[發(fā)明專利]一種絕緣螺絲批絕緣性能測試裝置在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201910347552.2 | 申請日: | 2019-04-28 |
| 公開(公告)號: | CN110142232A | 公開(公告)日: | 2019-08-20 |
| 發(fā)明(設計)人: | 董子亮 | 申請(專利權)人: | 上海歐唯斯工具制造有限公司 |
| 主分類號: | B07C5/344 | 分類號: | B07C5/344;B07C5/02;B07C5/36;B07C5/38 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 201800 上*** | 國省代碼: | 上海;31 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 螺絲批 絕緣性能測試 工作區(qū)域 漏電檢測裝置 自動取放裝置 夾頭驅動件 夾持裝置 絕緣螺絲 驅動機構 夾頭 驅動夾持裝置 性能測試裝置 測試 測試過程 測試回路 測試裝置 導電裝置 絕緣器材 收儲裝置 性能檢測 控制器 收納箱 串接 取下 上料 下料 電源 驅動 回收 分類 保證 | ||
本發(fā)明公開了一種絕緣螺絲批絕緣性能測試裝置,涉及絕緣器材性能檢測技術領域,包括基座、控制器、夾持裝置和驅動機構,驅動機構驅動夾持裝置在設定工作區(qū)域內來回往復移動,性能測試裝置還包括設置于設定工作區(qū)域內的:漏電檢測裝置、自動取放裝置以及分類收儲裝置,被測螺絲批串接于漏電檢測裝置的電源及導電裝置之間構成測試回路,自動取放裝置包括夾頭以及夾頭驅動件,利用夾頭將螺絲批從夾持裝置上取下并經過夾頭驅動件驅動放置到設定的收納箱中回收,由于整個測試裝置在一圓形工作區(qū)域內來回往復運動,整個測試過程實現(xiàn)螺絲批上料、測試、下料的不間斷進行,保證螺絲批絕緣性能測試準確的情況下,大大提升了測試的效率。
技術領域
本發(fā)明涉及絕緣器材性能檢測技術領域,更具體地說,它涉及一種絕緣螺絲批絕緣性能測試裝置。
背景技術
絕緣螺絲批,顧名思義即是具有絕緣功能的螺絲批,其可以在帶電條件下進行作業(yè)。絕緣螺絲批的絕緣性能,是衡量其品質優(yōu)劣的關鍵,不僅關系到產品質量,還關系到使用安全。
基于上述原因,在生產絕緣螺絲批的最后一個工序,需要對產品的絕緣性能加以測試,淘汰掉不合格品。由于成批次生產的絕緣螺絲批數(shù)量眾多,如何能夠有效快速的對絕緣螺絲批的絕緣性能加以測試,是一個亟待解決的問題。
發(fā)明內容
針對實際運用中需要對大量絕緣螺絲批絕緣性能進行快速測定這一問題,本發(fā)明目的在于提出一種絕緣螺絲批絕緣性能測試裝置,其能夠批量化的對絕緣螺絲批的絕緣性能加以測定,并且操作簡單,測試效率高,具體方案如下:
一種絕緣螺絲批絕緣性能測試裝置,包括基座、控制器以及用于夾持被測螺絲批的夾持裝置,所述基座上設置有驅動上述夾持裝置在設定工作區(qū)域內移動的驅動機構;
所述性能測試裝置還包括設置于所述設定工作區(qū)域內的:
漏電檢測裝置,配置為電源、導電裝置以及回路電流/電壓檢測儀,測試時,所述被測螺絲批串接于所述電源及導電裝置之間構成測試回路;
自動取放裝置,配置為:
夾頭,用于夾取測試后的被測螺絲批,將被測螺絲批從夾持裝置上取下;
夾頭驅動件,用于驅動所述夾頭移動至第一設定位置或第二設定位置;
分類收儲裝置,配置為兩個收納箱,分別置于所述第一設定位置及第二設定位置處,用于收納合格螺絲批及不合格螺絲批;
其中,測試時,所述控制器控制所述驅動機構驅動所述夾持裝置將被測螺絲批串接于所述電源及導電裝置之間;測試后,所述控制器控制所述驅動機構驅動所述夾持裝置將被測螺絲批置于自動取放裝置處,并控制所述自動取放裝置將上述被測螺絲批置于不同的收納箱中。
通過上述技術方案,當現(xiàn)場的工作人員需要對螺絲批進行絕緣性能測試時,只需要將螺絲批放置到夾持裝置上即可,后續(xù)通電測試、優(yōu)劣篩選全部實現(xiàn)自動化的操作,可以顯著提升上述被測螺絲批的測試效率,減少參與測試的工作人員,降低勞動成本。
進一步的,所述驅動機構包括:
裝配架,配置為水平段以及豎直段,所述夾持裝置沿所述水平段的長度方向可拆卸設置于所述水平段上,所述豎直段的一端與所述水平段可拆卸固定連接,另一端與所述基座轉動連接;
驅動電機組件,配置為與所述豎直段傳動連接,受控于所述控制器,驅動所述豎直段繞其軸向轉動;
所述漏電檢測裝置、自動取放裝置以及分類收儲裝置繞所述豎直段依次設置。
通過上述技術方案,上述驅動機構可以驅動上述夾持裝置在以上述基座為中心的區(qū)域內轉動,實現(xiàn)螺絲批的循環(huán)上料、測試、下料操作,不僅能夠實現(xiàn)快速且高效的循環(huán)操作,還能顯著的減少整個測試裝置的占地面積。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于上海歐唯斯工具制造有限公司,未經上海歐唯斯工具制造有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權和技術合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201910347552.2/2.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:熒光標記水稻種子分選機構及方法
- 下一篇:高效雙模的電路模塊測試設備





