[發(fā)明專利]引線牢固性測(cè)試方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201910354616.1
• 申請(qǐng)日: 2019-04-29
• 公開（公告）號(hào): CN110044684B
• 公開（公告）日: 2022-04-01
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 張魁;趙海龍;裴選;武利會(huì);宋玉璽;王玉征
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 中國電子科技集團(tuán)公司第十三研究所
• 主分類號(hào): G01N3/02
• 分類號(hào): G01N3/02;G01N3/04
• 代理公司: 石家莊國為知識(shí)產(chǎn)權(quán)事務(wù)所 13120
• 代理人: 郝偉

本發(fā)明適用于電子元器件檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域，提供一種引線牢固性測(cè)試方法，包括支撐組件、旋轉(zhuǎn)緊固座、至少一組滑動(dòng)緊固夾組件、指示盤以及引線緊固組件；旋轉(zhuǎn)緊固座設(shè)置在支撐組件上，旋轉(zhuǎn)緊固座包括與支撐組件轉(zhuǎn)動(dòng)連接的轉(zhuǎn)動(dòng)部、施力部以及裝夾安裝部，裝夾安裝部和施力部分別與轉(zhuǎn)動(dòng)部相連，指示盤上設(shè)有刻度。旋轉(zhuǎn)緊固座上設(shè)有指針部，指針部與指示盤配合顯示試驗(yàn)時(shí)引線的彎曲角度。本發(fā)明提供的引線牢固性測(cè)試方法，通過設(shè)置與支撐組件轉(zhuǎn)動(dòng)連接的旋轉(zhuǎn)緊固座、安裝在支撐組件上的引線緊固組件以及用于顯示試驗(yàn)時(shí)引線的彎曲角度的指針部和指示盤，能夠精確角度完成引線彎曲試驗(yàn)，借助砝碼后能夠分別完成引線疲勞試驗(yàn)及引線拉力試驗(yàn)。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明屬于電子元器件檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域，更具體地說，是涉及一種引線牢固性測(cè)試方法。

背景技術(shù)

引線牢固性試驗(yàn)包括引線彎曲試驗(yàn)、引線疲勞試驗(yàn)、引線拉力試驗(yàn)、引線扭力試驗(yàn)等，其中引線彎曲試驗(yàn)、引線疲勞試驗(yàn)及引線拉力試驗(yàn)的試驗(yàn)量占到了所有引線牢固性試驗(yàn)數(shù)量的99％以上。因此，發(fā)明引線牢固性測(cè)試方法，解決上述三項(xiàng)細(xì)分試驗(yàn)的問題后即可解決絕大多數(shù)試驗(yàn)問題。

引線彎曲試驗(yàn)用來測(cè)定引線密封和引線涂層的牢固性。目前現(xiàn)行最常用的國軍標(biāo)及方法為GJB 548B-2005《微電子器件試驗(yàn)方法和程序》方法2004.3-引線牢固性第6章：試驗(yàn)條件B1(彎曲應(yīng)力)。該方法是參考美軍標(biāo)MIL-STD-883E《微電路試驗(yàn)方法標(biāo)準(zhǔn)》(《Testmethod standard microcircuits》)方法2004.5-引線牢固性試驗(yàn)條件B1-彎曲應(yīng)力而制定的。本方法適用于易彎曲和半易彎曲引線、雙列封裝和針柵陣列封裝引線、剛性引線的彎曲試驗(yàn)。不同引線類型的彎曲試驗(yàn)程序中，均規(guī)定了不同的彎曲角度，對(duì)施力大小不作要求。

引線疲勞試驗(yàn)用于多次施加彎曲應(yīng)力的情況，主要用來測(cè)定引線在多次彎曲時(shí)的抗金屬疲勞性能。目前現(xiàn)行最常用的國軍標(biāo)及方法為GJB 548B-2005《微電子器件試驗(yàn)方法和程序》方法2004.3-引線牢固性第7章試驗(yàn)條件B2(引線疲勞)。該方法是參考美軍標(biāo)MIL-STD-883E《微電路試驗(yàn)方法標(biāo)準(zhǔn)》(《Test method standard microcircuits》)方法2004.5-引線牢固性試驗(yàn)條件B2-引線疲勞試驗(yàn)而制定的。不同類型引線的疲勞試驗(yàn)，使用不同的彎曲角度和施力大小，且不同的標(biāo)準(zhǔn)中，疲勞試驗(yàn)參數(shù)不盡相同。引線疲勞試驗(yàn)程序均為同一標(biāo)準(zhǔn)中的引線彎曲試驗(yàn)重復(fù)3次。

引線拉力試驗(yàn)是為檢查器件引線、焊接及密封的抗直線拉力能力。目前現(xiàn)行最常用的國軍標(biāo)及方法為GJB 548B-2005《微電子器件試驗(yàn)方法和程序》方法2004.3-引線牢固性第5章：試驗(yàn)條件A(拉力)。該方法是參考美軍標(biāo)MIL-STD-883E《微電路試驗(yàn)方法標(biāo)準(zhǔn)》(《Test method standard of microcircuits》)方法2004.5-引線牢固性試驗(yàn)條件B1-彎曲應(yīng)力而制定的。拉力試驗(yàn)程序如下：在與引線或引出端軸向平行的方向上，對(duì)被試驗(yàn)引線無沖擊地施加規(guī)定的力，并保持一定的時(shí)間。

目前市場(chǎng)上尚沒有一種能夠?qū)υ骷_角度進(jìn)行引線彎曲試驗(yàn)、引線疲勞試驗(yàn)同時(shí)還可進(jìn)行引線拉力試驗(yàn)的引線牢固性測(cè)試方法。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的目的在于提供一種引線牢固性測(cè)試方法，旨在實(shí)現(xiàn)借助一臺(tái)該引線牢固性測(cè)試方法精確角度完成引線彎曲試驗(yàn)、引線疲勞試驗(yàn)同時(shí)還可完成引線拉力試驗(yàn)。

為實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明采用的技術(shù)方案是：一種引線牢固性測(cè)試方法，包括：

支撐組件；

旋轉(zhuǎn)緊固座，設(shè)置在所述支撐組件上，用于為引線提供彎曲力，所述旋轉(zhuǎn)緊固座包括與所述支撐組件轉(zhuǎn)動(dòng)連接的轉(zhuǎn)動(dòng)部、施力部以及裝夾安裝部，所述裝夾安裝部和所述施力部分別與所述轉(zhuǎn)動(dòng)部相連；

至少一組滑動(dòng)緊固夾組件，安裝在所述裝夾安裝部上，用于固定元器件；

指示盤，固設(shè)在所述支撐組件上，所述指示盤上設(shè)有刻度；以及