[發明專利]一種氣井剩余潛力確定方法

有效

• 申請號: 201910350998.0
• 申請日: 2019-04-28
• 公開（公告）號: CN110130884B
• 公開（公告）日: 2022-05-10
• 發明（設計）人: 安紅燕;劉鵬程;張吉;范繼武;劉莉莉;王龍;王睿
• 申請（專利權）人: 中國石油天然氣股份有限公司
• 主分類號: E21B49/00
• 分類號: E21B49/00
• 代理公司: 西安通大專利代理有限責任公司 61200
• 代理人: 徐文權

1.一種氣井剩余潛力確定方法，其特征在于，包括以下步驟：

S1、根據氣井測井解釋結論，統計待評價井所在區塊內氣井的儲層物性參數；

S2、計算待評價井所在區塊內每口氣井的氣層累產因子K₁，計算公式如下：

式中：n₁為氣井的氣層個數；

h_i為氣井第i個氣層的厚度，單位為m；

φ_i為氣井第i個氣層的孔隙度；

s_i為氣井第i個氣層的含氣飽和度；

s₀為氣層儲層殘余氣飽和度；

S3、計算待評價井所在區塊內每口氣井含氣層累產因子K₂，計算公式如下：

其中：n₂為氣井含氣層個數；

h′_i為氣井第i個含氣層的厚度，單位為m；

φ′_i為氣井第i個含氣層的孔隙度；

s′_i為氣井第i個含氣層的含氣飽和度；

s′₀為含氣層儲層殘余氣飽和度；

a為氣井含氣層產氣貢獻系數，取值0～1；

S4、預測待評價井所在區塊內每口氣井全生命周期最終累計產氣量Q_累；

S5、采用正比例函數對待評價井所在區塊內氣井的Q_累和K₁+K₂數據關系進行擬合，得到擬合系數X，擬合函數如下：

Q_累＝X(K₁+K₂) (3)

式中：K₁為待評價氣井氣層累產因子；

K₂為待評價氣井含氣層累產因子；

X為擬合系數；

S6、根據待評價氣井的物性參數和氣井全生命周期最終累計產氣量Q_累，按照公式(4)評價氣井剩余潛力Q_剩余，

Q_剩余＝XY(K₁+K₂)-Q_累 (4)

其中：Y為誤差系數。

2.如權利要求1所述的一種氣井剩余潛力確定方法，其特征在于，所述步驟S1中，待評價井所在區塊內氣井的儲層物性參數包括：氣層的物性參數和含氣層的物性參數；所述物性參數包括：厚度、孔隙度、含水飽和度和束縛水飽和度。

3.如權利要求1所述的一種氣井剩余潛力確定方法，其特征在于，所述步驟S1中，所統計的氣井數量N不少于待評價井所在區塊內總井數的80％。

4.如權利要求1所述的一種氣井剩余潛力確定方法，其特征在于，所述步驟S4中，采用遞減分析法或者不穩定分析法或者壓降法預測單口井的Q_累。

5.如權利要求1所述的一種氣井剩余潛力確定方法，其特征在于，所述步驟S5的具體方法為：計算每口氣井的M值，所述M值按照如下公式計算，

M＝Q_累/(K₁+K₂) (5)

對所統計的N口氣井按照M值進行排序，并對序號∈(0.2N，0.8N)的氣井的Q_累和K₁+K₂，采用正比例函數進行擬合。

6.如權利要求1所述的一種氣井剩余潛力確定方法，其特征在于，所述步驟S6中，誤差系數Y的取值范圍為0.5～1。