[發(fā)明專利]觸摸檢測電路、觸控顯示裝置以及觸摸檢測方法

有效

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• 申請日: 2019-04-26
• 公開（公告）號: CN110196653B
• 公開（公告）日: 2020-09-11
• 發(fā)明（設計）人: 劉成
• 申請（專利權）人: 北京集創(chuàng)北方科技股份有限公司
• 主分類號: G06F3/041
• 分類號: G06F3/041;G06F3/044
• 代理公司: 北京成創(chuàng)同維知識產(chǎn)權代理有限公司 11449
• 代理人: 蔡純;馮麗欣

本發(fā)明公開了一種觸摸檢測電路，包括：運算放大器，補償電容，以及與補償電容相連接的多個開關，所述多個開關連通或斷開所述補償電容與所述反相輸入端、第一偏置端、第二偏置端及第三偏置端的電連接，以提高電容感應信號的變化靈敏度，其中，所述補償電容包括金屬氧化物半導體電容。本發(fā)明還公開了一種觸控顯示裝置以及觸摸檢測方法。本發(fā)明可以提高觸摸檢測電路的靈敏度，同時實現(xiàn)芯片的小型化，降低芯片成本。

技術領域

本發(fā)明涉及觸控技術領域，具體涉及一種觸摸檢測電路、觸控顯示裝置以及觸摸檢測方法。

背景技術

現(xiàn)有電容式觸控裝置檢測方法，有基于自電容檢測和互電容檢測兩種基本方案，兩種基本方案都是通過檢測有導體(如人的手指)靠近容性觸摸裝置所引起的微小電容變化來實現(xiàn)識別操作的。而一般情況下，由導體靠近裝置所引起的電容變化量遠小于裝置具有的被測電容的大小，這些被測電容包括屏幕自身所具有的電容以及屏幕寄生電容。由于被測電容的存在，限制了檢測電路的有效檢測范圍，從而限制了對微小電容變化檢測靈敏度的提高。

為解決這一技術問題，現(xiàn)有技術中常采用在原有觸摸檢測電路中增加補償電容的方法，通過控制補償電容的充電、放電過程，將被測電容的電量降低一預定電量，使得被測電容上的電容變化量相對于無補償電容時的電容變化量增大，進而提高檢測電路的靈敏度。

而現(xiàn)有技術中補償電容大多采用MIM(Metal-Insulator-Metal，金屬-絕緣層-金屬)電容或者MOM(Metal-Oxide-Metal，金屬-氧化物-金屬)電容來對屏幕的基礎電容進行補償。但是MIM電容或者MOM電容有個很大的問題就是它們的單位面積容值很小，如果遇到基礎電容很大的屏幕，就會需要非常多的MIM電容或者MOM電容，這樣占用的芯片面積較大，不利于芯片的小型化，且增加了芯片的制造成本。因而，在實現(xiàn)提高檢測電路的靈敏度的基礎上，實現(xiàn)芯片的小型化就成了本領域的技術人員需要解決的問題。

發(fā)明內(nèi)容

為了解決上述技術問題，本發(fā)明提供了一種觸摸檢測電路、觸控顯示裝置以及觸摸檢測方法，可以減小芯片面積，降低芯片成本。

根據(jù)本發(fā)明提供的一種觸摸檢測電路，其特征在于，包括：運算放大器，包括接收電容感應信號的反相輸入端，接收共模電壓的同相輸入端，以及提供檢測信號的輸出端；補償電容，對所述電容感應信號進行補償以調(diào)高信號靈敏度；以及多個開關，與補償電容相連接，以連通或斷開所述補償電容與所述反相輸入端、第一偏置端、第二偏置端及第三偏置端的電連接，其中，所述多個開關包括連接在所述反相輸入端和所述補償電容第一端之間的第九開關，所述多個開關用于在所述第九開關關斷時實現(xiàn)對所述補償電容上下極板的充電/放電，平衡所述補償電容的上下極板壓差。

優(yōu)選地，所述補償電容包括金屬氧化物半導體電容。

優(yōu)選地，所述觸摸檢測電路還包括：基礎電容，所述基礎電容的第一端通過第二開關連接所述運算放大器的反相輸入端，第二端接地；電壓源，所述電壓源經(jīng)由第一開關連接至所述基礎電容的第一端，用于為所述基礎電容充電；第三開關，所述第三開關串聯(lián)在所述運算放大器的反向輸入端和所述運算放大器的輸出端之間；第一電容，所述第一電容與所述第三開關并聯(lián)連接。

優(yōu)選地，所述多個開關還包括：第四開關，所述第四開關連接于所述補償電容的第一端與所述第一偏置端之間；第五開關，所述第五開關連接于所述補償電容的第一端與所述第三偏置端之間；第六開關，所述第六開關連接于所述補償電容的第二端與所述第一偏置端之間；第七開關，所述第七開關連接于所述補償電容的第二端與所述第三偏置端之間；第八開關，所述第八開關連接于所述補償電容的第二端與所述第二偏置端之間。

優(yōu)選地，所述第一偏置端為正電壓源偏置端，所述第二偏置端為負電壓源偏置端，和所述第三偏置端為模擬地偏置端。