[發明專利]一種金屬構件腐蝕情況的紅外檢測方法有效
| 申請號: | 201910316762.5 | 申請日: | 2019-04-19 |
| 公開(公告)號: | CN110057745B | 公開(公告)日: | 2020-07-10 |
| 發明(設計)人: | 朱彬;張天寅;賈若愚;王凱;劉勇;張宜生;王梁;唐銘基 | 申請(專利權)人: | 華中科技大學 |
| 主分類號: | G01N17/00 | 分類號: | G01N17/00 |
| 代理公司: | 華中科技大學專利中心 42201 | 代理人: | 曹葆青;李智 |
| 地址: | 430074 湖北*** | 國省代碼: | 湖北;42 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 金屬構件 腐蝕 情況 紅外 檢測 方法 | ||
1.一種金屬構件腐蝕情況的紅外檢測方法,其特征在于,該方法包括如下步驟:
S1獲得金屬構件的紅外圖像并進行濾波去噪處理,然后設定閾值獲得所述紅外圖像的二值化圖像;
S2根據所述二值化圖像中各像素與其相鄰像素的連通性,標記腐蝕區域和未腐蝕區域,并繪制所述腐蝕區域的輪廓;
S3根據所述腐蝕區域的輪廓提取所述二值化圖像中腐蝕區域的掩模,使用該掩模在所述紅外圖像中計算所述腐蝕區域的溫度;
S4將所述腐蝕區域的溫度輸入溫度腐蝕深度轉化模型,獲得所述金屬構件的腐蝕深度,構建所述溫度腐蝕深度轉化模型的過程包括如下子步驟:
S41構建未腐蝕區域的模型:
導熱微分方程:
初始條件:t(x,0)=t0 (4)
邊界條件:
式中,x為金屬構件的在厚度方向的取值,τ為加熱時間,t(x,τ)為x處τ時刻的溫度,a2為未腐蝕層的熱擴散率,t0為環境溫度也即金屬構件的初始溫度,h為金屬構件的表面傳熱系數,tf為加熱溫度,λ2為未腐蝕層的金屬熱導率,δ為金屬構件的厚度,t(0,τ)為金屬構件表面τ時刻的溫度,t(δ,τ)為金屬構件δ厚度處τ時刻的溫度;
通過分離變量法或格林函數法可解出此偏微分方程為:
式中,Ak為傅里葉展開的第k個系數,βk為第k個特征值;
由特征方程可解出特征值βk,并且0β1β2β3…βk;根據初始條件,利用傅里葉展開求得系數Ak;
t(0,τ)為未腐蝕區域表面溫度,記為Tb,可將未腐蝕區域的溫度Tb表示為:
S42構建腐蝕深度為Dep的腐蝕區域的模型:
導熱微分方程:
初始條件:ti(x,0)=t0(i=1,2) (10)
邊界條件:
(t1-t2)|x=Dep=0 (13)
式中,x為金屬構件的在厚度方向的取值,τ為加熱時間,i=1時表示腐蝕層,i=2時表示未腐蝕層,ai表示第i層的熱擴散率,λi表示第i層的金屬熱導率,ti(x,τ)為第i層x處τ時刻的溫度,ti(x,0)為第i層x處的初始溫度,tf為加熱溫度,t1(0,τ)為腐蝕層表面τ時刻的溫度,t2(δ,τ)為未腐蝕層金屬構件δ厚度τ時刻的溫度,t0為環境溫度也即金屬構件的初始溫度,h為金屬構件的表面傳熱系數,t1為腐蝕層的溫度,t2為未腐蝕層的溫度,Dep為金屬腐蝕層深度;
通過擴展的分離變量法可解出此微分方程為:
式中,t1(x,τ)為腐蝕層x處τ時刻的溫度,t2(x,τ)為未腐蝕層x處τ時刻的溫度,Bk為傅里葉展開的第k個系數,Ck為傅里葉展開的第k個系數,γk為第k個特征值,μk為第k個特征值;
由特征方程組(16),可解出特征值γk和μk,并且0γ1γ2γ3…γk、0μ1μ2μ3…μk,其中γk和μk均為關于腐蝕深度Dep的函數:
根據初始條件,利用傅里葉展開(Fourier級數)求得各項系數Bk和Ck;
t1(0,τ)腐蝕區域表面溫度,記為T1,可將腐蝕區域的溫度T1表示為:
S43根據公式(8)和公式(17)獲得關于腐蝕深度Dep的隱式函數為:
可將腐蝕深度Dep簡記為Dep=f3(ai,t0,tf,λi,τ,Tb,T1),根據紅外檢測的條件,輸入腐蝕區域的溫度T1和未腐蝕區域的溫度Tb,即可計算出腐蝕深度Dep。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于華中科技大學,未經華中科技大學許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201910316762.5/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。





