[發明專利]確定和消除磁共振設備中射頻脈沖與選層梯度之間的時延的方法

有效

• 申請號: 201910329930.4
• 申請日: 2019-04-23
• 公開（公告）號: CN111830450B
• 公開（公告）日: 2023-08-04
• 發明（設計）人: 翁得河
• 申請（專利權）人: 西門子（深圳）磁共振有限公司
• 主分類號: G01R33/54
• 分類號: G01R33/54
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

本發明公開了一種確定和消除磁共振設備中射頻脈沖與選層梯度之間的時延。確定磁共振設備中射頻脈沖與選層梯度之間的時延的方法包括：提供射頻脈沖和所述選層梯度；同時對成像對象施加所述射頻脈沖和選層梯度；以空間編碼梯度進行數據采樣，其中讀出編碼梯度沿第一方向，相位編碼梯度沿第二方向，所述第二方向與所述第一方向正交；獲取圖像沿所述第一方向的相位；根據所述圖像沿所述第一方向的相位確定所述射頻脈沖與選層梯度之間的時延。本發明的確定和消除選層梯度與射頻脈沖之間的時延的方法使用相位信息直接測量選層梯度與射頻脈沖之間的時延。該方法相比于使用信號或偽影強度的現有方法更靈敏、更精確。

技術領域

本發明涉及磁共振，特別是確定和消除磁共振設備中射頻脈沖與選層梯度之間的時延。

背景技術

采用射頻(RF)脈沖和梯度的磁共振(MR)序列可以激勵一個特定的平面、厚層或體素。在激勵之后，所有的線性相位射頻脈沖需要聚相梯度(re-phase?gradient)。射頻脈沖與梯度脈沖的同步具有嚴格的要求，例如完整(full?shape)射頻脈沖的中心應該與薄層或厚層選層梯度的中心發生在同一時刻。然而實際上，這一條件難以精確滿足，如梯度與射頻脈沖控制精度不一致，梯度切換產生渦流等都能破壞該條件。如果射頻脈沖的中心與薄層或厚層選層梯度的中心存在不匹配，那就會發生失相，并導致最終圖像信噪比的降低。對于二維激勵，射頻脈沖與選層梯度之間的不匹配還會產生激勵偽影。

現有技術提供了校正梯度和數據采樣之間的時延的方法，可以間接地校正梯度和射頻脈沖之間的時延。最常見的校正方法是檢查梯度回波序列中數據采樣時間中心與最大信號對應時刻的時間差。最大信號對應時刻與數據采樣時間中心的距離表示射頻脈沖與選層梯度的時延。還有一些方法直接校正選層梯度與射頻脈沖之間的時延，其中一個方法是手動調整選層梯度與射頻脈沖之間的時延。檢查激勵結果，例如殘留偽影、信號強度，最小殘留偽影或最大信號強度中的時延被選為選層梯度與射頻脈沖之間的時延。

發明內容

有鑒于此，本發明提出了一種確定和消除磁共振設備中射頻脈沖與選層梯度之間的時延。

根據本發明的第一方面，提供一種確定磁共振設備中射頻脈沖與選層梯度之間的時延的方法，所述選層梯度沿第一方向，所述方法包括：

提供射頻脈沖和所述選層梯度；

同時對成像對象施加所述射頻脈沖和選層梯度；

以空間編碼梯度進行數據采樣，其中讀出編碼梯度沿所述第一方向，相位編碼梯度沿第二方向，所述第二方向與所述第一方向正交；

獲取圖像沿所述第一方向的相位；

根據所述圖像沿所述第一方向的相位確定所述射頻脈沖與選層梯度之間的時延。

在一實施例中，根據所述圖像沿所述第一方向的相位確定所述射頻脈沖與選層梯度之間的時延包括根據下式確定所述射頻脈沖與選層梯度之間的時延：

其中，是所述圖像沿所述第一方向的相位，γ是旋磁比常數，G是所述選層梯度的幅度，τ是所述射頻脈沖與選層梯度之間的時延，z是所述圖像上某點沿所述第一方向的位置，z₀是所述圖像沿所述第一方向的中心的位置。

在一實施例中，所述空間編碼梯度是梯度回波或平面回波編碼方式。

根據本發明的第二方面，提供一種消除磁共振設備中射頻脈沖與選層梯度之間的時延的方法，所述選層梯度沿第一方向，所述方法包括：

提供射頻脈沖和所述選層梯度；

同時對成像對象施加所述射頻脈沖和選層梯度；

以空間編碼梯度進行數據采樣，其中讀出編碼梯度沿所述第一方向，相位編碼梯度沿第二方向，所述第二方向與所述第一方向正交；