[發明專利]一種空間編碼光場對曲面玻璃表面缺陷的檢測方法

有效

• 申請號: 201910328209.3
• 申請日: 2019-04-23
• 公開（公告）號: CN110044927B
• 公開（公告）日: 2020-02-21
• 發明（設計）人: 夏珉;劉念;劉行思;夏楠卿;唐世鎮
• 申請（專利權）人: 華中科技大學
• 主分類號: G01N21/958
• 分類號: G01N21/958;G01N21/01
• 代理公司: 華中科技大學專利中心 42201
• 代理人: 曹葆青;李智

1.一種空間編碼光場對曲面玻璃表面缺陷的檢測方法，其特征在于，包括：

S1:根據選擇的編碼元數目以及第一窗口大小，通過De Bruijn序列方法生成具有窗口特性的一維偽隨機序列；

S2:根據一維偽序列的長度以及周期大小，采用對角線法構建二維偽隨機矩陣M；

S3:判斷M陣列形成的待測樣品的視場是否滿足條件，若滿足，則轉至S4；否則，轉至步驟S1；

S4:根據待測樣品視場的特征點分布確定M'陣列的大??；

S5:通過上下拼接以及對角拼接的方法將M陣列轉換為M'陣列；

S6:通過對各不同編碼元對應不同的幾何圖案，將M'陣列轉換為M'陣列編碼；

S7:將M'陣列編碼轉換為物體表面的編碼圖像，實現對曲面玻璃的缺陷檢測。

2.如權利要求1所述的檢測方法，其特征在于，所述S2包括：

S2.1根據一維偽隨機序列的長度及周期大小，確定二維偽隨機矩陣M的大小m₁×n₁；

S2.2根據一維偽隨機序列，采用對角線法對二維偽隨機矩陣M賦值。

3.如權利要求1或2所述的檢測方法，其特征在于，所述對角線法為：

采用一維偽隨機序列從矩陣M的左上角第一個元素沿對角線方向循環賦值，若到達矩陣M的右邊界，則轉至當前右邊界所在行的下一行左上角第一個元素繼續沿對角線方向賦值；若到達矩陣M的下邊界，則轉至當前下邊界所在列的下一列左上角第一個元素繼續沿對角線方向賦值，直至矩陣M中所有元素賦值完畢。

4.如權利要求1所述的檢測方法，其特征在于，所述S5包括：

S5.1根據M陣列以及第二窗口大小，將M'陣列分為C'區矩陣、A區矩陣以及B區矩陣；

其中，所述M'陣列的大小m₂×n₂；所述M陣列的大小為m₁×n₁；n₁＞n₂；第二窗口大小為f₁×f₂；所述C'區矩陣大小為m₁×n₂，為M'陣列中的前m₁行矩陣，所述A區矩陣大小為(m₂-m₁)×f₂，為M'陣列中的后m₂-m₁行且前f₂列構成的矩陣；所述B區矩陣大小為(m₂-m₁)×(n₂-f₂)，為M'陣列中的后m₂-m₁行且后n₂-f₂列構成的矩陣；

S5.2通過分割M陣列，獲取C'區矩陣；

S5.3采用上下拼接的方式將A區矩陣拼接至C'區矩陣；

S5.4根據A區矩陣和C'區矩陣，采用對角拼接的方式將B區矩陣拼接，完成M'陣列的構建。