[發(fā)明專利]SSR中UPD改正數的完好性監(jiān)測方法及其裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201910330167.7
• 申請日: 2019-04-23
• 公開（公告）號: CN111831965B
• 公開（公告）日: 2023-09-12
• 發(fā)明（設計）人: 趙啟龍;郭海林;馮彥同
• 申請（專利權）人: 千尋位置網絡有限公司
• 主分類號: G06F17/18
• 分類號: G06F17/18;G08B21/18;H04B7/185
• 代理公司: 上海一平知識產權代理有限公司 31266
• 代理人: 李夫玲;須一平

1.一種SSR中UPD改正數的完好性監(jiān)測方法，其特征在于，包括以下步驟；

獲取多個完好性監(jiān)測站的觀測值，獲取SSR改正數中的軌道鐘差改正數和UPD改正數；

利用所述觀測值、軌道鐘差改正數和UPD改正數，對所述多個完好性監(jiān)測站實時計算PPP和PPP-AR，得到PPP的相位殘差和PPP-AR的相位殘差；

計算所述PPP的相位殘差和PPP-AR的相位殘差的差值，得到UPD變化部分的相位殘差；

計算所述多個完好性監(jiān)測站的UPD變化部分的相位殘差的均值μ_x和標準差δ_x，并將所述均值μ_x和標準差δ_x代入：

PL＝μ_x+K_intδ_x+Flow

其中，PL為UPD保護級，K_int為所述UPD變化部分的相位殘差對應的標準正態(tài)分布的分位數，Flow為常數；

將所述PL和預定的報警門限進行比較，并輸出所述UPD改正數的完好性標識。

2.根據權利要求1所述的SSR中UPD改正數的完好性監(jiān)測方法，其特征在于，在所述“對所述多個完好性監(jiān)測站實時計算PPP和PPP-AR”的步驟中，包括以下子步驟：

進行模型改正和鐘跳修復，并且在所述計算的過程中加入周跳和粗差探測。

3.根據權利要求1所述的SSR中UPD改正數的完好性監(jiān)測方法，其特征在于，在所述“將所述PL和預定的報警門限進行比較，并輸出所述UPD改正數的完好性標識”的步驟中，包括以下子步驟：

如果所述PL大于等于所述報警門限，則所述完好性標識為“不可用”；

如果所述PL小于所述報警門限，則所述完好性標識為“可用”。

4.根據權利要求1所述的SSR中UPD改正數的完好性監(jiān)測方法，其特征在于，所述報警門限為0.3cm。

5.根據權利要求1至4中任一項所述的SSR中UPD改正數的完好性監(jiān)測方法，其特征在于，在所述“將所述PL和預定的報警門限進行比較，并輸出所述UPD改正數的完好性標識”的步驟之后，還包括以下步驟：

將所述完好性標識的電文加入到SSR中的UPD改正數的電文中。

6.一種SSR中UPD改正數的完好性監(jiān)測裝置，其特征在于，包括：

獲取單元，用于獲取多個完好性監(jiān)測站的觀測值，獲取SSR改正數中的軌道鐘差改正數和UPD改正數；

第一計算單元，用于利用所述觀測值、軌道鐘差改正數和UPD改正數，對所述多個完好性監(jiān)測站實時計算PPP和PPP-AR，得到PPP的相位殘差和PPP-AR的相位殘差；

第二計算單元，用于計算所述PPP的相位殘差和PPP-AR的相位殘差的差值，得到UPD變化部分的相位殘差；

第三計算單元，用于計算所述多個完好性監(jiān)測站的UPD變化部分的相位殘差的均值μ_x和標準差δ_x，并將所述均值μ_x和標準差δ_x代入：

PL＝μ_x+K_intδ_x+Flow

其中，PL為UPD保護級，K_int為所述UPD變化部分的相位殘差對應的標準正態(tài)分布的分位數，Flow為常數；

比較輸出單元，用于將所述PL和預定的報警門限進行比較，并輸出所述UPD改正數的完好性標識。

7.根據權利要求6所述的SSR中UPD改正數的完好性監(jiān)測裝置，其特征在于，所述第一計算單元，還用于：進行模型改正和鐘跳修復，并且在所述計算的過程中加入周跳和粗差探測。