[發(fā)明專利]一種用于確認(rèn)量子比特量子態(tài)的閾值線的更新方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201910333096.6 | 申請日： | 2019-04-24 |
| 公開（公告）號： | CN111860846B | 公開（公告）日： | 2023-04-28 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | 孔偉成 | 申請（專利權(quán)）人： | 合肥本源量子計(jì)算科技有限責(zé)任公司 |
| 主分類號： | G06N10/60 | 分類號： | G06N10/60;G06F18/23 |
| 代理公司： | 暫無信息 | 代理人： | 暫無信息 |
| 地址： | 230008 安徽省合*** | 國省代碼： | 安徽;34 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 一種 用于 確認(rèn) 量子 比特 閾值 更新 方法 | ||
1.一種用于確認(rèn)量子比特量子態(tài)的閾值線的更新方法，應(yīng)用于量子芯片，其特征在于，包括：
獲得量子比特位于第一量子態(tài)時(shí)多個(gè)量子比特讀取信號在正交平面坐標(biāo)系上分別對應(yīng)的坐標(biāo)點(diǎn)數(shù)據(jù)，記為第一集合R|0；獲得量子比特位于第二量子態(tài)時(shí)多個(gè)量子比特讀取信號在正交平面坐標(biāo)系上分別對應(yīng)的坐標(biāo)點(diǎn)數(shù)據(jù)，記為第二集合R|1；其中：所述第一量子態(tài)和所述第二量子態(tài)均為已知量子態(tài)且互不相同，其中：所述正交平面坐標(biāo)系設(shè)置為I－Q坐標(biāo)系；
根據(jù)所述第一集合R|0和所述第二集合R|1確定第一閾值線；
獲得量子比特處于某量子態(tài)時(shí)對應(yīng)的多個(gè)量子比特讀取信號在正交平面坐標(biāo)系上分別對應(yīng)的坐標(biāo)點(diǎn)數(shù)據(jù)，記為第三集合；
將所述第一閾值線作為初始閾值線，設(shè)定終止條件；
使用所述初始閾值線將第三集合分割成兩個(gè)聚類，分別為第一聚類和第二聚類，計(jì)次n＝1；
根據(jù)所述初始閾值線、所述第一聚類和所述第二聚類確定更新閾值線；
以所述更新閾值線作為初始閾值線重復(fù)執(zhí)行步驟：使用所述初始閾值線將第三集合分割兩個(gè)聚類，分別為第一聚類和第二聚類，計(jì)次n＝n+1；
直至達(dá)到終止條件，停止執(zhí)行，確定更新閾值線為所需獲得的最優(yōu)閾值線。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于確認(rèn)量子比特量子態(tài)的閾值線的更新方法，其特征在于，所述根據(jù)第一集合R|0和第二集合R|1確定第一閾值線，具體包括：
對所述第一集合中的所有坐標(biāo)點(diǎn)與所述第二集合中的所有坐標(biāo)點(diǎn)分別進(jìn)行高斯擬合，獲得所述第一集合和所述第二集合分別對應(yīng)的高斯擬合圖形的第一統(tǒng)計(jì)中心點(diǎn)坐標(biāo)(I|0,Q|0)和第二統(tǒng)計(jì)中心點(diǎn)坐標(biāo)(I|1,Q|1)，分別對應(yīng)的第一標(biāo)準(zhǔn)差σ1和第二標(biāo)準(zhǔn)差σ2；其中：所述I－Q坐標(biāo)系中用于將所述第一統(tǒng)計(jì)中心點(diǎn)坐標(biāo)(I|0,Q|0)和所述第二統(tǒng)計(jì)中心點(diǎn)坐標(biāo)(I|1,Q|1)分割在兩個(gè)空間的直線記為閾值線，且所述閾值線垂直所述第一統(tǒng)計(jì)中心點(diǎn)坐標(biāo)(I|0,Q|0)和第二統(tǒng)計(jì)中心點(diǎn)坐標(biāo)(I|1,Q|1)的連線；兩個(gè)空間分別記為第一空間和第二空間；
根據(jù)所述第一統(tǒng)計(jì)中心點(diǎn)坐標(biāo)(I|0,Q|0)和所述第一標(biāo)準(zhǔn)差σ1確定所述第一集合中的所有坐標(biāo)點(diǎn)在I－Q坐標(biāo)系的第一概率密度分布函數(shù)p(R|0)，根據(jù)所述第二統(tǒng)計(jì)中心點(diǎn)坐標(biāo)(I|1,Q|1)和所述第二標(biāo)準(zhǔn)差σ2確定所述第二集合中的所有坐標(biāo)點(diǎn)在I－Q坐標(biāo)系的第二概率密度分布函數(shù)p(R|1)；
確定保真度函數(shù)為所述第一概率密度分布函數(shù)p(R|0)在所述第一空間的積分函數(shù)及所述第二概率密度分布函數(shù)p(R|1)在所述第二空間的積分函數(shù)之和；
確定所述保真度函數(shù)取最值時(shí)對應(yīng)的閾值線為第一閾值線。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的用于確認(rèn)量子比特量子態(tài)的閾值線的更新方法，其特征在于，所述第一概率密度分布函數(shù)p(R|0)和第二概率密度分布函數(shù)p(R|1)分別為：
其中：(I,Q)∈R|0；
其中：(I,Q)∈R|1；
所述最優(yōu)閾值線的求值公式為：
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