其特征在于，在光波元件分析儀的自檢過程中，比對自檢獲取的某一網絡參數曲線與內部存儲固化的相應網絡參數曲線，根據這兩個曲線的誤差大小，判斷相應網絡參數是否需要重新校準。

7.如權利要求6所述的在線自檢及實時校正系統的工作方法，其特征在于，當自檢獲取的某一網絡參數曲線與內部存儲固化的相應網絡參數曲線的誤差大于預設閾值時，將自檢獲取的某一網絡參數曲線與預存的標準光器件的相應網絡參數曲線進行比對，求得的誤差作為當前外部被測件的誤差修正因子，以提高被測件的網絡參數測試精度。

8.如權利要求6所述的在線自檢及實時校正系統的工作方法，其特征在于，當自檢獲取的某一網絡參數曲線與內部存儲固化的相應網絡參數曲線的誤差小于或等于預設閾值時，光波元件分析儀的相應網絡參數不需要重新校準。

9.一種光波元件分析儀，其特征在于，包括如權利要求1-4中任一項所述的在線自檢及實時校正系統。

10.如權利要求9所述的一種光波元件分析儀，其特征在于，所述光波元件分析儀，還包括：

矢量網絡分析儀；所述矢量網絡分析儀包括信號與數據處理單元，所述信號與數據處理單元與電發射機和電接收機分別相連，所述電發射機用于向光發射機發送電信號，所述光發射機用于將接收的電信號轉化成光信號，所述電接收機用于接收光接收機發送的電信號，所述光接收機用于將接收的光信號轉化成電信號發送至電接收機。