[發明專利]一種光電探測模塊的頻率響應標定裝置及方法有效
| 申請號： | 201910355302.3 | 申請日： | 2019-04-29 |
| 公開（公告）號： | CN109990822B | 公開（公告）日： | 2022-04-22 |
| 發明（設計）人： | 鞠軍委;張愛國;金輝;徐桂城;劉加慶;曲天陽;韓順利;張志輝;閆繼送 | 申請（專利權）人： | 中國電子科技集團公司第四十一研究所 |
| 主分類號： | G01D18/00 | 分類號： | G01D18/00;G01V13/00 |
| 代理公司： | 濟南圣達知識產權代理有限公司 37221 | 代理人： | 張慶騫 |
| 地址： | 266555 山*** | 國省代碼： | 山東;37 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 光電 探測 模塊 頻率響應 標定 裝置 方法 | ||
1.一種光電探測模塊的頻率響應標定裝置，其特征在于，包括：
電壓檢測模塊，其用于測量光電探測模塊的輸出電壓；
可調諧光源，其用于輸出不同波長范圍內的光至光電探測模塊；
可調穩壓源，其用于控制光電探測模塊的偏置電壓；
在特定波長λ0和特定偏置電壓V0下，記錄光電探測模塊的輸出電壓U0且測量光電探測模塊隨調制頻率的頻率響應Sf；然后分別調節可調諧光源和可調穩壓源，記錄在特定偏置電壓V0和不同光波長下光電探測模塊的輸出電壓Uλ，以及特定波長λ0和不同偏置電壓下光電探測模塊的輸出電壓UV；通過Uλ與U0求商，得到波長響應度校準因子αλ；通過UV與U0求商，得到偏置電壓校準因子βV；
將頻率響應Sf、波長響應度校準因子αλ和偏置電壓校準因子βV相乘，得到不同光波長、不同偏置電壓、不同調制頻率下的頻率響應參數，以提高光電探測的標定效率和測量精度；
在特定光波長及特定偏置電壓下，采用標準的光波元件分析儀來測量光電探測模塊隨調制頻率變化的頻率響應；在特定光波長及特定偏置電壓下，采用光外差法來測量光電探測模塊隨調制頻率變化的頻率響應。
2.如權利要求1所述的一種光電探測模塊的頻率響應標定裝置，其特征在于，所述電壓檢測模塊為電壓表。
3.一種光電探測模塊的頻率響應標定方法，其特征在于，包括：
在特定波長λ0和特定偏置電壓V0下，測量光電探測模塊的輸出電壓U0且測量光電探測模塊隨調制頻率的頻率響應Sf；
分別調節輸入至光電探測模塊中的光波長及偏置電壓，測量在特定偏置電壓V0和不同光波長下光電探測模塊的輸出電壓Uλ，以及特定波長λ0和不同偏置電壓下光電探測模塊的輸出電壓UV；
通過Uλ與U0求商，得到波長響應度校準因子αλ；通過UV與U0求商，得到偏置電壓校準因子βV；
將頻率響應Sf、波長響應度校準因子αλ和偏置電壓校準因子βV相乘，得到不同光波長、不同偏置電壓、不同調制頻率下的頻率響應參數，以提高光電探測的標定效率和測量精度；
在特定光波長及特定偏置電壓下，采用標準的光波元件分析儀來測量光電探測模塊隨調制頻率變化的頻率響應；在特定光波長及特定偏置電壓下，采用光外差法來測量光電探測模塊隨調制頻率變化的頻率響應。
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