[發明專利]涂層面密度檢測裝置和方法

有效

• 申請號: 201910317803.2
• 申請日: 2019-04-19
• 公開（公告）號: CN111103213B
• 公開（公告）日: 2022-07-29
• 發明（設計）人: 熊文登;金鵬
• 申請（專利權）人: 寧德時代新能源科技股份有限公司
• 主分類號: G01N9/24
• 分類號: G01N9/24;G01B17/02
• 代理公司: 北京東方億思知識產權代理有限責任公司 11258
• 代理人: 娜拉

1.一種涂層面密度檢測裝置，其特征在于，所述裝置包括：

厚度檢測模塊，用于檢測待測多層涂層的總厚度；

面密度檢測模塊，用于檢測所述待測多層涂層的總面密度；

檢測控制模塊，用于基于所述總厚度和所述總面密度計算所述待測多層涂層中每層涂層的面密度；

所述檢測控制模塊用于基于所述總厚度、所述總面密度以及預先獲取的每層涂層的體積密度，計算每層涂層的面密度；

若所述待測多層涂層包括兩層涂層；其中，

所述檢測控制模塊用于基于以下表達式計算所述兩層涂層中的第一涂層的面密度m₁：

m₁＝(h-m/ρ₂)×ρ₁ρ₂/(ρ₂-ρ₁)

所述檢測控制模塊用于基于以下表達式計算所述兩層涂層中的第二涂層的面密度m₂：

m₂＝(m/ρ₁-h)×ρ₁ρ₂/(ρ₂-ρ₁)

其中，h為所述總厚度，m為所述總面密度，ρ₁為所述第一涂層的體積密度，ρ₂為所述第二涂層的體積密度。

2.根據權利要求1所述的裝置，其特征在于，所述裝置還包括調節量計算模塊，用于對于每層涂層，基于該涂層的多個面密度計算該涂層的平均面密度，并基于該涂層的平均面密度計算該涂層對應的流量調節組件的流量參數的調節量，以調節該涂層對應的漿料流量。

3.根據權利要求2所述的裝置，其特征在于，所述調節量計算模塊具體用于對于每層涂層，若該涂層的平均面密度滿足該涂層對應的預設調節條件，則該涂層對應的流量調節組件的流量參數的調節量為零，若該平均面密度不滿足所述預設調節條件，則基于該涂層對應的預設面密度以及該平均面密度計算該調節量。

4.根據權利要求2所述的裝置，其特征在于，所述裝置還包括流量調節模塊，用于對于每層涂層，基于該涂層對應的流量調節組件的流量參數的調節量調節該流量參數，以調節該涂層對應的漿料流量。

5.根據權利要求4所述的裝置，其特征在于，所述流量調節模塊包括：

分段調節子模塊，用于對于每層涂層，若該涂層的調節量位于預設流量參數區間，則基于該涂層對應的流量調節組件的流量參數的調節量分段調節該流量參數。

6.根據權利要求5所述的裝置，其特征在于，若流量調節組件為螺桿泵，流量參數為所述螺桿泵的泵速，所述預設流量參數區間的第一端點為0.8轉每秒，所述預設流量參數區間的第二端點為1.5轉每秒。

7.根據權利要求2所述的裝置，其特征在于，所述流量調節組件為螺桿泵或回流閥；其中，

若所述流量調節組件為所述螺桿泵，則所述流量參數為所述螺桿泵的泵速；

若所述流量調節組件為所述回流閥，則所述流量參數為所述回流閥的開度。

8.根據權利要求2所述的裝置，其特征在于，對于每個涂層，該涂層的多個面密度包括該涂層沿第一方向的多個位置處的面密度和該涂層沿第二方向的多個位置處的面密度。

9.根據權利要求8所述的裝置，其特征在于，所述第一方向與所述第二方向垂直。

10.一種涂層面密度檢測方法，其特征在于，所述方法包括：

獲取待測多層涂層的總厚度和所述待測多層涂層的總面密度；

基于所述總厚度和所述總面密度計算所述待測多層涂層中每層涂層的面密度；

所述基于所述總厚度和所述總面密度計算所述待測多層涂層中每層涂層的面密度，包括：

基于所述總厚度、所述總面密度以及預先獲取的所述每層涂層的體積密度，計算所述每層涂層的面密度；

若所述待測多層涂層包括兩層涂層；其中，

利用以下表達式來計算所述兩層涂層中的第一涂層的面密度m₁：

m₁＝(h-m/ρ₂)×ρ₁ρ₂/(ρ₂-ρ₁)

利用以下表達式來計算所述兩層涂層中的第二涂層的面密度m₂：

m₂＝(m/ρ₁-h)×ρ₁ρ₂/(ρ₂-ρ₁)

其中，h為所述總厚度，m為所述總面密度，ρ₁為所述第一涂層的體積密度，ρ₂為所述第二涂層的體積密度。