[發明專利]高精度測量的雙顯定長檢測儀

有效

• 申請號: 201910346613.3
• 申請日: 2019-04-27
• 公開（公告）號: CN110006313B
• 公開（公告）日: 2019-12-03
• 發明（設計）人: 李俊
• 申請（專利權）人: 李俊
• 主分類號: G01B5/02
• 分類號: G01B5/02
• 代理公司: 11429 北京中濟緯天專利代理有限公司
• 代理人: 陸軍<國際申請>=<國際公布>=<進入國

本發明提供了高精度測量的雙顯定長檢測儀，包括調整裝置、測量對比裝置，所述的測量對比裝置用于對物件進行尺寸測量或為大批量物件提供對比參照作用，所述的調整裝置用于調整測量對比裝置的伸長量，所述的調整裝置包括粗調機構、微調機構、顯示機構，粗調機構用于快速粗略調整測量對比裝置的伸長量，微調機構用于微調測量對比裝置的伸長量并提高其測量/對比精度，顯示機構用于顯示粗調機構與微調機構的調整數據。

技術領域

本發明涉及檢測領域，具體涉及一種尺寸測量對比儀器。

背景技術

長度檢測是機械加工中最常用的一種零件尺寸檢測，目前用于長度檢測的有游標卡尺、刻度尺、卷尺等，但在具體檢測過程中，由于人工目測存在較大的偏差，導致其檢測尺寸誤差大，對于使用場合要求不高的零部件，完全能夠滿足其測量要求，但對于長度要求高、精度準的零部件，卻無法滿足其測量要求，除此之外，對于大批量物件的尺寸檢測，往往是人工測量，測量效率低，且測量時人為因素較多，存在一定偏差；因此，為解決上述問題，本發明提供一種長度檢測對比儀器。

發明內容

為解決現有技術的不足，本發明的目的是提供一種尺寸測量對比儀器，整個測量過程復位粗調與微調兩部分，使得本檢測儀的測量精度更高，并可快速對大批量的物件進行尺寸對比。

為實現上述技術目的，本發明所采用的技術方案如下。

高精度測量的雙顯定長檢測儀，包括調整裝置、測量對比裝置，測量對比裝置用于對物件進行尺寸測量或為大批量物件提供對比參照作用，調整裝置用于調整測量對比裝置的伸長量；

所述的調整裝置包括粗調機構、微調機構、顯示機構，粗調機構用于快速粗略調整測量對比裝置的伸長量，微調機構用于微調測量對比裝置的伸長量并提高其測量/對比精度，顯示機構用于顯示粗調機構與微調機構的調整數據。

作為本技術方案的進一步改進。

所述的顯示機構包括安裝外殼、顯示盤，安裝外殼為兩端開口的殼體結構，顯示盤固定安裝于安裝外殼外表面，安裝外殼上開設有穿設孔a，且顯示盤上開設有與穿設孔a同軸布置的穿設孔b。

作為本技術方案的進一步改進。

所述的粗調機構包括用于被使用者粗調轉動的粗調轉筒、用于傳遞并顯示粗調結果數據的粗調顯示構件；

所述的粗調轉筒為由兩組呈半圓柱筒體的粗調轉殼構成的圓柱筒體結構，且粗調轉筒兩端開口，粗調轉筒的一開口端與安裝外殼的一開口端之間活動安裝，且粗調轉筒可繞自身軸向轉動；

所述的粗調顯示構件包括粗調齒圈、中間齒輪a、齒輪軸a，粗調齒圈與粗調轉筒之間設置有固定件且兩者之間通過固定件進行同軸固定連接，齒輪軸a軸向平行于粗調轉筒軸向，齒輪軸a活動安裝于安裝外殼內并可繞自身軸向轉動，中間齒輪a固定套接于齒輪軸a外部并與粗調齒圈嚙合；

所述的粗調顯示構件還包括中間蝸桿、中間渦輪、齒輪軸b，中間蝸桿與齒輪軸a之間同軸固定連接，齒輪軸b軸向垂直于粗調轉筒軸向，齒輪軸b活動安裝于安裝外殼內并可繞自身軸向轉動，中間渦輪固定套接于齒輪軸b外部并與中間蝸桿嚙合；

所述的粗調顯示構件還包括中間齒輪b、粗調齒輪、粗調轉軸，中間齒輪b固定套接于齒輪軸b外部，粗調轉軸軸向平行于齒輪軸b軸向，粗調轉軸活動安裝于安裝外殼內并可繞自身軸向轉動，且粗調轉軸的一端穿過穿設孔a、穿設孔b并位于顯示盤背離安裝外殼的一側，并且該端設置有粗調指針，粗調齒輪固定套接于粗調轉軸外部并與中間齒輪b嚙合。

作為本技術方案的進一步改進。

所述的微調機構設置于粗調機構背離安裝外殼的一側，微調機構包括用于被使用者微調轉動的微調轉筒、用于傳遞并顯示微調結果數據的微調顯示構件；