[發明專利]解析裝置以及解析程序

有效

• 申請號: 201910338474.X
• 申請日: 2019-04-25
• 公開（公告）號: CN110428393B
• 公開（公告）日: 2022-12-13
• 發明（設計）人: 佐野洋平;平野有一
• 申請（專利權）人: 豐田自動車株式會社
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00;G06N3/04;G06N3/08;G06T7/90
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 劉曉岑;王培超

本發明涉及解析裝置以及解析程序，解析裝置具備：存儲部，存儲有學習完畢神經網絡；獲取部，獲取對在判定對象的涂裝面產生的涂裝麻點削去層疊的涂裝層的至少表層后的表面進行拍攝而得到的判定圖像數據；判定部，將獲取部獲取到的判定圖像數據輸入到從存儲部讀出的學習完畢神經網絡，來判定在判定對象的涂裝面產生的涂裝麻點的產生原因；以及輸出部，輸出通過判定部判定出的與產生原因相關的信息。

技術領域

本公開涉及解析裝置以及解析程序。

背景技術

已知有一種在產生了涂裝缺陷的情況下輸入涂裝缺陷數據、涂裝條件數據來判定涂裝缺陷的原因的裝置(例如，參照日本特開2005－118757號公報)。

根據現有技術，由于需要輸入涂裝缺陷數據、涂裝條件數據，所以必須首先對涂裝缺陷的狀況進行解析，直到發現涂裝缺陷的原因為止很花費功夫和時間。

發明內容

本公開提供能夠精度良好并容易地在短時間解析在涂裝表面作為突起出現的涂裝缺陷亦即涂裝麻點的產生原因的解析裝置等。

本公開的第一方式中的解析裝置是對產生了在涂裝表面作為突起而出現的涂裝缺陷亦即涂裝麻點的產生原因進行解析的解析裝置，具備：存儲部，存儲有學習完畢神經網絡，該學習完畢神經網絡將對在學習對象的涂裝面產生的涂裝麻點削去了層疊的涂裝層的至少表層后的表面進行拍攝而得到的學習圖像數據與通過對該涂裝麻點進行解析而推斷出的輸入數據的組合作為教師數據來進行學習；獲取部，獲取對在判定對象的涂裝面產生的涂裝麻點削去了層疊的涂裝層的至少表層后的表面進行拍攝而得到的判定圖像數據；判定部，將獲取部獲取到的判定圖像數據輸入至從存儲部讀出的學習完畢神經網絡，來判定在判定對象的涂裝面產生的涂裝麻點的產生原因；以及輸出部，輸出由判定部判定出的與產生原因相關的信息。這樣，通過將經由削去涂裝缺陷的涂裝層的至少表層這一簡單的作業而得到的圖像數據作為由神經網絡處理的對象圖像數據，能夠實現可精度良好并容易地在短時間解析涂裝麻點的產生原因的解析裝置。

在上述的解析裝置中，學習圖像數據以及判定圖像數據可以是在涂裝麻點起因于塵埃的情況下對切削至塵埃露出的表面進行拍攝而得到的圖像數據。若準備對塵埃露出的狀態的表面進行拍攝而得到的圖像數據，則判定精度提高。另外，判定部也可以在不能進行滿足預先決定的判定基準的判定的情況下，判定為需要對進一步切削了判定對象的涂裝層的表面進行拍攝而得到的判定圖像數據。通過要求變更了切削量的圖像數據，能夠實現精度更高的判定。

另外，在上述的解析裝置中，存儲部也可以構成為按每個涂裝顏色存儲多個學習完畢神經網絡，判定部基于獲取部獲取到的判定圖像數據所表示的涂裝顏色，來選擇輸入判定圖像數據的學習完畢神經網絡。通過按每個涂裝顏色構建學習完畢神經網絡并選擇性地進行使用，能夠進一步使判定精度提高。

另外，在上述的解析裝置中，也可以教師數據包含對切削涂裝層之前的表面進行拍攝而得到的削除前學習圖像數據，獲取部獲取對未切削判定對象的涂裝層的表面進行拍攝而得到的削除前判定圖像數據，判定部將獲取部獲取到的削除前判定圖像數據輸入到從存儲部讀出的學習完畢神經網絡，來判定在判定對象的涂裝面產生的涂裝麻點的產生原因。若這樣構成，則即使不切削想要判定的涂裝表面，也能夠簡單地得到判定結果。因此，能夠削減作業的功夫、時間。

該情況下，也可以構成為獲取部在判定部不能判定出產生原因的情況下獲取削除后的判定圖像數據，判定部將獲取部獲取到的削除后的判定圖像數據輸入至學習完畢神經網絡，來判定在判定對象的涂裝面產生的涂裝麻點的產生原因?？深A料為在不切削涂裝表面的情況下判定精度降低，但若在不能夠確保一定的精度的情況下通過使用削除后的判定圖像數據進行再判定，則能夠兼顧判定精度和簡單的判定。