[發明專利]一種電鍍層孔隙率測量裝置及測量方法在審
| 申請號： | 201910345166.X | 申請日： | 2019-04-26 |
| 公開（公告）號： | CN109975194A | 公開（公告）日： | 2019-07-05 |
| 發明（設計）人： | 馮建松;徐楠;章曉冬;董進華;陳利民 | 申請（專利權）人： | 廣東天承科技有限公司 |
| 主分類號： | G01N15/08 | 分類號： | G01N15/08 |
| 代理公司： | 北京品源專利代理有限公司 11332 | 代理人： | 鞏克棟 |
| 地址： | 510990 廣東省廣州*** | 國省代碼： | 廣東;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 孔隙率 電鍍層 蝕刻 相機 測量裝置 樣品板 光源 測量 測量裝置結構 優化工藝條件 圖像 背光測試 測量過程 定量測量 鍍層孔隙 裝置測量 電鍍 板面 鍍層 漏光 統計 參考 觀察 應用 分析 | ||
【權利要求書】：
1.一種電鍍層孔隙率測量裝置，其特征在于，所述裝置包括觀察相機和箱體，所述箱體內裝有光源，箱體一面開有窗口，所述窗口位于相機下方。
2.如權利要求1所述的裝置，其特征在于，所述窗口為方形。
3.如權利要求2所述的裝置，其特征在于，所述窗口的長為20-80mm，寬為20-80mm。
4.一種電鍍層孔隙率測量方法，其特征在于，所述方法采用權利要求1-3任一項所述的裝置進行測量，包括以下步驟：
(1)對電鍍后的樣品板進行蝕刻；
(2)將步驟(1)蝕刻后的樣品板置于箱體中，鍍層一面貼近窗口，打開光源進行背光測試，同時用相機將板面漏光情況拍成圖像；
(3)統計步驟(2)所得圖像上的亮點數量，計算出孔隙率。
5.如權利要求4所述的方法，其特征在于，步驟(1)所述電鍍為電鍍錫或電鍍金。
6.如權利要求4或5所述的方法，其特征在于，步驟(1)所述蝕刻后對樣品板進行清洗。
7.如權利要求4-6任一項所述的方法，其特征在于，步驟(3)中采用人工計數或利用圖像處理軟件統計出圖像上亮點數量。
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