[發明專利]寬譜段大數值孔徑超高通量的顯微物鏡光學系統在審
| 申請號: | 201910343046.6 | 申請日: | 2019-04-26 |
| 公開(公告)號: | CN110045492A | 公開(公告)日: | 2019-07-23 |
| 發明(設計)人: | 張新;王超;曲賀盟;管海軍;史廣維 | 申請(專利權)人: | 中國科學院長春光學精密機械與物理研究所;長春長光智歐科技有限公司 |
| 主分類號: | G02B21/02 | 分類號: | G02B21/02;G02B17/08;G02B21/33;G02B1/00 |
| 代理公司: | 深圳市科進知識產權代理事務所(普通合伙) 44316 | 代理人: | 曹衛良 |
| 地址: | 130033 吉林省長春*** | 國省代碼: | 吉林;22 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 透鏡組 光線成像 光學系統 大數值孔徑 顯微物鏡 寬譜段 物平面 像平面 光學系統結構 穿過 透鏡 成像譜段 負光焦度 光軸方向 一次像面 折疊光路 正光焦度 視場角 折反射 通量 像面 發射 申請 | ||
1.寬譜段大數值孔徑的顯微物鏡光學系統,其特征在于,所述光學系統從物平面到像平面沿其光軸方向依次包括第一透鏡組、第二透鏡組、第三透鏡組、第四透鏡組,共二十片透鏡;
所述第一透鏡組為折反射透鏡組,通過兩次折疊光路將物平面發射出的光線成像到一次像面,所述第一透鏡組具有正光焦度;
所述第二透鏡組、第三透鏡組將穿過一次像面的光線成像到二次像面,所述第二透鏡組、第三透鏡組均具有負光焦度;
所述第四透鏡組將穿過二次像面的光線成像到像平面。
2.如權利要求1所述的寬譜段大數值孔徑的顯微物鏡光學系統,其特征在于,所述第一透鏡組包括三片透鏡,從物平面到像平面沿光軸方向依次為凸向像平面的平凸正透鏡(1)、彎月負透鏡(2)、彎月負透鏡(3)。
3.如權利要求1所述的寬譜段大數值孔徑的顯微物鏡光學系統,其特征在于,所述第二透鏡組包括四片透鏡,從物平面到像平面沿光軸方向依次為彎月正透鏡(4)、凸向像平面的平凸正透鏡(5)、彎月正透鏡(6)、彎月正透鏡(7)。
4.如權利要求1所述的寬譜段大數值孔徑的顯微物鏡光學系統,其特征在于,所述第三透鏡組包括五片透鏡,從物平面到像平面沿光軸方向依次為雙凸正透鏡(8)、彎月負透鏡(9)、雙凸正透鏡(10)、凸向物平面的平凸正透鏡(11)、彎月負透鏡(12)。
5.如權利要求1所述的寬譜段大數值孔徑的顯微物鏡光學系統,其特征在于,所述第四透鏡組包括八片透鏡,從物平面到像平面沿光軸方向依次為彎月正透鏡(13)、彎月正透鏡(14)、彎月正透鏡(15)、雙凹負透鏡(16)、彎月正透鏡(17)、彎月正透鏡(18)、彎月正透鏡(19)、凸向物平面的平凸正透鏡(20)。
6.如權利要求1所述的寬譜段大數值孔徑的顯微物鏡光學系統,其特征在于,在所述第二透鏡組和第三透鏡組之間設置光闌(21)。
7.如權利要求1所述的寬譜段大數值孔徑的顯微物鏡光學系統,其特征在于,所述光學系統的物平面位置采用浸液方式。
8.如權利要求1所述的寬譜段大數值孔徑的顯微物鏡光學系統,其特征在于,所述光學系統的數值孔徑小于等于1.0,成像線視場為小于等于2.8mm。
9.如權利要求1所述的寬譜段大數值孔徑的顯微物鏡光學系統,其特征在于,所述光學系統的成像譜段為300nm-800nm。
10.如權利要求1所述的寬譜段大數值孔徑的顯微物鏡光學系統,其特征在于,所述光學系統為同一種材料制成,光學系統的材料采用熔石英材料。
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