[發明專利]彈片高度上下限檢測機

在審

• 申請號: 201910328980.0
• 申請日: 2019-04-23
• 公開（公告）號: CN110068258A
• 公開（公告）日: 2019-07-30
• 發明（設計）人: 周海錢;姜江龍;袁童
• 申請（專利權）人: 杭州耕德電子有限公司
• 主分類號: G01B5/02
• 分類號: G01B5/02
• 代理公司: 杭州華知專利事務所(普通合伙) 33235
• 代理人: 張德寶

本發明公開了彈片高度上下限檢測機,包括機架、從上至下依次設置在機架上的顯示界面區和工裝治具區，工裝治具區包括可上下運行的上蓋板和上蓋板下方的下針板，上蓋板和下針板之間設置有異形探針；異形探針的底端包括探針測量頭和探針限位頭，整體呈階梯狀，探針限位頭的平面高于探針測量頭的平面；工裝治具區的下方設置有下壓氣缸，上蓋板與下壓氣缸通過運動件連接；下針板的下方設置有放置產品的治具，本發明有以下優點：1.完全取代傳統的激光高度檢，檢測精度高，成本低。檢測時只需要將被檢測產品放置在治具上即可，操作簡便快捷；2.檢測時間短，單片檢測時間在1s以內，大大提高檢測效率。

技術領域

本發明涉及檢測領域，具體為彈片高度上下限檢測機。

背景技術

傳統的生產經營模式更多的依靠勞動力成本、規模優勢，但隨著近幾年人工成本的不斷上漲，將面臨著外部環境變化帶來的競爭壓力和行業環境變化帶來的經營壓力。此外，智能手機等消費電子產品工藝變化周期日益縮短，產品精度越來越高,手機結構件已呈現材料多樣化，機型少樣大量化特點，一些工裝治具僅僅起到固定工件作用，主要通過人工檢測，且不能同時檢測多個工件，達不到工藝要求，目前彈片高度檢測主要運用的是激光掃描檢測，采用的線激光檢測時，檢測時間較長，效率較低，且成本較高；采用點激光檢測時，只能檢測頂端為平面且面積較大的彈片，對頂端為圓弧曲面的彈片誤差較大，難以滿足工藝要求，隨著技術革新及市場需求變化，自動化工廠也是當今時代工業化發展的趨勢，所以迫切需要開發新工藝、新設備,來滿足生產工藝的需求，以提高成本競爭力、產出力，降低人工成本。

發明內容

本發明的目的在于提供一種物料箱自動揀選機器人及其控制方法，以解決上述背景技術中提出的問題。

為實現上述目的，本發明提供如下技術方案：彈片高度上下限檢測機,包括機架、從上至下依次設置在機架上的顯示界面區和工裝治具區，所述工裝治具區包括可上下運行的上蓋板和上蓋板下方的下針板，上蓋板和下針板之間設置有異形探針；所述異形探針的底端包括探針測量頭和探針限位頭，整體呈階梯狀，探針限位頭的平面高于探針測量頭的平面；所述工裝治具區的下方設置有下壓氣缸，所述上蓋板與下壓氣缸通過運動件連接；所述下針板的下方設置有放置產品的治具。

作為本發明的一種優選技術方案，所述機架上設置有用于緩沖的油壓緩沖器。

作為本發明的一種優選技術方案，所述顯示界面區設置有觸摸屏，觸摸屏與異型探針電性連接。

作為本發明的一種優選技術方案，所述顯示界面區設置有蜂鳴器、復位按鈕和急停按鈕。

作為本發明的一種優選技術方案，所述上蓋板的一側設置有導桿，導桿穿過所述上蓋板。

作為本發明的一種優選技術方案，所述異型探針上設置有卡頭，卡頭卡接在下針板上，卡頭的下方為探針測量頭和探針限位頭。

作為本發明的一種優選技術方案，所述異形探針上設置有防止過壓的緩沖彈簧。

作為本發明的一種優選技術方案，所述治具上設置有與異型探針對應的放置口。

與現有技術相比，本發明有以下優點：1.完全取代傳統的激光高度檢，檢測精度高，成本低。檢測時只需要將被檢測產品放置在治具上即可，操作簡便快捷；2.檢測時間短，單片檢測時間在1s以內，大大提高檢測效率。

附圖說明

圖1為本發明的整體結構示意圖；

圖2為本發明的工裝治具區結構示意圖；

圖3為本發明的異形探針位置示意圖；

圖4為本發明的探測示意圖；

具體實施方式