[發(fā)明專利]X射線成像系統(tǒng)及方法及數(shù)據(jù)存儲媒介

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201910337466.3
• 申請日: 2014-03-31
• 公開（公告）號: CN110376223B
• 公開（公告）日: 2023-03-31
• 發(fā)明（設計）人: 約瑟夫·施勒希特;埃里克·弗雷;朱麗安·諾埃爾
• 申請（專利權(quán)）人: 伊利諾斯工具制品有限公司
• 主分類號: G01N23/046
• 分類號: G01N23/046
• 代理公司: 上海脫穎律師事務所 31259
• 代理人: 脫穎

1.一種X射線成像系統(tǒng)，所述X射線成像系統(tǒng)包括：

X射線發(fā)生器；

輻射探測器；

旋轉(zhuǎn)平臺，所述旋轉(zhuǎn)平臺具有旋轉(zhuǎn)軸，所述旋轉(zhuǎn)軸設置成垂直于由所述X射線發(fā)生器發(fā)射的X射線束的軸；

線性平移平臺，所述線性平移平臺具有沿著所述旋轉(zhuǎn)平臺的所述旋轉(zhuǎn)軸設置的運動軸；

運動控制系統(tǒng)，所述運動控制系統(tǒng)同步化所述旋轉(zhuǎn)平臺的旋轉(zhuǎn)運動和所述線性平移平臺的線性運動；以及

數(shù)據(jù)獲取系統(tǒng)，所述數(shù)據(jù)獲取系統(tǒng)包括一個或多個處理器，所述處理器配置成：

輸出用戶界面(UI)；

經(jīng)由所述輸出用戶界面接收多個用戶輸入?yún)?shù)，所述多個用戶輸入?yún)?shù)包括線性掃描范圍、螺距以及螺旋組高度，所述線性掃描范圍指示物體的高度；

至少部分地基于所述線性掃描范圍、所述螺距和/或所述螺旋組高度來確定螺旋計算機斷層(CT)掃描期間待執(zhí)行的螺旋組的總數(shù)目，每個所述螺旋組包括螺旋中的若干連續(xù)旋轉(zhuǎn)，所述連續(xù)旋轉(zhuǎn)的投影射線照片具有豎直重疊；

至少部分地基于所述多個用戶輸入?yún)?shù)來配置所述X射線成像系統(tǒng)，以在所述螺旋計算機斷層(CT)掃描期間從所述輻射探測器獲取射線照片；以及

至少部分地基于所述射線照片生成所述物體的三維圖像，所述物體在所述旋轉(zhuǎn)平臺上。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的X射線成像系統(tǒng)，其中所述輻射探測器包括平板輻射探測器。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的X射線成像系統(tǒng)，其中所述X射線發(fā)生器提供能量范圍為20keV到600keV的X射線。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的X射線成像系統(tǒng)，其中所述輻射探測器包括透鏡耦合的高分辨率X射線探測器。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的X射線成像系統(tǒng)，其中所述透鏡耦合的高分辨率X射線探測器具有在0.1微米到10微米的范圍內(nèi)的像素大小。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的X射線成像系統(tǒng)，其中所述輻射探測器進一步包括平板輻射探測器，所述平板輻射探測器具有在從25微米到300微米的范圍內(nèi)的像素大小。

7.根據(jù)權(quán)利要求4所述的X射線成像系統(tǒng)，其中所述輻射探測器進一步包括平板輻射探測器，并且所述透鏡耦合的高分辨率X射線探測器和所述平板輻射探測器在所述X射線成像系統(tǒng)之中可切換。

8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的X射線成像系統(tǒng)，其中所述輻射探測器包括線性二極管陣列型輻射探測器。

9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的X射線成像系統(tǒng)，其中：

所述數(shù)據(jù)獲取系統(tǒng)進一步配置成至少部分地基于所述線性掃描范圍來計算所述多個用戶輸入?yún)?shù)中的另一個用戶輸入?yún)?shù)，

其中所述另一個用戶輸入?yún)?shù)為以下中的一個：每組的旋轉(zhuǎn)次數(shù)、每次旋轉(zhuǎn)的投影數(shù)目、每一投影的高度差、每一投影的角度差、所述螺旋計算機斷層掃描中的總高度差、所述螺旋計算機斷層掃描中轉(zhuǎn)過的總度數(shù)、或在所述螺旋計算機斷層掃描期間獲取的投影的總數(shù)目。