[發明專利]一種核殼結構復合微球孔隙三維結構核殼區分表征的方法

有效

• 申請號: 201910318848.1
• 申請日: 2019-04-19
• 公開（公告）號: CN110310296B
• 公開（公告）日: 2022-11-18
• 發明（設計）人: 牛韻雅;李娜
• 申請（專利權）人: 武漢理工大學
• 主分類號: G06T7/136
• 分類號: G06T7/136
• 代理公司: 湖北武漢永嘉專利代理有限公司 42102
• 代理人: 喬宇

1.一種核殼結構復合微球孔隙三維結構核殼區分表征的方法，其特征在于，該方法包括以下步驟：

S1、對核殼結構復合微球進行整體的CT掃描，得到其斷層掃描圖像；

S2、對所有的斷層掃描圖像按灰度值不同進行閾值分割；

S3、對閾值分割后的斷層掃描圖像，提取殼層物質所有像素點，生成第一圖像層集合；

S4、對閾值分割后的斷層掃描圖像，提取殼層和核層物質的所有像素點，生成第二圖像層集合；

S5、對第一圖像層集合的所有圖像按像素進行最近鄰插值的運算，用最近鄰插值法計算得到的第三圖像層集合，即為殼層，第三圖像層集合的體積V1即為殼體積的近似值；

S6、對空間矩陣內所有圖像，用矩陣的減運算，設第三圖像層集合像素點的灰度值為g(x，y)，第一圖像層集合像素點的灰度值為f(x，y)，步驟S5中被填充區域的圖像層記作第四圖像層集合，第四圖像層集合像素點的灰度值為：h(x，y)＝g(x，y)-f(x，y)；

S7、用第四圖像層集合像素點減去第二圖像層集合像素點，去除第四圖像層集合像素點中核物質的部分，得到第五圖像層集合，即為殼層中的孔隙，其體積記為V2；

S8、計算得到殼層孔隙率Q1，Q1＝V2/V1。

2.根據權利要求1所述的核殼結構復合微球孔隙三維結構核殼區分表征的方法，其特征在于，該方法還包括計算核層孔隙率的方法，具體為：

S9、用第二圖像層集合像素點減去第三圖像層集合像素點，并做最近鄰插值的運算，得到第六圖像層集合，即為核層，其體積V3為核體積的近似值；

S10、第六圖像層集合像素點減去第二圖像層集合像素點得到被填充區域的圖像層，記作第七圖像層集合，此時第七圖像層集合是核層中的孔和核層中殼層物質疊加的結果；

S11、第七圖像層集合像素點減去第一圖像層集合像素點，去除第七圖像層集合中殼物質的部分，得到第八圖像層集合，即為核層中的孔隙，其體積記為V3；

S12、計算得到核層孔隙率Q3，Q3＝V3/V1。

3.根據權利要求2所述的核殼結構復合微球孔隙三維結構核殼區分表征的方法，其特征在于，該方法還包括進行三維結構表征的方法：

S13、根據計算得到的殼層孔隙率和核層孔隙率，將得到的第八圖像層集合像素點矩陣坐標導入三維建模軟件，得到核層孔隙、殼層孔隙和核殼結構復合微球孔隙的三維結構表征。

4.根據權利要求1所述的核殼結構復合微球孔隙三維結構核殼區分表征的方法，其特征在于，步驟S5的具體方法為：

設i+u,j+v為待求象素坐標，則待求象素灰度的值為f(i+u,j+v)，i,j為正整數，u、v為大于零小于1的小數；設4個像素區域分別為：左上角為A區、右上角為B區、左下角為C區和右下角為D區，如果(i+u,j+v)落在A區，即u<0.5,v<0.5，則將左上角象素的灰度值賦給待求象素，同理，落在B區則賦予右上角的象素灰度值，落在C區則賦予左下角象素的灰度值，落在D區則賦予右下角象素的灰度值。