[發明專利]一種帶涂層渦流檢測對比試塊及其制作方法

在審

• 申請號: 201910329176.4
• 申請日: 2019-04-23
• 公開（公告）號: CN109959705A
• 公開（公告）日: 2019-07-02
• 發明（設計）人: 肖俊峰;高斯峰;高松;李園園;張炯;李永君;唐文書;南晴
• 申請（專利權）人: 華能國際電力股份有限公司;西安熱工研究院有限公司
• 主分類號: G01N27/90
• 分類號: G01N27/90;G01N1/28
• 代理公司: 西安通大專利代理有限責任公司 61200
• 代理人: 徐文權

1.一種帶涂層渦流檢測對比試塊，其特征在于，包括自下而上依次設置的基體(1)和涂層(2)；其中，

基體(1)與被檢工件基體材質、熱處理狀態一致；涂層(2)為TBCs或AOC，TBCs由粘結層和陶瓷層雙層結構組成；涂層(2)的材質、噴涂工藝、表面狀態與被檢工件一致；涂層(2)噴涂在基體(1)表面；基體(1)表面上開設有若干矩形槽。

2.根據權利要求1所述的一種帶涂層渦流檢測對比試塊，其特征在于，若干矩形槽內均填充有氧化鋁粉和硅膠混合液，且氧化鋁粉和硅膠混合液體積比為1：2～1：5。

3.根據權利要求2所述的一種帶涂層渦流檢測對比試塊，其特征在于，氧化鋁粉的粒徑小于等于20μm。

4.根據權利要求1所述的一種帶涂層渦流檢測對比試塊，其特征在于，基體(1)的厚度為10±0.5mm。

5.根據權利要求1所述的一種帶涂層渦流檢測對比試塊，其特征在于，若干矩形槽分別為第一矩形槽至第七矩形槽(3～9)的寬度為0.1±0.02mm，長度為20±0.1mm；第一矩形槽至第五矩形槽(3～7)的深度分別為0.1±0.02mm、0.2±0.02mm、0.5±0.02mm、1±0.02mm、2±0.02mm，第六矩形槽(8)和第七矩形槽(9)的深度為0.5±0.02mm。

6.根據權利要求5所述的一種帶涂層渦流檢測對比試塊，其特征在于，第一矩形槽至第四矩形槽(3～6)距試塊邊緣25±0.5mm，相鄰矩形槽間距為25±0.5mm；第四矩形槽(6)和第五矩形槽(7)之間間距為25±0.5mm，第五矩形槽(7)距試塊邊緣25±0.5mm；第五矩形槽(7)至第七矩形槽(9)相鄰之間間距為25±0.5mm，第六矩形槽(8)與試塊邊緣相連接，第七矩形槽(9)距試塊邊緣5±0.5mm。

7.一種帶涂層渦流檢測對比試塊的制作方法，其特征在于，該方法基于權利要求1至6中任一項所述的一種帶涂層渦流檢測對比試塊，包括以下步驟：

第一步：制備與被檢工件基體材質、熱處理狀態一致的試塊基體(1)；

第二步：利用電火花加工方法在基體(1)表面加工若干矩形槽；

第三步：若干矩形槽內填充氧化鋁粉和硅膠混合液，并干燥；

第四步：重復第三步，直至矩形槽填充平；

第五步：高溫爐內800～900℃焙燒2h；

第六步：基體(1)表面噴涂涂層(2)，得到帶涂層渦流檢測對比試塊。

8.根據權利要求7所述的一種帶涂層渦流檢測對比試塊的制作方法，其特征在于，第二步中，若干矩形槽采用電火花加工而成。

9.根據權利要求7所述的一種帶涂層渦流檢測對比試塊的制作方法，其特征在于，第三步中，矩形槽內每次填充的氧化鋁粉和硅膠混合液厚度小于0.1mm。