[發(fā)明專利]吸光度變化率確定方法和裝置、分析儀器和存儲介質(zhì)在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201910313961.0 | 申請日: | 2019-04-18 |
| 公開(公告)號: | CN110082345A | 公開(公告)日: | 2019-08-02 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 吳小虎 | 申請(專利權(quán))人: | 邁克醫(yī)療電子有限公司 |
| 主分類號: | G01N21/78 | 分類號: | G01N21/78;G01N21/31;G01N33/53 |
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| 地址: | 611731 四川*** | 國省代碼: | 四川;51 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 吸光度變化率 數(shù)據(jù)段 方法和裝置 吸光度數(shù)據(jù) 存儲介質(zhì) 待測樣本 分析儀器 目標反應(yīng) 時間連續(xù) 線性擬合 時間段 抗原 抗體 過量 | ||
1.一種吸光度變化率確定方法,其特征在于,包括:
將待測樣本在目標反應(yīng)時間段內(nèi)的吸光度數(shù)據(jù)拆分為基于反應(yīng)時間連續(xù)的n個數(shù)據(jù)段;
對各所述數(shù)據(jù)段中的吸光度數(shù)據(jù)進行線性擬合,得到n個斜率,n個所述斜率與n個所述數(shù)據(jù)段一一對應(yīng);
根據(jù)n個所述斜率確定所述待測樣本的吸光度變化率。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述n個數(shù)據(jù)段的相鄰兩個數(shù)據(jù)段中的吸光度數(shù)據(jù)存在交叉部分,所述交叉部分涉及一個或者多個所述吸光度數(shù)據(jù)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述n個數(shù)據(jù)段中:
第1個數(shù)據(jù)段中的第1個數(shù)據(jù)為所述目標反應(yīng)時間段的起始時刻指示的吸光度數(shù)據(jù);
第i個數(shù)據(jù)段中的第1個數(shù)據(jù)為自所述起始時刻向后的第i-1個時刻指示的吸光度數(shù)據(jù);
第i個數(shù)據(jù)段中的第j個數(shù)據(jù)為自所述起始時刻向后的第[(i-1)+(j-1)]個時刻指示的吸光度數(shù)據(jù),i≥1,j≥1。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述吸光度數(shù)據(jù)由所述待測樣本的透射光信號曲線確定;
所述目標時間段的起始時刻為所述透射光信號曲線的斜率降低至第一預(yù)定斜率的時刻;和/或,
所述目標時間段的結(jié)束時刻為所述透射光信號曲線的斜率自降低至第二預(yù)定斜率的時刻,所述第二預(yù)定斜率小于所述第一預(yù)定斜率。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述吸光度變化率為n個所述斜率中的最大值,或者n個所述斜率中數(shù)值較大的前k個所述斜率的平均值,k≥1。
6.一種吸光度變化率確定裝置,其特征在于,包括:
數(shù)據(jù)拆分模塊,用于將待測樣本在目標反應(yīng)時間段內(nèi)的吸光度數(shù)據(jù)拆分為基于反應(yīng)時間連續(xù)的n個數(shù)據(jù)段;
線性擬合模塊,用于對各所述數(shù)據(jù)段中的吸光度數(shù)據(jù)進行線性擬合,得到n個斜率,n個所述斜率與n個所述數(shù)據(jù)段一一對應(yīng);
吸光度變化率確定模塊,用于根據(jù)n個所述斜率確定所述待測樣本的吸光度變化率。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的裝置,其特征在于,
所述n個數(shù)據(jù)段的相鄰兩個數(shù)據(jù)段中的吸光度數(shù)據(jù)存在交叉部分,所述交叉部分涉及一個或者多個所述吸光度數(shù)據(jù);
或者,所述n個數(shù)據(jù)段中:
第1個數(shù)據(jù)段的第1個數(shù)據(jù)為所述目標反應(yīng)時間段的起始時刻指示的吸光度數(shù)據(jù);
第i個數(shù)據(jù)段的第1個數(shù)據(jù)為自所述起始時刻向后的第i-1個時刻指示的吸光度數(shù)據(jù);
第i個數(shù)據(jù)段的第j個數(shù)據(jù)為自所述起始時刻向后的第[(i-1)+(j-1)]個時刻指示的吸光度數(shù)據(jù),i≥1,j≥1。
8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的裝置,其特征在于,所述吸光度數(shù)據(jù)由所述待測樣本的透射光信號曲線確定;
所述目標時間段的起始時刻為所述透射光信號曲線的斜率降低至第一預(yù)定斜率的時刻;和/或,
所述目標時間段的結(jié)束時刻為所述透射光信號曲線的斜率自降低至第二預(yù)定斜率的時刻,所述第二預(yù)定斜率小于所述第一預(yù)定斜率,所述第二預(yù)定斜率小于所述第一預(yù)定斜率。
9.根據(jù)權(quán)利要求6所述的裝置,其特征在于,所述吸光度變化率為n個所述斜率中的最大值,或者n個所述斜率中數(shù)值較大的前k個所述斜率的平均值,k≥1。
10.一種分析儀器,其特征在于,包括如權(quán)利要求6-10任一項所述的吸光度變化率確定裝置。
11.一種計算機可讀存儲介質(zhì),其上存儲有程序,其特征在于,所述程序被處理器執(zhí)行時實現(xiàn)如權(quán)利要求1-5任意一項所述的吸光度變化率確定方法。
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G01N 借助于測定材料的化學或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
G01N21-01 .便于進行光學測試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學反應(yīng)的系統(tǒng),測試反應(yīng)的進行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)
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