[發明專利]一種直線位移測量裝置有效
| 申請號： | 201910349564.9 | 申請日： | 2019-04-28 |
| 公開（公告）號： | CN109974596B | 公開（公告）日： | 2021-11-26 |
| 發明（設計）人： | 王子忠;王晗;張平 | 申請（專利權）人： | 廣東工業大學 |
| 主分類號： | G01B11/02 | 分類號： | G01B11/02 |
| 代理公司： | 北京集佳知識產權代理有限公司 11227 | 代理人： | 羅滿 |
| 地址： | 510060 廣東省*** | 國省代碼： | 廣東;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 直線 位移 測量 裝置 | ||
1.一種直線位移測量裝置，其特征在于，包括光產生部、成像部和數據處理部，所述光產生部用于向所述成像部發出線結構光，所述成像部用于接收線結構光而對線結構光成像，所述數據處理部用于根據在所述光產生部和所述成像部之間發生位移前后所述成像部所成的線結構光圖像計算出所述光產生部和所述成像部之間的位移量；
所述數據處理部具體用于根據以下公式計算所述光產生部和所述成像部之間的位移量：
ΔL＝L-L0＝k(l-l0)；
其中，ΔL表示光產生部和成像部之間的位移量，L表示發生位移后光產生部和成像部之間的距離，l表示發生位移后成像部所成的線結構光圖像反映的線結構光長度，L0表示發生位移前光產生部和成像部之間的距離，l0表示發生位移前成像部所成的線結構光圖像反映的線結構光長度，k表示預設參數。
2.根據權利要求1所述的直線位移測量裝置，其特征在于，獲得預設參數k的方法包括：
設置所述光產生部和所述成像部之間的距離為第一預設值，并記錄此位置所述成像部所成的線結構光圖像反映的線結構光長度；
移動所述光產生部或者所述成像部，設置所述光產生部和所述成像部之間的距離為第二預設值，并記錄此位置所述成像部所成的線結構光圖像反映的線結構光長度；
根據以下公式計算預設參數k：
其中，L1表示第一預設值，L2表示第二預設值，l1表示光產生部和成像部之間的距離為第一預設值時成像部測得的線結構光長度，l2表示光產生部和成像部之間的距離為第二預設值時成像部測得的線結構光長度。
3.根據權利要求1所述的直線位移測量裝置，其特征在于，所述光產生部和所述成像部設置在導軌上，可沿導軌移動。
4.根據權利要求3所述的直線位移測量裝置，其特征在于，所述光產生部設置有底座且通過底座安裝在導軌上，所述成像部設置有底座且通過底座安裝在導軌上。
5.根據權利要求1所述的直線位移測量裝置，其特征在于，所述光產生部包括激光器，所述成像部包括圖像傳感器。
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