[發(fā)明專利]一種嵌套獨(dú)立水冷結(jié)晶器實(shí)現(xiàn)電渣熔鑄去除補(bǔ)貼的方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201910328515.7 | 申請(qǐng)日: | 2019-04-23 |
| 公開(公告)號(hào): | CN110014136B | 公開(公告)日: | 2021-05-04 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 陳瑞;熊云龍;婁延春;王安國;張春銘;宋照偉;王云霞;田雨;趙黎廷 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 沈陽鑄造研究所有限公司 |
| 主分類號(hào): | B22D23/10 | 分類號(hào): | B22D23/10 |
| 代理公司: | 沈陽晨創(chuàng)科技專利代理有限責(zé)任公司 21001 | 代理人: | 張晨 |
| 地址: | 110000 遼*** | 國省代碼: | 遼寧;21 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 嵌套 獨(dú)立 水冷 結(jié)晶器 實(shí)現(xiàn) 熔鑄 去除 補(bǔ)貼 方法 | ||
1.一種通過嵌套獨(dú)立水冷結(jié)晶器實(shí)現(xiàn)電渣熔鑄過程去除補(bǔ)貼的控制方法,其特征在于:具體步驟如下:
步驟一、根據(jù)產(chǎn)品補(bǔ)貼形狀及位置,制造可自動(dòng)調(diào)節(jié)補(bǔ)貼大小的獨(dú)立水冷結(jié)晶器;
步驟二、根據(jù)產(chǎn)品補(bǔ)貼形狀及位置,獨(dú)立水冷結(jié)晶器通過升降機(jī)構(gòu)上下調(diào)節(jié),確定獨(dú)立水冷結(jié)晶器的工作面結(jié)構(gòu)、工作面與主體結(jié)晶器的下結(jié)晶器預(yù)留間隙d、內(nèi)部水路結(jié)構(gòu)和嵌套位置;
步驟三、主體結(jié)晶器實(shí)現(xiàn)主體熔鑄任務(wù),獨(dú)立水冷結(jié)晶器實(shí)現(xiàn)去除補(bǔ)貼任務(wù),二者結(jié)合完成;
所述獨(dú)立水冷結(jié)晶器水冷結(jié)構(gòu)為內(nèi)渦流式、Z字折返式或常規(guī)的水縫底返式;
通過升降機(jī)構(gòu)下端的螺紋軸帶動(dòng)獨(dú)立水冷結(jié)晶器上端的螺紋孔(13)下探獨(dú)立水冷結(jié)晶器至下結(jié)晶器中e深度,并可借助U型槽(14)及限位螺絲孔(16),用限位螺絲將獨(dú)立水冷結(jié)晶器下探位置鎖死;
所述獨(dú)立水冷結(jié)晶器通過升降機(jī)構(gòu)保障電渣熔鑄過程獨(dú)立水冷結(jié)晶器的一部分安全插入熔渣中。
2.按照權(quán)利要求1所述通過嵌套獨(dú)立水冷結(jié)晶器實(shí)現(xiàn)電渣熔鑄過程去除補(bǔ)貼的控制方法,其特征在于:所述獨(dú)立水冷結(jié)晶器高度為120~300mm。
3.按照權(quán)利要求1所述通過嵌套獨(dú)立水冷結(jié)晶器實(shí)現(xiàn)電渣熔鑄過程去除補(bǔ)貼的控制方法,其特征在于:所述步驟二中預(yù)留間隙d為3-15mm。
4.按照權(quán)利要求1所述通過嵌套獨(dú)立水冷結(jié)晶器實(shí)現(xiàn)電渣熔鑄過程去除補(bǔ)貼的控制方法,其特征在于:所述獨(dú)立水冷結(jié)晶器的個(gè)數(shù)為1-100,每個(gè)獨(dú)立水冷結(jié)晶器配備獨(dú)立閥門與壓力表。
5.按照權(quán)利要求1所述通過嵌套獨(dú)立水冷結(jié)晶器實(shí)現(xiàn)電渣熔鑄過程去除補(bǔ)貼的控制方法,其特征在于:所述獨(dú)立水冷結(jié)晶器水冷結(jié)構(gòu)為內(nèi)渦流式,進(jìn)水管位于獨(dú)立水冷結(jié)晶器底部熱量集中的中間區(qū)域,出水管位于獨(dú)立水冷結(jié)晶器底部低熱量區(qū)域。
6.按照權(quán)利要求1所述通過嵌套獨(dú)立水冷結(jié)晶器實(shí)現(xiàn)電渣熔鑄過程去除補(bǔ)貼的控制方法,其特征在于:所述e深度為30~150mm。
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