[發明專利]一種基于CIS的圓柱體表面檢測方法、裝置及存儲介質

有效

• 申請號: 201910342254.4
• 申請日: 2019-04-26
• 公開（公告）號: CN110111315B
• 公開（公告）日: 2021-01-26
• 發明（設計）人: 梁艷陽;吳偉;趙朋
• 申請（專利權）人: 五邑大學
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00;G06K9/62
• 代理公司: 廣州嘉權專利商標事務所有限公司 44205
• 代理人: 關達津

1.一種基于CIS的圓柱體表面檢測方法，其特征在于，包括以下步驟：

使CIS傳感器對旋轉的圓柱體采集模擬圖像；

將模擬圖像轉換為數字圖像；

對數字圖像的每個像素進行補償處理；

對經補償處理的數字圖像進行特征分析和缺陷檢測；

其中所述對數字圖像的每個像素進行補償處理包括：

測量CIS傳感器分別在曝光與不曝光的情況下的基礎數值，所述基礎數值包括曝光的每個像素的算術平均值Va_n、曝光的每個像素的算術最大值Vamax_n、不曝光的每個像素的算術平均值Vb_n和不曝光的每個像素的算術最大值Vbmax_n；

根據G_n＝(Vamax_n-Vbmax_n)/(Va_n-Vb_n)和OFFSET_n＝Vamax_n-(Vamax_n-Vbmax_n)/(Va_n-Vb_n)*Va_n計算得到每個像素的增益G_n和偏移量OFFSET_n；

根據y_n＝G_n*x_n+OFFSET_n對數字圖像的每個像素x_n補償得到補償后的像素y_n。

2.根據權利要求1所述的一種基于CIS的圓柱體表面檢測方法，其特征在于，所述使CIS傳感器對旋轉的圓柱體采集模擬圖像包括以下步驟：

調整CIS傳感器與圓柱體的距離；

調整對圓柱體的光照效果和CIS傳感器的曝光度；

使圓柱體旋轉并使CIS傳感器對圓柱體的側表面進行模擬圖像采集，直至采集到圓柱體側表面一周的模擬圖像；

使CIS傳感器對圓柱體的上表面和下表面采集模擬圖像。

3.根據權利要求2所述的一種基于CIS的圓柱體表面檢測方法，其特征在于，所述調整CIS傳感器與圓柱體的距離的步驟中，CIS傳感器與圓柱體的距離在1mm-15mm間。

4.根據權利要求1所述的一種基于CIS的圓柱體表面檢測方法，其特征在于，所述對經補償處理的數字圖像進行特征分析和缺陷檢測包括：

采用HOG算法對經補償處理的數字圖像提取特征；

采用SVM分類器對提取的特征分類；

比較分類后的特征與無缺陷圓柱體的圖像特征并判斷是否存在缺陷。

5.根據權利要求1所述的一種基于CIS的圓柱體表面檢測方法，其特征在于，所述CIS傳感器包括感光元件、透鏡陣列和光源。

6.一種基于CIS的圓柱體表面檢測裝置，其特征在于，包括控制處理器和用于與所述控制處理器通信連接的存儲器；所述存儲器存儲有可被所述控制處理器執行的指令，所述指令被所述控制處理器執行，以使所述控制處理器能夠執行如權利要求1-5任一項所述的一種基于CIS的圓柱體表面檢測方法。

7.一種計算機可讀存儲介質，其特征在于，所述計算機可讀存儲介質存儲有計算機可執行指令，所述計算機可執行指令用于使計算機執行如權利要求1-5任一項所述的一種基于CIS的圓柱體表面檢測方法。