[發明專利]一種提高石墨烯上表面等離激元耦合強度的結構有效
| 申請號: | 201910344842.1 | 申請日: | 2019-04-26 |
| 公開(公告)號: | CN109901254B | 公開(公告)日: | 2022-12-13 |
| 發明(設計)人: | 劉黎明;吳艷花;遲鋒;王紅航;張小文;易子川;張智 | 申請(專利權)人: | 電子科技大學中山學院 |
| 主分類號: | G02B5/00 | 分類號: | G02B5/00 |
| 代理公司: | 重慶萃智邦成專利代理事務所(普通合伙) 50231 | 代理人: | 竺棟 |
| 地址: | 528402 *** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 提高 石墨 表面 離激元 耦合 強度 結構 | ||
1.一種提高石墨烯上表面等離激元耦合強度的結構,其特征在于:包括第一金屬膜(1)、第一發光層(2)、石墨烯層(3)、第二發光層(4)、第二金屬膜(5)構成的多層結構;所述第一金屬膜(1)的上方設置有第一發光層(2),所述第一發光層(2)的上方設置有石墨烯層(3),所述石墨烯層(3)為 V 形波浪平面,所述石墨烯層(3)的上方設置有第二發光層(4),所述第二發光層(4)的上方設置有第二金屬膜(5);其中,所述第一金屬膜(1)、所述第二金屬膜(5)均作為電源正極,所述石墨烯層(3)作為電源負極。
2. 如權利要求 1 所述的一種提高石墨烯上表面等離激元耦合強度的結構,其特征在于:所述第一發光層(2)、第二發光層(4)為量子阱層。
3. 如權利要求 2 所述的一種提高石墨烯上表面等離激元耦合強度的結構,其特征在于:所述量子阱層為 GaAs 或 InGaAs 制成。
4.如權利要求 3 所述的一種提高石墨烯上表面等離激元耦合強度的結構,其特征在于:所述量子阱層的厚度為 50nm~80nm。
5. 如權利要求 1 所述的一種提高石墨烯上表面等離激元耦合強度的結構,其特征在于:所述第一金屬膜(1)、第二金屬膜(5)均是由金或銀或銅制成。
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